一种显示基板、显示面板及显示装置

    公开(公告)号:CN106483710A

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201710002559.1

    申请日:2017-01-03

    Inventor: 王英涛 姚继开

    CPC classification number: G02F1/133514 G02F1/1362 G02F2001/136222

    Abstract: 本发明提供一种显示基板、显示面板及显示装置。显示基板包括:衬底基板;位于所述衬底基板上的栅线、数据线和薄膜晶体管阵列;位于所述栅线、数据线和薄膜晶体管阵列上的反射图形,用于对入射光线进行反射以形成显示画面的出射光线;位于所述反射图形上的彩色滤光层。本发明的方案将彩色滤光层(即彩色滤光片的图形)设置在了反射图形的基板上,使得彩色滤光层能够更加靠近反射图形,从而降低了反射光线经彩色滤光层的横向传输路径,进而避免串色现象发生。显然,基于本发明的方案,可以降低黑矩阵的作用,即需要设置黑矩阵的面积得到大幅减小,进而可以提高显示基板的开口率以及反射率。

    一种基板、显示装置及基板的制造方法

    公开(公告)号:CN106125426A

    公开(公告)日:2016-11-16

    申请号:CN201610482047.5

    申请日:2016-06-27

    Abstract: 本发明提供了一种基板、显示装置及基板的制造方法,所述基板包括衬底基板和形成于所述衬底基板上的金属线栅阵列,所述金属线栅阵列包括多个依次排布的金属图形,所述金属图形远离所述衬底基板的一端的宽度小于所述金属图形靠近所述衬底基板的一端的宽度。上述方案,通过对金属线栅阵列中的金属图形的形状进行改进,可实现高透过率、高对比度的显示效果,解决现有技术中透过率低、功耗大的问题。

    像素电路及其驱动方法、阵列基板、显示装置

    公开(公告)号:CN106097957A

    公开(公告)日:2016-11-09

    申请号:CN201610695975.X

    申请日:2016-08-19

    CPC classification number: G09G3/32

    Abstract: 本发明提供一种像素电路及其驱动方法、阵列基板、显示装置。所述像素电路包括无机电致发光器件、扫描端、数据写入端、第一电平输入端、第二电平输入端、选通模块、驱动模块和存储模块;所述选通模块的控制端与所述扫描端相连,输入端与所述数据写入端相连,输出端与所述驱动模块的控制端相连;驱动模块的输入端与第一电平输入端相连,输出端与无机电致发光器件的第一极相连;所述驱动模块用于根据数据信号向无机电致发光器件提供相应的驱动电流;无机电致发光器件的第二极与所述第二电平输入端相连;存储模块的第一端与所述第一电平输入端相连,存储模块的第二端与所述驱动模块的控制端相连。本发明能够改善无机电致发光显示装置的显示效果。

    压印掩膜版及纳米压印方法

    公开(公告)号:CN105974732A

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201610596067.5

    申请日:2016-07-26

    CPC classification number: G03F7/0002

    Abstract: 本发明提供一种压印掩膜版及纳米压印方法,属于压印技术领域。本发明的压印掩模版,包括压印板,其具有工作区域和将工作区域包围的边缘区域;以及设置在压印板的边缘区域的遮光层。由于在本发明的压印掩膜版的压印板边缘区域设置遮光层,因此在通过该压印掩膜版进行大面积纳米压印中,与压印板的边缘区域对应位置的压印胶被遮光层遮挡,从而在紫外固化过程中不会被固化,只有与压印板工作区域对应位置的压印胶被固化,在显影过程洗掉未固化的压印胶,在下一次压印过程中可以在完全贴合的位置进行压印,拼接缝的大小只取决于对位精度,不会受到上一次压印过程中与压印板的边缘区域对应位置的压印胶影响,可以有效减小拼接缝,提高拼接精度。

    一种压印板、检测方法及检测装置

    公开(公告)号:CN105974731A

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201610591504.4

    申请日:2016-07-25

    Abstract: 本发明提供一种压印板、检测方法及检测装置。其中压印板包括:第一区域和位于该第一区域周边的第二区域;所述第一区域上设置有第一压印结构,用于将目标基板产品区上的基材压印成第一膜层图形;所述第二区域设置有第二压印结构,用于将目标基板产品区周边的基材压印成第二膜层图形,所述第二膜层图形用于评估所述第一膜层图形的压印质量。本发明的方案可以通过检测第二膜层图形,来进一步评估出第一膜层图形的压印质量。由于该第二膜层图形不作为基板的产品图形,因此测量过程中,即便对第二膜层图形造成损伤也不会影响到基板产品质量,特别适用于评估纳米级别的超精细压印图形。

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