星载散射计后向散射系数的检验方法和装置

    公开(公告)号:CN106021864B

    公开(公告)日:2017-06-06

    申请号:CN201610304628.X

    申请日:2016-05-09

    Abstract: 本发明提供了一种星载散射计后向散射系数的检验方法和装置,包括:获取星载散射计中风矢量单元对应的后向散射系数及其观测几何,以及与后向散射系数及观测几何相匹配的再分析风场数据;根据观测几何和与观测几何相匹配的再分析风场数据,计算匹配观测几何的相对风向;根据相对风向,构建获取的后向散射系数的观测样本集;根据预设标准样本集对观测样本集进行检验,得到星载散射计测量的后向散射系数是否准确的检验结果;其利用再分析海面风场数据,开发基于后向散射系数对风向的双余弦分布特征的后向散射系数的快速评估方法,能够在较短的时间实现对后向散射系数的快速评估且通过再分析数据也使得评估的准确性较高,同时该评估方法还具有通用性。

    光谱辐射亮度计视场测量方法及系统

    公开(公告)号:CN118730288A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410740000.9

    申请日:2024-06-07

    Abstract: 本发明提供一种光谱辐射亮度计视场测量方法及系统,该方法包括:利用标定挡板和辐射源,确定待测量光谱辐射亮度计对应的标定距离,利用第一目标挡板和第二目标挡板,确定待测量光谱辐射亮度计的视野区域范围,在确定待测量光谱辐射亮度计的视野区域范围包括第一无底椭圆锥体的内部区域的情况下,利用第一目标挡板对应的多个第一挡板,获取待测量光谱辐射亮度计对应的第一目标短轴长度,基于第一目标短轴长度、标定距离、圆形出光口的半径和圆孔的半径,获取第一无底椭圆锥体在长轴方向上的顶角和在短轴方向上的顶角。本发明提供的光谱辐射亮度计视场测量方法及系统,能准确测量光谱辐射亮度计的真实视场区域,测量效率高。

    光谱辐射度定标系统及方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115574954A

    公开(公告)日:2023-01-06

    申请号:CN202211228611.2

    申请日:2022-10-09

    Abstract: 本发明提供了一种光谱辐射度定标系统及方法,包括:高温固定点黑体、光阑组、光电高温计、待定标的光谱辐射计及控制器;上述光阑组和上述待定标的光谱辐射计依次设置在上述高温固定点黑体输出的预设波段电磁波的光路上;上述光电高温计用于获取上述高温固定点黑体的腔底温度;上述控制器用于根据上述预设波段电磁波的波长、上述腔底温度、上述光谱辐射亮度测量值以及上述光谱辐射照度测量值对上述待定标的光谱辐射计进行定标。该系统通过将高温固定点黑体、光阑组以及待定标的光谱辐射计组成溯源链极短的定标系统,以减少了从每一级光谱辐射度基标准装置量值传递的准确度损耗,从而减少测量不确定度来源,提高定标后光谱辐射计的量值准确性。

    氘灯光源系统及校准方法
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116242481A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202310531551.X

    申请日:2023-05-12

    Abstract: 本发明提供一种氘灯光源系统及校准方法,涉及光学技术领域,氘灯光源系统包括:氘灯灯体、监视探测器和控制器;控制器用于接收监视探测器对氘灯灯体发出的紫外光信号进行监测获得的监测结果,并在基于监测结果,确定氘灯灯体发出的紫外光信号存在量值漂移的情况下,则基于监测结果,对氘灯灯体发出的紫外光信号目标参数的实际值进行校准。本发明提供的氘灯光源系统及校准方法,能更高效、更准确地发现氘灯灯体是否出现量值漂移,能在确定氘灯灯体发出的紫外光信号存在量值漂移的情况下,基于上述监测结果对氘灯灯体进行自校准,氘灯光源系统的自动化水平更高。

    辐射照度标定、灵敏度测试装置及方法

    公开(公告)号:CN116147764A

    公开(公告)日:2023-05-23

    申请号:CN202310426893.5

    申请日:2023-04-20

    Abstract: 本发明提供一种辐射照度标定、灵敏度测试装置及方法,涉及光学技术领域,辐射照度标定装置,包括:第一滑轨、第二滑轨、紫外点光源、第一固定装置、第二固定装置、漫反射板和控制器;控制器用于基于第一目标辐射照度和第一目标映射关系,对第一固定装置在第一滑轨上的位置、第二固定装置在第二滑轨上的位置以及第一滑轨与第二滑轨之间的夹角中的至少一个进行控制,并在完成控制之后,将受照面的辐射照度标定为第一目标辐射照度。本发明提供的辐射照度标定、灵敏度测试装置及方法,能实现小于10‑9W/cm2量级辐射照度的连续标定,能提高量级小于10‑9W/cm2辐射照度的标定准确率。

