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公开(公告)号：CN103698350B
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201310726315.X
申请日：2013-12-26
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种X射线双谱仪，所述双谱仪包括：4千瓦功率X射线管，三维样品移动台，CCD相机，毛细管X光半透镜，半导体X射线探测器和电子学系统I，平面晶体，NaI X射线探测器和电子学系统II，准直狭缝I和准直狭缝II；X射线能谱和波谱共有一个4千瓦大功率X射线管，毛细管X光半透镜固定于半导体X射线探测器和电子学系统I前，毛细管X光半透镜位于样品斜上方并成67.5度的角度对准样品用于收集样品的微区元素所激发出来的元素特征能量的X射线，计算机控制的三维样品移动台移动样品做线扫描或面扫描分析或样品中感兴趣的微区。
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公开(公告)号：CN105092618A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201510593177.1
申请日：2015-09-18
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N23/20
Abstract: 本发明涉及一种微束能量色散的X射线衍射仪，包括：X射线管，多毛细管微汇聚X光透镜，衍射小孔，样品，二维样品台，X射线探测器，探测器支架，电子学系统，计算机和控制系统；其中，所述样品置于二维样品台上；所述X射线管，多毛细管微汇聚X光透镜和衍射小孔位于二维样品台的一侧斜上方，所述X射线管，多毛细管微汇聚X光透镜和衍射小孔位于同一直线上并与二维样品台夹角为30°；所述X射线探测器位于二维样品台的另一侧成一夹角α并安装在探测器支架上；所述X射线探测器依次与电子学系统，计算机电连接；所述控制系统分别与计算机，探测器支架和二维样品台电连接，可以测量小样品或样品微区、探测物相的分布、测量快速、设备体积小并且可以实现样品二维扫描。
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公开(公告)号：CN104316553A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410649766.2
申请日：2014-11-17
IPC: G01N23/223
Abstract: 本发明涉及一种微束X射线荧光谱仪，采用高精度分辨率小于5微米的激光位移传感器探测样品与激光位移传感器的之间的距离，将距离H的信号通过数模转换卡变成数字信号传递给计算机，计算机将信号传递给步进电机控制器，随后步进电机控制器将信号传递给步进电机驱动器，再由步进电机驱动器驱动由4个步进电机电机驱动四维样品台向XYZθ四个方向运动，保持样品被测试点处于毛细管X光透镜的后焦距的位置。
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公开(公告)号：CN101667468B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200910093451.3
申请日：2009-09-21
Applicant: 北京师范大学 , 北京师大科技园科技发展有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种组合式X射线会聚光学器件，用于实现会聚高能X射线，并对低能X射线过滤。所述光学器件为轴对称结构，并且沿轴方向的外形母线为两个二次曲线段的组合；所述光学器件包括多个实心构件，以及通过该多个实心构件会聚发散X射线；所述实心构件由玻璃材料制成，侧壁镀有金属膜；该玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，用于X射线在经过反射面时发生全反射；每个实心构件的两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线。
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公开(公告)号：CN101661807A
公开(公告)日：2010-03-03
申请号：CN200910093450.9
申请日：2009-09-21
Applicant: 北京师范大学 , 北京师大科技园科技发展有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种组合式X射线微会聚光学器件，用于将高能发散X光束转变为发散度为0.5-2度的X光束，并对低能X射线过滤。所述光学器件为轴对称结构，并且沿轴方向的外形母线为二次曲线段和直线段的组合；所述光学器件包括多个实心构件，以及通过该多个实心构件微会聚发散的X射线；所述实心构件由玻璃材料制成，侧壁镀有金属膜；该玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，用于X射线在经过反射面时发生全反射；每个实心构件的两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119835845A
