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公开(公告)号：CN114383740A
公开(公告)日：2022-04-22
申请号：CN202111520589.4
申请日：2021-12-13
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01J9/02
Abstract: 本发明公开的一种芯片化波长标准获取装置及波长测量装置，属于长度计量测试领域。本发明公开的一种芯片化波长标准获取装置，由于原子能级是量子化的，其基态能级差是确定不变的，将微腔芯片输出的激光波长锁定至原子基态能级差，因此获得的波长标准具有量子化的精度。本发明公开的一种基于芯片化波长标准的波长测量装置，基于所述一种芯片化波长标准获取装置实现，采用波长标准结合劈尖干涉，将波长的测量直接与量子化的波长标准联系起来，显著提高波长测量的准确性。本发明具有体积小、成本低、可集成的优点。本发明能够很方便的用于各种现场环境下波长测量。本发明能够支撑波长测量装置嵌入到测量设备中，实现波长的在线、高精度测量。
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公开(公告)号：CN114370596A
公开(公告)日：2022-04-19
申请号：CN202111490041.X
申请日：2021-12-08
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种提升碱金属纯度的气室及实现方法，属于原子精密光谱测量技术领域。本发明利用玻璃吹制法制作非对称双气室，即碱金属工作气室、缓冲气体气室。利用非对称双气室的压差分离缓冲气体。碱金属工作气室内为碱金属蒸汽与缓冲气体的混合气体。在碱金属工作气室、缓冲气体气室之间的玻璃连接管中有缓冲气体半透膜，所述缓冲气体半透膜只允许缓冲气体通过，而不允许碱金属气体通过。缓冲气体半透膜固定在玻璃连接管的中间位置或固定在靠近碱金属气室一侧。在碱金属工作气室、缓冲气体气室具有压差以及选择性缓冲气体半透膜作用下，通过渗透和扩散方式实现部分缓冲气体分离，进而提升工作气室中碱金属蒸汽纯度，降低碰撞展宽对光谱的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119779507A
公开(公告)日：2025-04-08
申请号：CN202411702615.9
申请日：2024-11-26
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于微气室双吸收谱的快速测温方法及装置，属于激光吸收谱传感领域。本发明的装置包括光源模块、线性扫频控制模块、测温模块、信号采集及温度解算模块。本发明利用扫描源、光纤马赫‑曾德尔干涉仪和反馈控制电路保证光学扫频线性度，通过声光调制器产生两条频差已知且携带温度信息的两条吸收谱线，基于时域上频差固定的两条吸收谱上的同一个吸收峰时间差对应声光调制器驱动频率，即ΔT＝T1‑T2对应声光调制器驱动频率f，将吸收谱由时域映射至频域，再通过提取频域吸收谱上与温度有关的参数计算得到气室所处温度。本发明能够解决传统多普勒展宽测温系统复杂难题，具有测量体积小、成本低、速度快、稳定性高、适应性强等优点。
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公开(公告)号：CN117782349A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311617028.5
申请日：2023-11-30
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G01K11/00
Abstract: 本发明公开的一种基于微腔和微气室的光学测温装置及其实现方法，属于温度计量领域。本发明包括激光输出模块、标定光路、探测光路、数据采集及处理模块。激光输出模块用于产生宽带扫描激光。标定光路内设置一微腔，根据微腔自由光谱范围(FSR)标定激光扫频的间隔和范围。探测光路内设置一微型气室作为温度敏感元件，用于产生携带气室温度信息的分子或原子吸收谱。数据采集及处理模块用于获取标定光路和探测光路在时域上的光谱信号，并通过时域至频域信号映射、光谱拟合处理等过程计算出热力学温度。本发明有效解决了多普勒展宽测温技术领域中标准具体积大、光路复杂、测量时间长等难题，具有结构简单、易于集成、成本低、适应性好的优点。
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公开(公告)号：CN116499969A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310118025.0
申请日：2023-02-15
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明公开的一种实现激光扫频过程中频率和功率同步稳定装置，属于精密光谱测量技术中的光源调控领域。本发明包括参考光源稳频模块、激光拍频扫频模块、探测光功率稳定模块。参考光源稳频模块将窄线宽激光器输出的参考光锁定到气室中的原子吸收峰上，作为扫频过程中的参考标准频率；激光拍频扫频模块通过探测光与参考光拍频的方式并施加反馈控制实现探测光频率稳定，通过分段扫描以及调控两束光拍频值实现探测光扫频功能；探测光功率稳定模块提取部分探测光用于功率稳定。本发明通过参考光源稳频模块、激光拍频扫频模块、探测光功率稳定模块三个模块的协同完成扫频范围和间隔精确可控的扫频过程，并且保证扫频过程中频率和功率的同步稳定。
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公开(公告)号：CN114637157A
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN202210151484.4
申请日：2022-02-17
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
IPC: G02F1/35
Abstract: 本发明公开的一种混合集成的微腔光频梳芯片结构及其制备方法，属于集成光电器件制备和芯片化计量技术领域。本发明包括微腔光频梳芯片衬底、激光器、单边带调制器、强度调制器和微环谐振腔。本发明通过调节激光器芯片、单边带调制器芯片、强度调制器芯片和微环谐振腔芯片的衬底厚度，将所述激光器芯片的有源区、单边带调制器芯片的波导层、强度调制器芯片的波导层和微环谐振腔芯片的波导层设置在同一高度，且截面具有相同的尺寸。将所述激光器芯片、单边带调制器芯片、强度调制器芯片和微环谐振腔芯片通过键合的方式键合到所述混合集成的微腔光梳芯片的衬底上，实现混合集成的微腔光频梳芯片结构制备。本发明是光钟、测距系统等的重要组成部分。
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公开(公告)号：CN114137659A
公开(公告)日：2022-03-04
申请号：CN202111291758.1
申请日：2021-11-02
Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所
Abstract: 本发明提供一种微腔芯片及其制备方法，其中，微腔芯片的制备方法包括：准备晶圆衬底；在衬底上进行低折射率材料的下包层生长；在下包层中生长高折射率材料的第一芯层；在所述第一芯层中按照预定的版图进行波导结构和微腔结构中的一个的光刻刻蚀；在所述第一芯层上进行低折射率材料的第一上包层生长；使用化学机械抛光对晶圆进行平坦化；在所述第一上包层上进行控制耦合间距的低折射率材料的间隔包层生长；在所述间隔包层上生长高折射率材料的第二芯层；在所述第二芯层中按照预定的版图进行波导结构和微腔结构中的另一个的光刻刻蚀；在所述第二芯层上进行低折射率材料的第二上包层生长。本发明能够解决现有技术昂贵复杂并且引入额外噪声的问题。
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