公开(公告)号：CN114235251A

公开(公告)日：2022-03-25

申请号：CN202111464791.X

申请日：2021-12-03

Applicant: 北京东方计量测试研究所

Inventor： 贾军伟 ,  王青青 ,  柴昊 ,  张书锋 ,  邓星亮 ,  卢从俊 ,  武宇婧

IPC: G01L5/00 ,  G01L1/24

Abstract: 本发明涉及一种真空下等离子推进器推力测量装置，包括支承框架(1)、摆动盘(2)、固定盘(3)、悬丝(4)、托板(5)、推力器(6)、配重(7)以及光学测量组件(8)，所述摆动盘(2)设置在所述托板(5)上，所述固定盘(3)固定在所述支承框架(1)上，所述悬丝(4)两端分别连接所述摆动盘(2)和所述固定盘(3)，且沿圆周方向间隔排列，所述摆动盘(2)和所述固定盘(3)上分别设有环形的悬丝安装部(9)，所述悬丝安装部(9)同心且间隔地设置两个以上。本发明可解决抗干扰、高精度、宽量程的微推力测量问题，且本装置结构简单、可靠。

公开(公告)号：CN118549138B

公开(公告)日：2025-02-25

申请号：CN202410877279.5

申请日：2024-07-02

Applicant: 北京东方计量测试研究所 ,  哈尔滨工业大学

Inventor： 贾军伟 ,  朱悉铭 ,  王青青 ,  郑仁威 ,  门伯龙 ,  武宇婧 ,  康永琦

IPC: G01M15/00 ,  G01L5/00 ,  G01D21/02 ,  H05H1/00 ,  B64G1/40 ,  B64G1/26 ,  F03H1/00

Abstract: 霍尔推进器震荡光电联合监测装置及方法，涉及电推进技术领域。解决了现有电推进羽流推力波动的监测方法存在误差，光谱数据难以采集，计算成本高的问题。所述装置包括：平面、霍尔推进器、二维数据采集装置、探针支架、法拉第探针、RPA探针、推力器羽流和支架；所述霍尔推进器固定在平面上，所述霍尔推进器推进形成推力器羽流，二维数据采集装置通过支架固定在平面上；所述法拉第探针、RPA探针所组成的探针阵列固定在探针支架上。本发明应用于电推力器监测领域。

公开(公告)号：CN118678524A

公开(公告)日：2024-09-20

申请号：CN202410877288.4

申请日：2024-07-02

Applicant: 北京东方计量测试研究所 ,  哈尔滨工业大学

Inventor： 贾军伟 ,  朱悉铭 ,  朱莫凡 ,  王青青 ,  郝剑昆 ,  崔雯旭 ,  康永琦 ,  张文杰

IPC: H05H1/00 ,  G01J5/48 ,  G01K7/02

Abstract: 等离子体推进器远场羽流离子通量监测装置及方法，涉及电推进系统技术领域。解决目前对于羽流轰击离子通量分布的测量手段的不足，严重影响了电推进寿命的评估与应用的问题。装置包括：霍尔推进器、阻滞势分析仪RPA、热电偶、滑动轨道、石英窗口、红外热像仪、太阳能板和真空罐；霍尔推进器、阻滞势分析仪RPA、热电偶、滑动轨道和太阳能板位于真空罐内部；霍尔推进器的羽流方向处设置太阳能板，热电偶一端紧贴太阳能板，热电偶另一端安装在滑动轨道上；太阳能板与霍尔推进器设有阻滞势分析仪RPA；真空罐外部设有红外热像仪，石英窗口固定在真空罐外部，红外热像仪与石英窗口位于同一水平线上。应用于电推进系统寿命评估领域。

公开(公告)号：CN118443162B

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202410923850.2

申请日：2024-07-11

Applicant: 北京东方计量测试研究所 ,  哈尔滨工业大学

Inventor： 贾军伟 ,  朱悉铭 ,  谢亚勋 ,  张韧 ,  宋琦 ,  王青青 ,  康永琦

IPC: G01J5/48 ,  G01J5/60 ,  G01J1/42 ,  G01N25/20

Abstract: 霍尔推力器通道壁面在轨沉积监测方法及装置，涉及航天器设备监测技术领域。为解决现有技术中存在的，现有的实时监测霍尔推力器通道壁面侵蚀的方法，只能间接监测通道壁面的侵蚀情况，无法直接观测到壁面的沉积状态的技术问题，本发明提供的技术方案为：方法包括：采集霍尔推力器通道壁面的图像信息的步骤；得到图像信息中各个预设点的温度的步骤；根据各个预设点的温度，得到霍尔推力器通道壁面的热辐射功率的步骤；采集霍尔推力器通道壁面的热传导功率的步骤；根据霍尔推力器通道壁面的热辐射功率和热传导功率，得到霍尔推力器通道壁面因沉积获得的热量的功率的步骤。可以应用于监测霍尔推力器通道壁面的沉积状态。

公开(公告)号：CN116222824A

公开(公告)日：2023-06-06

申请号：CN202310271436.3

申请日：2023-03-20

Applicant: 北京东方计量测试研究所 ,  中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所

Inventor： 贾军伟 ,  褚卫华 ,  武宇婧 ,  顾正华 ,  李耀 ,  杨兆欣 ,  王青青 ,  董学江 ,  李京

IPC: G01K15/00

Abstract: 本发明涉及一种高精度低温温度传感器校准装置及校准方法，所述装置包括：氦气瓶(1)、水冷机组(2)、GM制冷机(3)、恒温校准舱系统(4)和控制机柜(5)，氦气瓶(1)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)的温度场均匀性；水冷机组(2)和GM制冷机(3)连接，为GM制冷机(3)提供冷量；GM制冷机(3)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)内的温度；控制机柜(5)和恒温校准舱系统(4)连接，控制恒温校准舱系统(4)内的温度和压力参数；恒温校准舱系统(4)由上舱体和下舱体两部分组成。本发明的静态有效温度场均匀性可达10mK，并能同时校准多个不同规格的温度传感器。