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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111128433B
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN201911377303.4
申请日：2019-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开一种铯钟用玻璃准直器，包括：准直板；第一准直块、第二准直块；第三准直块；固定塞；所述准直板上设置有缺口以及第一沟槽与第二沟槽，所述第一准直块以及第二准直块上分别设置有第三沟槽，所述第一准直块以及所述第二准直块分别设置在所述准直板的两侧，所述第一沟槽上贯穿设置有第一开口，所述第三准直块上设置有包括多个准直通道的打孔区，所述第三准直块容置于所述第一沟槽内，所述固定塞上开有与所述中空结构连通的第二开口，所述固定塞容置于所述容纳槽内。本发明能够提升准直效率以及开口面积比。
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公开(公告)号：CN118243226A
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202311828625.2
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本说明书公开了一种用于镱离子微波频标的荧光探测系统，用于解决由于用于相机成像的镱原子中性荧光与用于光子计数的镱离子荧光波长存在差异，会导致通过光学镜片组后的焦点位置存在偏差的问题。本发明包括：离子阱、光学镜片组、滤光器组、荧光收集器组位于光学筒中；离子阱，用于囚禁微波频标的工作物质镱离子，镱离子能级跃迁时辐射出荧光；光学镜片组，用于接收荧光并对荧光进行汇聚；滤光器组，用于遮挡环境杂散光，使得有用光信号进入荧光收集器组；荧光收集器组，用于收集光学镜片组汇聚的荧光，同时对镱离子进行阱中心定位和镱离子辐射的荧光进行光子计数。本发明中，离子阱内被囚禁的镱离子辐射的荧光信号被相机和光电倍增管同时探测。
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公开(公告)号：CN117989976A
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202311828608.9
申请日：2023-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于三坐标测量的磁选态铯束管精密装配方法，用以实现各零件严格按照束光学位置排列，同时大幅提高磁选态铯束管装配的精确度和稳定度，提高铯束管的信号强度。所述方法，包括：通过打点测量导轨三个正交的平面，建立导轨初始坐标系；根据导轨内直线的特征直线、导轨初始坐标系，确定导轨坐标系；打点测量得到导轨底面的特征平面，确定为各部件高度的基准面；根据U型谐振腔、偏转磁铁、准直器、离化器的实际位置与束光学理论位置的偏差，调节各零部件的高度、角度，使各零部件按束光学路径精密排列。
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公开(公告)号：CN112763826A
公开(公告)日：2021-05-07
申请号：CN202011558296.0
申请日：2020-12-25
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及电子倍增器技术领域，公开一种电子倍增器的测试系统。该电子倍增器的测试系统包括真空腔室、电子测试工位、离子测试工位和可移动靶台，其中，真空腔室用于为测试提供真空环境；电子测试工位设置在所述真空腔室内；离子测试工位设置在所述真空腔室内；可移动靶台设置在所述真空腔室内，用于放置被测电子倍增器，可拖动所述被测电子倍增器在所述电子测试工位与所述离子测试工位之间移动。该电子倍增器的测试系统可在同一真空环境下提供电子源和离子源对被测电子倍增器进行测试，提高了测试效率。本公开实施例还提供了一种电子倍增器的测试方法。
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公开(公告)号：CN212342299U
公开(公告)日：2021-01-12
申请号：CN201922400539.7
申请日：2019-12-27
Applicant: 北京无线电计量测试研究所
Abstract: 本实用新型公开一种铯钟用玻璃准直器，包括：准直板；第一准直块、第二准直块；第三准直块；固定塞；所述准直板上设置有缺口以及第一沟槽与第二沟槽，所述第一准直块以及第二准直块上分别设置有第三沟槽，所述第一准直块以及所述第二准直块分别设置在所述准直板的两侧，所述第一沟槽上贯穿设置有第一开口，所述第三准直块上设置有包括多个准直通道的打孔区，所述第三准直块容置于所述第一沟槽内，所述固定塞上开有与所述中空结构连通的第二开口，所述固定塞容置于所述容纳槽内。本实用新型能够提升准直效率以及开口面积比。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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