用于产生高能光子辐射场的靶装置及其设计方法、系统

    公开(公告)号:CN117641693A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311707701.4

    申请日:2023-12-13

    Abstract: 本发明公开一种用于产生高能光子辐射场的靶装置及其设计方法、系统,涉及测量技术领域。本发明的靶装置在电子束轰击作用下能够产生轫致辐射即宽能量范围的X射线,与此同时靶装置的第一靶材结构和第二靶材结构对X射线过滤和展平,降低低能X射线的占比的同时,满足检测需要的均匀辐射场尽量大,从而可形成均匀性好、剂量率高的高能光子辐射场,解决了现有高能光子辐射场产生技术所存在的能量范围比较窄、剂量率低和均匀性差的问题。本发明的用于产生高能光子辐射场的靶装置的设计方法,可根据需求准调控靶装置的结构,实现X射线辐射场的均匀性、剂量率以及能量的调制,最终实现可用于辐射剂量仪表检测用的高能X射线辐射场的建立。

    一种用于热释光探测器一致性筛选的方法

    公开(公告)号:CN116148915A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202211326423.3

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明公开了一种用于热释光探测器一致性筛选的方法,该方法包括以下步骤:S1、辐照与测读热释光探测器;S2、确定批分散性;S3、筛选热释光探测器。本发明充分考虑了热释光探测器的重复性和批均匀性,可保障多个探测器单次测量结果的一致性,同时也保障单个热释光探测器重复读取时测量结果的一致性,最终保证热释光剂量测量系统测量结果的准确性和可靠性。对异常数据进行判定和剔除,保证了所筛得的热释光探测器组的科学性和合理性。采用并行筛片,根据测量结果对热释光探测器进行分组,可得到多组分散性为±δ的热释光探测器,既在保障效率的前提下,保证了筛选后热释光探测器测量结果的质量,又可有效提高热释光探测器的使用效率。

    曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统及方法

    公开(公告)号:CN114415228A

    公开(公告)日:2022-04-29

    申请号:CN202210049527.8

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统,包括:操作台、控制组件、高压发生器、X射线管组件;操作台和控制组件相连接,高压发生器的一端和控制组件相连接,高压发生器的另一端和X射线管组件相连;操作台,用于对控制组件发出调整高压发生器参数的指令;指令包括X射线管组件目标参数值;控制组件,对X射线管组件目标参数值进行格式转换,转换为协议规定格式的X射线管组件目标参数值;高压发生器,根据X射线管组件目标参数值,确定X射线管组件出射的频率和时间;X射线管组件,根据出射的频率和时间,出射X射线。

    一种热释光探测器剂量现场核查方法

    公开(公告)号:CN115327607B

    公开(公告)日:2025-03-04

    申请号:CN202210966844.6

    申请日:2022-08-11

    Abstract: 本发明提供了一种热释光探测器剂量现场核查方法,具体包括核查标准用热释光探测器的筛选,信号衰减特性测试,热释光探测器定值。本发明公开的热释光探测器剂量现场核查方法,通过使用基于热释光探测器的现场核查标准,有效控制热释光剂量测量装置的辐射性能变化趋势,保障现场测得的量值准确、可靠,可直接在现场进行测量,解决了定期送检中费时费力、时间漫长、受检定机构控制的问题。

    一种核素识别方法、系统及电子设备

    公开(公告)号:CN117932355B

    公开(公告)日:2025-02-25

    申请号:CN202410107288.6

    申请日:2024-01-25

    Abstract: 本发明公开的核素识别方法、系统及电子设备,涉及核素识别领域。本发明基于贝叶斯方法和序贯后验概率,通过在决策函数上设定时间间隔的取值范围,而非直接给定一个预设的时间间隔参数,大大提高方法的普适性;根据统计特征确定ROI区域内的本底概率密度函数和康普顿概率密度函数,基于测量得到的核探测事件序列中的能量和时间间隔信息确定能量贝叶斯因子和时间贝叶斯因子,结合两个因子,可以实现对康普顿坪的有效甄别和区分。在同样的识别条件下,设定相同的置信度时,本发明提供的核素识别方法可以比能谱解谱分析‑特征峰匹配法更快地对放射性核素的存在和种类做出有效的识别;相比于现有核素识别方法,本发明提供的核素识别方法更具普适性。

    一种建立低剂量率水平辐射质的方法

    公开(公告)号:CN114371498B

    公开(公告)日:2024-12-31

    申请号:CN202210051497.4

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种建立低剂量率水平辐射质的方法,包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度,得到谱仪的道址与标准放射源的能量的转换关系;在标准辐射质下进行电离室刻度,得到标准辐射质的第一刻度系数;将光机的管电压分别设置为多个预设电压值,并在每个预设电压值下,调整管电流,并在多个预设管电流下,在距光机出口预设距离处通过谱仪测量能谱,通过电离室测量剂量率,并从多个待用过滤片中确定附加过滤,使得剂量率不大于预设的剂量率阈值;每个预设电压值对应一个新辐射质;能谱包括能量和计数率;根据计数率和能量,计算每个预设电压值对应的新辐射质的平均能量;根据标准辐射质的第一刻度系数,得到新辐射质的第二刻度系数。

    用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法、装置及系统

    公开(公告)号:CN114397695B

    公开(公告)日:2024-11-12

    申请号:CN202210051498.9

    申请日:2022-01-17

    Abstract: 本发明提供了一种用于固定式辐射剂量率仪原位校准的方法,包括:在参考辐射场中,对标准设备和拟建数据库型号下的第一待校设备至第n待校设备进行校准,并获取第一放射源产生的第一非扩展齐向场的响应信号,随后建立关于型号‑相对位置关系‑统计数据的数据库,在原位校准时,通过与第一放射源相同型号的第二放射源产生第二非扩展齐向场,并查询当前待校准设备的型号后,根据该型号对应的数据库中的值,得到当前待校准设备的目标原位校准因子。

Patent Agency Ranking