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公开(公告)号：CN114336226B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202111430716.1
申请日：2021-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H01S1/02
Abstract: 本申请公开了一种基于平衡探测噪声抑制的光电振荡器和方法，激光器输出光经电光调制器进行幅度调制后，生成调制光信号；使用光纤环路将所述调制光信号分为两路，其一路经过长环储能输出至第一端口，其另一路经过短环储能输出至第二端口；将第一端口和第二端口的光信号经平衡检测生成差分电信号，经滤波器选频后，作为所述电光调制器的调制信号。本申请解决光电振荡器起振不稳、近载频相位噪声较差的问题。
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公开(公告)号：CN114325009B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202111432911.8
申请日：2021-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种绝对相位噪声标准产生方法，包括以下步骤：低相噪光频梳通过光学锁频方式锁定在高稳光源上；使用EDFA对低相噪光频梳输出光进行放大；提取低相噪光频梳的高频谐波序列，经光电变频生成微波载频信号；调整EDFA增益，改变电信号噪声边带的动态范围；对所述微波载频信号进行放大，生成绝对相位噪声标准信号。本申请还包含实现所述方法的绝对相位噪声标准产生装置。本申请克服宽带噪声源的平坦度差和低相噪载波源的相位噪声的问题。
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公开(公告)号：CN116260525A
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN202211648777.X
申请日：2022-12-21
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H04B10/69 , H04B10/079
Abstract: 本发明实施例公开一种基于低相噪晶振自相关技术的噪声校准装置及方法。该装置包括窄线宽激光器，用于产生激光；电光调制器，用于以低相噪晶振为调制频率对所述激光进行强度调制，获得调制光信号；光纤耦合器，用于将所述调制光信号分成两路，获得第一路调制光信号和第二路调制光信号；第一光电转换器，用于将所述第一路调制光信号进行光电转换，获得第一路射频信号；第二光电转换器，用于将所述第二路调制光信号进行光电转换，获得第二路射频信号；数字化相位噪声测试仪，用于采集所述第一路射频信号和所述第二路射频信号后，利用共源自相关法获得待测的噪声。该装置无需延迟线，避免了灵敏度下降和傅氏频偏盲区的问题。
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公开(公告)号：CN114384338A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111672306.8
申请日：2021-12-31
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本申请公开了一种毫米波的定标非线性因子测量方法及装置，在如下过程中进行非线性因子测量：毫米波绝对相位噪声标准与信号发生器通过双平衡混频器进行混频下变频，混频后的信号通过低通滤波器后得到差频信号，差频信号送入FFT分析仪进行幅度分析；包括：根据载波功率和噪声功率获取非线性因子KNL，KNL为噪声及载波功率测量中功率差引起下变频及FFT分析时的非线性增益变化；根据差拍功率、毫米波相位噪声标准载波频率v0以及基带频率f获取下变频频率响应因子KRF；根据测量非线性因子KNL和下变频频率响应因子KRF修订基带定标值。通过本申请解决了现有技术中高精度基带定标中的非线性因子测量修正的问题，从而可以用来修正基带定标值，提高基带定标精度。
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公开(公告)号：CN105552706B
公开(公告)日：2019-03-19
申请号：CN201510955523.6
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种短期频率稳定度标准的生成装置，包括：激光谐振环路和信号输出环路，其中，激光谐振环路包括：激光器、谐振腔以及锁频环路，激光器的输出端与谐振腔连接，谐振腔与锁频环路连接，锁频环路与激光器连接，形成激光谐振环路；激光器用于输出激光，锁频环路将激光稳频锁定在谐振腔的模式上，得到设定线宽的激光，设定线宽的激光经过信号输出环路的处理后，输出微波信号。通过本发明实施例中的短期频率稳定度标准的生成装置可以解决激光器的噪声影响，采用光子滤波器可以大幅抑制边模，改善起振的稳定性，不仅频率稳定度要优于传统的高稳晶振两个数量级以上，可以在计量上满足三倍的量传关系，而且其频率很高可以直接作为射频时基。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106501742A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610862693.4
