公开(公告)号：CN208172265U

公开(公告)日：2018-11-30

申请号：CN201820904840.4

申请日：2018-06-12

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 孟昭莹 ,  向祝君 ,  潘凯 ,  张爽 ,  朵竹喧 ,  刘志国

IPC: G01T7/00

Abstract: 本实用新型提供了一种半导体低能辐射剂量仪，包括X射线管、X射线半导体探测器，所述半导体低能辐射剂量仪还包括多毛细管透镜；所述X射线管发出X射线后经多毛细管透镜穿过待测物体后被X射线半导体探测器接收。本实用新型的半导体低能辐射剂量仪，可先用低能的X射线管和半导体探测器标定X射线的剂量率，然后根据要求，可用多毛细管会聚透镜进行微区辐照，也可以用多毛细管平行透镜进行区域辐照来测量半导体器件的抗辐照性能。器件的抗辐照性能是一个重要的指标，我们知道了这个信息，就可以将该元件应用到相关适合它的领域，发挥出最大价值，还可以在此基础上对器件进行抗辐射加固。

公开(公告)号：CN208171893U

公开(公告)日：2018-11-30

申请号：CN201820904836.8

申请日：2018-06-12

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 向祝君 ,  孟昭莹 ,  张爽 ,  潘凯 ,  朵竹喧 ,  刘志国

IPC: G01N23/046

Abstract: 本实用新型提供了一种应用于微型CT的成像系统，所述成像系统包括：旋转样品台，该旋转样品台上放置被测物体；微焦斑X射线源，该X射线源用于照射旋转样品台上的被测物体；X射线CCD，其接收从被测物体透射出的X射线并成像。本实用新型主要用于针对小的生物样品(大小一般为10mm见方)、生理切片或者小型半导体器件进行高分辨率断层成像，直至样品内部结构的三维重构。本实用新型提供的应用于微型CT的成像系统通过X射线CCD来成像，可实现实时监测，避免了传统探测器可能造成的噪声和伪影等问题，且成像效果十分理想，提高了探测效率及成像质量。