一种铀钆锆合金中硼铝杂质元素含量的测定方法

    公开(公告)号:CN108267498A

    公开(公告)日:2018-07-10

    申请号:CN201711463693.8

    申请日:2017-12-28

    Abstract: 本发明属于化学检测技术领域,具体涉及一种铀钆锆合金中硼铝杂质元素含量的测定方法。称取0.1g车削状铀钆锆合金样品,置于100mL的石英烧杯中,加入10mL硝酸溶液、0.1mL氢氟酸和0.1mL乙腈,置于调温电热板上加热至样品完全溶解;加入0.1mL浓硫酸,继续加热至体积为2mL,除去氟;用TBP-二甲苯混合萃取剂将铀萃取分离,用2%硝酸溶液将样品转移至100mL容量瓶中;按选择的分析质量数,在电感耦合等离子体质谱仪上依次测定系列标准溶液、空白溶液、试料溶液,测定时持续引入内标溶液,用标准曲线法测定各待测元素的含量。本发明解决了生产中急需的铀钆锆合金中杂质含量测定工作,满足了铀钆锆合金中杂质元素含量检测的需求。

    一种四氟化钍粉末中杂质元素含量测定方法

    公开(公告)号:CN105823821A

    公开(公告)日:2016-08-03

    申请号:CN201511020680.4

    申请日:2015-12-29

    CPC classification number: G01N27/62

    Abstract: 本发明提供一种四氟化钍粉末中杂质元素含量测定方法,其对于铁、铝、镍、锡、锆、钨、硅、砷、硼、钙、镉、铌、铅、镁、锰、钼、锌、钴、铬、铜、钛、钒,稀土元素镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铽、钇37种元素测定。本发明成功建立了四氟化钍中37种杂质元素含量的检测方法,利用发明内容中列举的实验条件可以准确测定四氟化钍中杂质元素含量,满足了生产和科研四氟化钍中杂质元素含量检测的要求。

    一种二氧化钍粉末及芯块中氮含量测定方法

    公开(公告)号:CN105806836A

    公开(公告)日:2016-07-27

    申请号:CN201410837083.X

    申请日:2014-12-30

    Inventor: 杨永明 刘丽莎

    Abstract: 本发明属于化学检测技术领域,具体涉及一种二氧化钍粉末及芯块中氮含量测定方法,目的是提供一种二氧化钍粉末及芯块中氮含量测定方法。该方法采用试样准备、试样溶解、蒸馏分离氮和测定步骤。采用奈斯勒—分光光度法测定二氧化钍中微量氮含量,提出了粉体状试样的溶解条件、蒸馏时间、蒸馏体积、显色剂的加入量及显色时间,当取样量为0.1g~1.0g时,方法精密度优于5%,回收率为96%~105%。

    一种铀钼合金样品中钼含量检测方法

    公开(公告)号:CN117705849A

    公开(公告)日:2024-03-15

    申请号:CN202311492838.2

    申请日:2023-11-10

    Abstract: 本发明具体涉及一种铀钼合金样品中钼含量检测方法,包括如下步骤:制备铀钼合金样品和系列铀钼合金标准样品,分别为铀钼合金样品和铀钼合金标准样品选择匹配的支撑环;通过X荧光光谱仪测量系列铀钼合金标准样品中钼/铀的X荧光强度比;以钼含量为横坐标,以钼/铀的X荧光强度比为纵坐标,绘制系列铀钼合金标准样品的标准曲线;通过X荧光光谱仪测量铀钼合金样品中钼/铀的X荧光强度比;通过标准曲线计算铀钼合金样品中钼含量。本发明的铀钼合金样品中钼含量检测方法,通过X荧光光谱法测定铀钼合金样品中钼含量,避免铀钼合金样品制备成铀钼合金样品溶液稀释铀钼合金样品中钼含量,提高铀钼合金样品中钼含量的检测精度。

    一种B<base:Sub>4</base:Sub>C-Al<base:Sub>2</base:Sub>O<base:Sub>3</base:Sub>芯块硼10线密度测定方法

