一种基于空间延迟线的时间抖动补偿装置及方法

    公开(公告)号:CN104935308A

    公开(公告)日:2015-09-23

    申请号:CN201510381404.4

    申请日:2015-07-02

    Abstract: 本发明公开了一种基于空间延迟线的时间抖动补偿装置,该装置包括第一脉冲输入接口;第二脉冲输入接口;时间抖动延迟测量仪,基于第一脉冲和第二脉冲,对时间抖动延迟进行测量,获得时间抖动延迟的测量值,同时,将第一脉冲和第二脉冲输出;运动控制器,基于时间抖动延迟的测量值,控制一维平移台沿时间抖动延迟测量仪的垂直方向做往复运动;一维平移台,基于运动控制器的调整信号,调整第一脉冲或第二脉冲,使其与第二脉冲或第一脉冲时间同步。本发明所述技术方案能够实现对高精度时间同步领域中高分辨力时间抖动延迟的补偿,补偿分辨力最小可达1ps,具备分辨力高的特点。

    基于光学相干背散射效应的原子气体浓度检测装置及方法

    公开(公告)号:CN103528994A

    公开(公告)日:2014-01-22

    申请号:CN201310476184.4

    申请日:2013-10-12

    Abstract: 本发明公开了一种基于光学相干背散射效应的原子气体浓度检测装置及方法,该原子气体浓度检测装置包括准直激光器(1)、格兰泰勒棱镜(2)、反射镜(3)、消偏振分光棱镜(4)、样品台(5)、傅里叶透镜(6)、检偏器(7)、探测器(8)和计算机(9);准直激光器(1)、格兰泰勒棱镜(2)和反射镜(3)沿横向方向依次设置于同一条直线上;反射镜(3)和消偏振分光棱镜(4)沿纵向方向设置于同一条直线上;样品台(5)设置于消偏振分光棱镜(4)的一侧,在消偏振分光棱镜(4)的另一侧依次设置傅里叶透镜(6)、检偏器(7)和探测器(8);探测器(8)通过数据线与计算机(9)电连接;探测器(8)设置于傅里叶透镜(6)的焦面上。所述原子气体浓度检测装置及方法能够实现原子气体封闭汽室内的原子浓度的无损检测。

    一种VCSEL的多参数测试装置及方法

    公开(公告)号:CN104297598B

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201410558638.7

    申请日:2014-10-20

    Abstract: 本发明公开一种VCSEL的多参数测试装置及方法,该装置及方法包括:可调电流源给VCSEL供电、准直透镜接收VCSEL的发散激光并输出平行光束、消偏振分光镜接收平行光束并分别输出第一和第二光束、聚焦透镜将第一光束聚焦为聚焦光束、光纤探头接收聚焦光束并输出测试信号至光纤光谱仪测量光谱参数、偏振分光镜将第二光束分光,分别输出水平线偏振光束和垂直线偏振光束至第一、第二光电探测器并分别测量光强,分别记录以上两个光强首次不为零时可调电流源的电流为水平和垂直偏振模式的阈值。本发明所述技术方案,解决了对VCSEL的多参数高效测试的问题,可同时测量VCSEL的光谱参数、水平偏振模式的阈值和垂直偏振模式的阈值。

    基于非线性相关探测的时间抖动延迟测量装置及方法

    公开(公告)号:CN105021294A

    公开(公告)日:2015-11-04

    申请号:CN201510378389.8

    申请日:2015-07-01

    Abstract: 本发明公开了一种基于非线性晶体相关探测的高分辨力时间抖动延迟测量装置及方法,该装置包括第一待测脉冲输入接口;第二待测脉冲输入接口;依次设置在第一脉冲传播路径上的时间延迟线和非线性倍频晶体;设置在第二脉冲传播路径上的非线性倍频晶体;非线性倍频晶体基于第一待测脉冲和延时的第二带车脉冲产生倍频相关脉冲;用于采集倍频相关脉冲的光电探头。本发明所述技术方案能够实现对高精度时间同步领域中高分辨力时间抖动延迟测量,测量精度可达1ps,具备分辨力高、结构简单的特点。

    一种用于CPT原子钟的正交锁相放大系统

    公开(公告)号:CN204168278U

    公开(公告)日:2015-02-18

    申请号:CN201420472193.6

    申请日:2014-08-20

    Abstract: 本实用新型公开了一种用于CPT原子钟的正交锁相放大系统,该系统包括正弦波锁相放大单元,用于对待测信号进行正弦波锁相放大;和方波锁相放大单元,用于对待测信号进行方波信号锁相放大。本实用新型所述技术方案采用基于FPGA的正交锁相放大系统,此方案可同时完成方波与正弦波的锁相;本实用新型采用正交手段,锁相精度可以达到0.05弧度的精度,提高CPT原子钟的频标精度;本实用新型的硬件资源利用率低,可满足小型化与低功耗的要求;全部设计在数字域实现,利用在线分析技术方便电路调试。

Patent Agency Ranking