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公开(公告)号：CN108689152A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810293718.2
申请日：2018-03-30
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: B65G47/90 , H01M10/0587 , H01M10/0525 , G01N27/00
CPC classification number: B25J15/0052 , B25J15/0047 , B25J15/0253 , B25J18/00 , G01N23/04 , Y10S901/31 , B65G47/90 , G01N27/00 , H01M10/0525 , H01M10/0587
Abstract: 本发明提供一种机器人手臂及搬运系统，机器人手臂(3)具备第一把持部(352)及第二把持部(353)，该第一把持部(352)及第二把持部(353)对将隔膜卷绕于筒状的芯部的外周面而成的隔膜卷绕体(10)进行保持，所述隔膜用于锂离子二次电池。
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公开(公告)号：CN108132262A
公开(公告)日：2018-06-08
申请号：CN201711232881.X
申请日：2017-11-29
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N23/04 , G01N21/892 , G01N21/17 , B65H26/02
CPC classification number: H01M2/145 , B65H18/28 , B65H21/00 , B65H26/00 , B65H2301/542 , B65H2515/84 , B65H2553/40 , G01N23/04 , G01N2223/3306 , G01N2223/646 , H01M10/0525 , B65H26/02 , B65H2553/22 , G01N21/17 , G01N21/892 , G01N2021/1765 , G01N2223/03 , G01N2223/1013 , G01N2223/1016 , G01N2223/3303 , G01N2223/3307 , G01N2223/652
Abstract: 本发明提供缺陷检查装置、缺陷检查方法及隔膜卷绕体的制造方法。本发明能够实现大范围且准确的缺陷检查。缺陷检查装置(1)具有：射线源部(2)，其对隔膜卷绕体(10)照射电磁波(4)；以及传感器部(3)，其对从射线源部(2)照射到隔膜卷绕体(10)的电磁波(4)进行检测，传感器部(3)在隔膜卷绕体(10)进行相对移动的前后针对隔膜卷绕体(10)来检测电磁波(4)。
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公开(公告)号：CN107076679A
公开(公告)日：2017-08-18
申请号：CN201580056172.3
申请日：2015-09-18
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892
CPC classification number: H01M2/145 , B26D1/035 , B26D7/14 , B26D7/2614 , B65H16/10 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2557/62 , G01N21/892 , G01N21/894 , G03B1/04 , G03B1/42 , G03B1/56 , G03B17/00 , G03B17/30 , G03B17/425 , G03B21/00 , G03B21/328 , G03B2217/243 , H01M2/1653 , H01M2/166 , H01M2/1686 , H01M10/0525
Abstract: 膜制造方法包括：缺陷信息取得工序，取得隔膜(12a)的缺陷(D)的位置信息；以及缺陷标记施加工序，在缺陷(D)的周围的多个部位施加表示缺陷(D)的位置的标记(LA、LB)。
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公开(公告)号：CN106796182A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201580054771.1
申请日：2015-09-18
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892
CPC classification number: H01M2/145 , B26D1/035 , B26D7/14 , B26D7/2614 , B65H16/10 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2557/62 , G01N21/892 , G01N21/894 , G03B1/04 , G03B1/42 , G03B1/56 , G03B17/00 , G03B17/30 , G03B17/425 , G03B21/00 , G03B21/328 , G03B2217/243 , H01M2/1653 , H01M2/166 , H01M2/1686 , H01M10/0525
Abstract: 隔膜的制造方法包含：卷绕工序，将检测出缺陷(D)的隔膜(12a、12b)卷绕于芯(81、53)；以及第一缺陷码施加工序，将包括缺陷(D)在隔膜(12a、12b)的长度方向上的位置信息的缺陷码(DC2)形成在卷绕于芯(81、53)的隔膜(12a、12b)的最外周部(86、86b)、或供隔膜(12a、12b)卷绕的芯(81、53)。
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公开(公告)号：CN105474002A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201480045693.4
申请日：2014-08-05
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892 , G01N21/88 , G01N21/896 , G02B5/30 , G02F1/13 , G02F1/1335
CPC classification number: G01N21/896 , G01N21/8901 , G02F1/1303 , G02F1/1309 , G02F1/133528
Abstract: 本发明的包含偏振器件的光学构件的缺陷检查装置包括：光源；拍摄装置，其拍摄由来自光学构件的透射光形成的像；第1偏振滤光片，其配置在光源与光学构件之间的光路上，具有第1吸收轴；第2偏振滤光片，其配置在拍摄装置与光学构件之间的光路上，具有第2吸收轴；第1移动装置，其使第1偏振滤光片朝光源与光学构件之间的光路进退移动；以及第2移动装置，其使第2偏振滤光片朝拍摄装置与光学构件之间的光路进退移动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108693199B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN201810292650.6
申请日：2018-03-30
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N23/04 , H01M50/403 , H01M10/0525
Abstract: 本发明提供一种检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法。缺陷检查装置(1)具备：射线源(2)，其对隔膜卷绕体(10)呈放射状射出电磁波(R)；TDI传感器(4)，其对透过隔膜卷绕体(10)的电磁波(R)进行检测；以及移动机构(3)，其一边将射线源(2)与隔膜卷绕体(10)的距离以及射线源(2)与TDI传感器(4)的距离保持为大致固定，一边使隔膜卷绕体(10)中的检查区域移动。
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公开(公告)号：CN110333255A
公开(公告)日：2019-10-15
申请号：CN201910256072.5
申请日：2019-03-29
Applicant: 住友化学株式会社
Inventor： 加集功士
Abstract: 本发明提供一种异物检查装置以及异物检查方法。实现检查的高效化，并且减少异物的检测遗漏的产生风险。异物检查装置(101)具备：使检查对象物(1)平行移动的移动机构(5)；作为TDI传感器的图像传感器(3)；存储部(41)；分别对应多个像素且对基于第1像素值而得到的第2像素值进行计算的像素值运算部(42)；和对属于特定的连续区域的像素群的各第2像素值进行累计的像素值累计部(44)。
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公开(公告)号：CN109425616A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201811024997.9
申请日：2018-09-03
Applicant: 住友化学株式会社
Abstract: 本发明提供能够减小膜的缺陷与标记之间的间隔且能够抑制膜的缺陷信息的记录遗漏产生的缺陷记录系统、膜制造系统以及膜的制造方法。缺陷记录系统具备：检查部，其设置在膜的输送路径上，对膜的缺陷进行检查；印刷部，其在输送路径中设置于检查部的下游，在膜上印刷并记录信息；以及控制部，其基于检查部的检查结果，对印刷部的动作进行控制，印刷部具有：喷墨装置，其沿着与长边方向交叉的方向延伸设置且印刷信息；以及移动装置，其使喷墨装置沿着交叉的方向移动，喷墨装置具有多个射出孔，多个射出孔从交叉的方向上的膜的一端到另一端离散地配置，控制部基于检查结果，控制由移动装置进行的喷墨装置的位置移动和由喷墨装置进行的印刷。
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