    公开(公告)号:CN106932305A

    公开(公告)日:2017-07-07

    申请号:CN201511026087.0

    申请日:2015-12-30

    CPC classification number: G01N9/24 G01N1/28 G01N1/38 G01N27/64

    Abstract: 本发明涉及一种硼10线密度测定方法,具体涉及一种B4C-Al2O3芯块硼10线密度测定方法。具体包括以下步骤:步骤一、试样处理;步骤二、点样,制备样品带;步骤三、测定,得到硼10的富集度;步骤四、计算样品的硼-10线密度。本发明成功建立了碳化硼-氧化铝芯块中硼富集度和硼-10线密度的检测方法,利用发明内容中列举的实验条件可以精确测定碳化硼-氧化铝芯块中硼同位素丰度,解决了生产中急需的碳化硼-氧化铝芯块中硼-10线密度测定工作,满足了碳化硼-氧化铝芯块中硼-10线密度检测的需求。

    一种碳化硅复合材料中杂质元素含量的测定方法

    公开(公告)号:CN106596701A

    公开(公告)日:2017-04-26

    申请号:CN201611138864.5

    申请日:2016-12-12

    CPC classification number: G01N27/62

    Abstract: 本发明属于化学检测方法技术领域,具体涉及到采用等离子体质谱法对碳化硅中铝、镁等18种杂质元素含量进行测定的方法。包括以下步骤:(1)确定试样中杂质元素;(2)破碎筛选;(3)超声清洗;(4)冷却、过滤;(5)制备试样溶液;(6)配制工作标准溶液;(7)准备内标溶液;(8)在电感耦合等离子体质谱仪上依次测定工作标准溶液、空白溶液、试料溶液,测定时持续引入内标溶液,用标准曲线法测定各待测元素的含量。本发明成功建立了碳化硅中18种杂质元素含量的检测方法,利用发明内容中列举的实验条件可以精确测定碳化硅中杂质元素含量,解决了生产中急需的碳化硅中杂质含量测定工作,满足了碳化硅中杂质元素含量检测的需求。

    一种多路可调电场强度驱动器
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116230486A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202211575442.X

    申请日:2022-12-08

    Abstract: 本发明属于质谱仪设备研制技术领域,具体涉及一种多路可调电场强度驱动器。包括单片机,直流电压模块,通讯接口模块,LED模块,DAC数模转换模块,运算放大模块和高压模块。单片机分别与通讯接口模块、LED模块和DAC数模转换模块连接,直流电压模块为MCU模块供电,所述的DAC数模转换模块为多个,每个DAC数模转换模块均与两路运算放大模块连接,运算放大模块与高压模块连接,高压模块进行信号输出。本发明的有益效果在于:其作用在质谱仪设备中透镜部件,用于对带电粒子进行提取、聚焦、减速、加速调节,以及带电粒子束运行轨迹偏转微调,该驱动器为透镜部件提供一个复杂的电场环境。

    一种氢氟酸中铀含量等离子体质谱测定方法

    公开(公告)号:CN115639266A

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202110816184.9

    申请日:2021-07-20

    Abstract: 本发明属于化学检测技术领域,具体涉及一种氢氟酸中铀含量等离子体质谱测定方法,包括步骤一、试样处理,步骤二、质量数选择,步骤三、硝酸加入量的选择,步骤四、内标元素的选择,步骤五、测定;本发明依据氢氟酸解控管理需求,选择合适的试样处理方式去除氢氟酸基体,创建最优的仪器分析条件,采用标准曲线法快速、准确的完成对氢氟酸溶液中铀元素含量的测定。成功建立了氢氟酸中铀含量的等离子体质谱检测方法,利用发明内容中列举的实验条件可以精确测定氢氟酸中铀元素含量,解决了干法生产线产生的氢氟酸急需解控数据支撑的问题,满足了氢氟酸中铀含量检测的需求。

Patent Agency Ranking