公开(公告)号：CN102650536B

公开(公告)日：2015-08-19

申请号：CN201210043088.6

申请日：2012-02-23

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 堀口春彦 ,  名仓千裕

IPC: G01D5/347

CPC classification number: G01D5/34746 ,  G01D5/34715

Abstract: 本发明涉及光学编码器。所述光学编码器包括：光源；被光源照射并在一个轨迹中具有细节距图案和粗节距图案的标尺；检测从光源发射的来自标尺的透射光或反射光的光电检测器阵列；包含从光电检测器阵列产生位置检测信号的第一初级放大器单元的信号处理单元；以及使用来自第一初级放大器单元的输出信号来控制光源的光量变化的控制单元。所述光学编码器能够以高分辨率检测模式和低分辨率检测模式操作，所述高分辨率检测模式以第一节距形成光电检测器阵列来检测细节距图案，所述低分辨率检测模式以第二节距形成光电检测器阵列来检测粗节距图案。

公开(公告)号：CN102650536A

公开(公告)日：2012-08-29

申请号：CN201210043088.6

申请日：2012-02-23

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 堀口春彦 ,  名仓千裕

IPC: G01D5/347

CPC classification number: G01D5/34746 ,  G01D5/34715

Abstract: 本发明涉及光学编码器。所述光学编码器包括：光源；被光源照射并在一个轨迹中具有细节距图案和粗节距图案的标尺；检测从光源发射的来自标尺的透射光或反射光的光电检测器阵列；包含从光电检测器阵列产生位置检测信号的第一初级放大器单元的信号处理单元；以及使用来自第一初级放大器单元的输出信号来控制光源的光量变化的控制单元。所述光学编码器能够以高分辨率检测模式和低分辨率检测模式操作，所述高分辨率检测模式以第一节距形成光电检测器阵列来检测细节距图案，所述低分辨率检测模式以第二节距形成光电检测器阵列来检测粗节距图案。