申请日：2016-09-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
CPC classification number: G01R35/007 , G01R1/28
Abstract: 本发明公开一种基于光电融合技术的微波毫米波相位噪声标准装置，包括：基带信号发生器，输出频率细分辨信号；噪声调制器，对频率细分辨信号进行噪声调制，噪声调制后生成基带相位噪声标准；基于光梳的谐波产生器，输出多个谐波信号；中间频率产生器，根据基带相位噪声标准和多个谐波信号产生中间频率信号；基于OEO点频的本振器，产生本振信号；高频扩展模块，根据中间频率信号和本振信号生成高频微波毫米波的相位噪声标准；低频扩展模块，根据中间频率信号和本振信号生成低频微波毫米波的相位噪声标准。本发明适用于微波毫米波频率范围内的相位噪声测量系统的校准，可以解决目前微波毫米波相位噪声测量系统无法溯源的问题。
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公开(公告)号：CN105490135A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510958752.3
申请日：2015-12-17
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: H01S1/02
CPC classification number: H01S1/02
Abstract: 本发明公开了一种毫米波频率产生装置，包括毫米波环路，其中包括：激光器、第一电光调制器、第一回音壁谐振腔、第一光电探测器、第一功分器、第一开关滤波器组、第一放大器，第二功分器。激光器用于发射激光，经过毫米波环路的处理后，输出设定频率的毫米波本振信号。与现有技术不同的是，本发明中的毫米波环路基于光梳振荡器的原理产生毫米波，其中的激光器所发出的激光具有极高的频率，远高于现有技术中晶振所产生的频率，从而，在整个环路中并不需要额外的倍频电路对信号进行倍频处理，那么，输出的毫米波本振信号具有良好的低相位噪声，且不会出现恶化。
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公开(公告)号：CN103472427A
公开(公告)日：2013-12-25
申请号：CN201310447213.4
申请日：2013-09-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种基于离散谱序列的相位噪声测量准确度校准装置，该校准装置包括：合成源，至少一组分频器和功分器，待测源，调制器，参考源和相位噪声测量装置，所述合成源的输出信号经分频器和功分器分频，分频后的信号传输至合路器，该合路器对信号进行处理输出离散谱序列，该离散谱序列经所述调制器后传输至相位噪声测量装置，同时该相位噪声测量装置还接收来自待测源的信号，并对所述离散谱序列和待测源的信号进行测量，测量的结果通过相位噪声测量装置的压控输出端经参考源输入至所述调制器。该校准装置可以实现远载频和近载频分析傅氏频率范围0.01Hz～100MHz内的准确度测量，同时提高了测量精度，还可以立即给出测量结果的误差。
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公开(公告)号：CN102435972B
公开(公告)日：2013-09-04
申请号：CN201110335328.5
申请日：2011-10-28
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明涉及一种应用于相位噪声测量系统能力验证的传递装置，该装置包括：第一高稳晶振通过第一选通开关经第一倍频器、第一锁相环路、第一低噪声压控振荡器、第一隔离放大器、第二倍频器、第一梳状谱发生器、第一梳状滤波器、第一功率放大器和第一微波源连接至所述微波检相端口，所述第一隔离放大器还与所述第一锁相环路连接；第二高稳晶振通过第二选通开关经第二倍频器、第二锁相环路、第二低噪声压控振荡器、第二隔离放大器、第四倍频器、第二梳状谱发生器、第二梳状滤波器、第二功率放大器和第二微波源连接至所述微波检相端口，所述第二隔离放大器还与所述第二锁相环路连接。本发明对提高相位噪声测量的验证能力具有重要意义。
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公开(公告)号：CN114325608A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111430564.5
申请日：2021-11-29
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01S7/40
Abstract: 本申请公开了一种光电转换器底部噪声校准方法，包括以下步骤：低相噪光频梳通过光学锁频方式锁定在高稳光源上；提取低相噪光频梳的高频谐波序列，经光电变频生成微波载频信号；用所述低相噪微波频率信号对高稳光源进行强度调制，生成调制输出光；用待测光电转换器对所述调制输出光进行光电转换，恢复微波载频信号；对恢复的载波频率信号的相位噪声进行测量，获得待测光电转换器的底部噪声。本申请还包含实现所述方法的光电转换器底部噪声校准装置。本申请克服了传统校准装置存在的灵敏度低、盲区大的问题。
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