公开(公告)日：2025-04-15
申请号：CN202411909313.9
申请日：2024-12-24
Applicant: 北京师范大学
IPC: H05G1/26
Abstract: 本发明主要涉及X射线管技术领域，提供了一种测量微焦斑X射线管焦点位置的方法，主要包括待测量微焦斑X射线管1、毛细管X光会聚透镜2、高精度五维位移台和计算机控制系统3、气体正比计数管和高压电源4、数字计数器5等，本发明通过控制所述的高精度五维位移台3，调整所述的毛细管X光透镜2在空间的位置和角度，当所述的数字计数器5显示最大计数时，所述的毛细管X光透镜的前焦点的中心位置就是微焦斑X射线管焦点中心位置，而毛细管X光透镜的中心轴的角度就是微焦斑X射线管的X射线出射角度的中心轴线。
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公开(公告)号：CN114609012A
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN202210248464.9
申请日：2022-03-14
Applicant: 北京师范大学
IPC: G01N15/08 , G01N23/083
Abstract: 本发明公开了一种X射线透射法测量陶瓷类样品真气孔率的方法及设备。该方法首先使用X射线透射法测量陶瓷样品的透射光谱，并通过陶瓷样品透射光谱与已知厚度纯Al片透射光谱的比值和陶瓷样品厚度值，间接求出不同能量条件下陶瓷样品平均线衰减系数的测量值；其次依据胎体和瓷釉中所含元素的组成，分别计算其在不同能量条件下对应的理论质量吸收系数和理论密度；然后依据陶瓷样品胎体和瓷釉的厚度、理论质量吸收系数和理论密度，计算陶瓷样品的平均理论线衰减系数；最后通过陶瓷样品线衰减系数测量值和平均理论值在一定能量区间范围的比值得出陶瓷样品真气孔率的分析结果；所有计算过程通过开发的计算软件实现。本发明在测量陶瓷类样品真气孔率时，具有操作简单、测量速度快等显著的优势，且克服了传统方法进行陶瓷样品真气孔率的测量时操作过程复杂，无法直接和重复测量陶瓷真气孔率的问题。
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公开(公告)号：CN101667467B
公开(公告)日：2011-11-02
申请号：CN200910093449.6
申请日：2009-09-21
Applicant: 北京师范大学 , 北京师大科技园科技发展有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种组合式X射线光学器件，用于将高能发散X光束转变为平行X光束，或将高能平行X光束会聚成一点，并对低能X射线过滤。所述光学器件为轴对称结构，并且沿轴方向的外形母线满足二次曲线方程；所述光学器件包括多个实心构件，以及通过该多个实心构件传输X射线；所述实心构件由玻璃材料制成，侧壁镀有金属膜；该玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，用于X射线在经过反射面时发生全反射；每个实心构件的两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线。
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公开(公告)号：CN101615442B
公开(公告)日：2011-11-02
申请号：CN200910089350.9
申请日：2009-07-16
Applicant: 北京师范大学
Abstract: 本发明公开了用于会聚发散X射线的光学器件，用于实现滤除低能X射线，并且会聚发散高能X射线。所述光学器件包括：由玻璃材料制成的实心构件，该实心构件为椭球台；所述实心构件的侧壁镀有金属膜；所述实心构件两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线；所述玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，该反射面用于X射线在所述实心构件中传输到反射面时发生全反射，并在所述另一端外会聚。
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公开(公告)号：CN101667467A
公开(公告)日：2010-03-10
申请号：CN200910093449.6
申请日：2009-09-21
Applicant: 北京师范大学 , 北京师大科技园科技发展有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种组合式X射线光学器件，用于将高能发散X光束转变为平行X光束，或将高能平行X光束会聚成一点，并对低能X射线过滤。所述光学器件为轴对称结构，并且沿轴方向的外形母线满足二次曲线方程；所述光学器件包括多个实心构件，以及通过该多个实心构件传输X射线；所述实心构件由玻璃材料制成，侧壁镀有金属膜；该玻璃材料与金属膜的临界面构成反射面，用于X射线在经过反射面时发生全反射；每个实心构件的两端中的一端用于接收X射线，另一端用于输出X射线。
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