    BRDF测量系统、方法、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN115356298A

    公开(公告)日:2022-11-18

    申请号:CN202211270526.2

    申请日:2022-10-18

    Abstract: 本发明提供一种BRDF测量系统、方法、电子设备及存储介质,涉及光学测量技术领域,该系统包括:黑体辐射源、多波段光谱辐射计和控制器;黑体辐射源加热至目标温度将发生固液相变;多波段光谱辐射计用于对黑体辐射源进行测量,并将测量到的第一测量信号发送至控制器,多波段光谱辐射计还用于在黑体辐射源照射待测点的情况下对待测点进行测量,并将测量到的第二测量信号发送至控制器;控制器用于基于第一测量信号、第二测量信号、目标几何关系、目标映射关系以及黑体辐射源的尺寸参数,获取待测点的BRDF反射率。本发明提供的BRDF测量系统、方法、电子设备及存储介质,能提高BRDF测量的测量准确性和测量效率。

    太阳反射谱段光谱仪的光谱辐射亮度标定方法和系统

    公开(公告)号:CN111982282B

    公开(公告)日:2022-11-15

    申请号:CN202010883990.3

    申请日:2020-08-28

    Abstract: 本发明提供了一种太阳反射谱段光谱仪的光谱辐射亮度标定方法和系统,包括:通过高温黑体对传递光谱仪的光谱辐射亮度进行标定,得到初始标定的传递光谱仪;采用非线性测量装置对初始标定的传递光谱仪进行线性标定,得到一段光谱辐射亮度区间标定的传递光谱仪;分别采用标定的传递光谱仪和待测光谱仪测量预设光谱辐射亮度源,根据测量结果对待测光谱仪的光谱辐射亮度进行标定。在本发明中,采用传递光谱仪,结合非线性测量的方法实现了对待测光谱仪的光谱辐射亮度进行标定,由于线性标定不需要量值源头,能够消除面积测量和双向反射分布函数测量引入的误差,标定的结果准确性好,精度更高。

    一种外场光谱仪采集数据质量的评估方法及装置

    公开(公告)号:CN114383729A

    公开(公告)日:2022-04-22

    申请号:CN202210063548.5

    申请日:2022-01-20

    Abstract: 本申请提供了一种外场光谱仪采集数据质量的评估方法及装置,包括:获取光谱仪所采集到的外场光谱辐射测量数据以及至少一项影响因素的外场参数,并确定每项影响因素的校正系数和校正系数的不确定度;利用光谱仪的实验室定标系数、每项校正系数以及外场光谱辐射测量数据,确定光谱仪的外场测量结果;基于实验室定标系数的不确定度、外场光谱辐射测量数据的不确定度和每项校正系数的不确定度,确定用于评估外场测量结果的合成标准不确定度。这样,本申请通过确定出各项影响因素的校正系数并对外场光谱辐射测量数据进行校正,提高了外场测量结果的准确度,通过确定出合成标准不确定度可以有效的评估外场测量结果的可靠性,从而有利于实现高精度定标。

    一种辐射测温仪
    19.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112268623A

    公开(公告)日:2021-01-26

    申请号:CN202011134976.X

    申请日:2020-10-22

    Abstract: 本发明公开了一种辐射测温仪,包括:红外辐射光学装置、红外辐射探测器、电子装置、显示装置;红外辐射光学装置包括成像物镜,成像物镜接收来自被测物体的光信号并将光信号聚焦于所述红外辐射探测器;红外辐射探测器将光信号转换为电信号,并将电信号发送到所述电子装置;电子装置处理所述电信号,获得测定温度;显示装置用于显示所述测定温度;辐射测温仪还包括环境温度探测器,环境温度探测器用于测量环境温度,并将测量得到的环境温度值输入电子装置,电子装置根据所述测量得到的环境温度值修正最终的温度测量值。本发明的技术方案采用了环境温度来修正辐射测温仪的最终测量温度值,使得该温度测温仪在各种环境温度下的测量误差减小,温度测量值更为准确。

    一种温度检测设备的校准方法及装置

    公开(公告)号:CN111780892A

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN202010663830.8

    申请日:2020-07-10

    Abstract: 本申请涉及设备校准技术领域,尤其涉及一种温度检测设备的校准方法及装置。本申请通过获取在校准实验中通过温度检测设备对物质进行检测得到的实验熔化温度;获取所述物质对应的标准熔化温度;根据所述标准熔化温度以及所述实验熔化温度,对所述温度检测设备进行校准,得到校准后的温度检测设备;其中,所述校准后的温度检测设备用于在实际实验中对物质进行温度检测,通过对物质的标准熔化温度与实验熔化温度进行对应,达到对温度检测设备进行校准的目的。

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