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公开(公告)号：CN208076700U
公开(公告)日：2018-11-09
申请号：CN201820522550.3
申请日：2018-04-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种基于磁共振成像的光散射测量装置，用于测量样品表面对光散射强度的分布，包括：筒形骨架、射频线圈、梯度线圈、筒形磁体，筒形骨架的周壁的内表面包围形成样品放置腔；射频线圈缠绕于筒形骨架的周壁的外表面；梯度线圈缠绕于射频线圈的外层；筒形磁体环绕在梯度线圈的外层；多条光纤，多条光纤分别在筒形骨架的多个径向角度上穿透筒形骨架的周壁，并且多条光纤的末端在样品放置腔内暴露，以允许来自多条光纤的光束馈入样品放置腔、以及样品放置腔内的散射光从多条光纤馈出。该基于磁共振成像的光散射测量装置的测量效率高，准确性高，并且通过磁共振成像获得连续的光散射强度分布的灰度图，可提供连续的光散射强度的信号值。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号：CN207502052U
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201721657440.X
申请日：2017-12-01
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01J3/28
Abstract: 本实用新型涉及光学测量技术领域，公开了一种基于谱线灯组的高精度光谱仪波长标定装置，包括多组谱线收集组，每组谱线收集组包括依次设置的谱线灯、紫外石英凸透镜和石英光纤，多组谱线收集组的多根石英光纤远离谱线灯的一端固定为一束总光纤；多组谱线收集组的谱线灯各不相同，每组谱线收集组的石英光纤的输入端设置在其对应的石英凸透镜的焦点位置。本实用新型基于谱线灯组的高精度光谱仪波长标定装置可以将多个谱线灯依次采用紫外石英凸透镜汇聚到石英光纤中，不同的石英光纤输出端汇集为一根包含宽波段范围的光谱线的总光纤后输出，利用该装置的大光谱范围内的高密度谱线可以实现高精度光谱仪波长的标定。
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公开(公告)号：CN208172226U
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201820523165.0
申请日：2018-04-13
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本实用新型提供了一种基于磁共振成像的光散射测量电路，控制基于磁共振成像的光散射测量装置进行光散射测量，所述光散射测量电路包括：光源发生器，所述光源发生器电连接所述光散射测量装置；光探测器，所述光探测器电连接所述光散射测量装置；时域跟随器，所述时域跟随器电连接所述光散射测量装置；时域调制器，所述时域调制器电连接所述时域跟随器、并电连接所述光源发生器和所述光探测器中的一者，所述时域跟随器电连接所述光源发生器和所述光探测器中的另一者；处理器，所述处理器电连接所述光探测器、所述光散射测量装置以及所述时域跟随器。光散射测量电路控制并配合光散射测量装置实现对光散射的测量，获得连续光散射强度信号分布图。
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公开(公告)号：CN208172227U
公开(公告)日：2018-11-30
申请号：CN201820793179.4
申请日：2018-05-25
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01R33/58
Abstract: 本实用新型提供了一种磁共振成像仪的质控模体，呈封闭腔体设置的质控模体内包括：时间检控层，所述时间检控层排布多个容纳不同浓度的时间检控液的时间检控球；成像定位层，所述成像定位层设有确定所述质控模体相对于所述磁共振成像仪的位置的定位物体；长度检控层，所述长度检控层开设多个盲孔，所述多个盲孔之间的孔径和/或孔深不同；质子密度检控层，所述质子密度检控层排布多个容纳不同浓度的质子密度检控液的质子密度检控球；扩散检控层，所述扩散检控层排布多个容纳不同浓度的扩散检控液的扩散检控柱；质控模体能够从时间类参数、长度类参数、质子密度类参数以及扩散类参数对磁共振成像仪进行测量控制。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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