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公开(公告)号：CN114659648B
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202210307397.3
申请日：2022-03-25
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明为解决现有激光的脉冲特性在时间域的特性测量，不同的脉冲特性需要使用不同的仪器进行测量，采用的脉冲采样方法存在复杂的电流采集与分析系统的问题，而提出了一种基于三倍频调制采样的激光脉冲特性测量装置及测量方法。该装置包括激光器和在出射光路上设置的第一分束片；在参考光的光路上依次设有第二分束片、第一反射镜、凹面银镜、用于三倍频的介质片和CCD相机；所述参考光入射至CCD相机；在待测光的光路上设有第三分束片，将待测光分为基频光与信号光；基频光的光路上依次设有第二反射镜和用于合束的尖劈对；信号光的光路上设有延迟线；所述基频光与信号光经尖劈对合束后入射至凹面银镜，反射后经介质片入射至CCD相机。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114361925A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202111580155.3
申请日：2021-12-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及激光脉冲测试技术，具体涉及一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量装置及方法。解决了现有激光脉冲特性测量中波长带宽受限，且不同波长激光脉冲的测量需要不同的非线性晶体的技术问题。本发明装置由激光器产生激光，经第一分束片将激光分成透射光和参考光，参考光依次经过第三分束片、第二反射镜后入射至凹面银镜，再聚焦至荧光晶体产生荧光，荧光通过聚焦镜成像在相机上；透射光束经第二分束片分为基频光与信号光，经过第一反射镜后的基频光与通过延时线后的信号光通过尖劈对进行合束后入射至凹面银镜，再聚焦至荧光晶体产生荧光，最终通过聚焦镜成像在相机上。本发明还提供了一种基于荧光调制采样的激光脉冲特性测量方法。
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公开(公告)号：CN115663574A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211436255.3
申请日：2022-11-16
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明具体的涉及了一种碟片激光器的激光晶体热沉。本发明包括碟片激光器激光晶体、非金属热沉、晶体高反膜、高热导率金属；所述碟片激光器激光晶体的下表面通过高热导率金属连接非金属热沉，所述晶体高反膜镀制在碟片激光器激光晶体的下表面且位于碟片激光器激光晶体和高热导率金属之间；所述非金属热沉为金刚石热沉或碳化硅热沉。本发明还包括另一种结构的激光晶体热沉，其包括碟片激光器激光晶体、金刚石散热片、碳化硅热沉和高热导率金属；所述碟片激光器激光晶体的下表面通过高热导率金属与金刚石散热片的上表面连接，所述金刚石散热片的下表面通过高热导率金属与碳化硅热沉连接；所述碟片激光器激光晶体的下表面镀制有晶体高反膜。
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公开(公告)号：CN114777917A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210350676.8
申请日：2022-04-02
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明提供了一种超短脉冲激光延时测量装置及方法，以解决现有技术对多束激光脉冲进行延时测量时无法标定零延时位置的技术问题。本发明的测量装置包括第一分束片、待测激光光路单元、参考激光光路单元、第二分束片、光谱调制片以及测量相机；参考激光光路单元设置了延时线；入射激光单元通过第一分束片获得参考激光、第一待测激光和第二待测激光。本发明的方法中第一待测激光和第二待测激光经光谱调制片调制后与一定角度入射的参考激光在测量相机上叠加，再通过延时线对参考激光进行延时处理，直至出现近场干涉图样，通过对比多组近场干涉图样，测量和标定多束超短脉冲激光间的脉冲零延时位置，获得脉冲延时差。
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公开(公告)号：CN115790868A
公开(公告)日：2023-03-14
申请号：CN202211585616.0
申请日：2022-12-09
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明提供了一种双色超短脉冲激光延时测量方法及装置，用于解决现有的双色超短脉冲激光延时测量方法无法获得脉冲间零延时位置导致无法精准实现脉冲延时的测量、标定及锁定的技术问题。本发明的测量方法为：对平行入射的第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光进行光谱调制；将光谱调制后的第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光聚焦入射至非线性晶体，通过非线性晶体产生一束测量光；对产生的测量光准直后进行探测，获得测量光光斑两侧包络的强度差以及测量光光斑两侧包络的强度差随延时变化的曲线图；通过探测测量光光斑两侧包络的强度差，反演获得第一超短脉冲激光和第二超短脉冲激光的零延时位置以及相对延时信息。
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公开(公告)号：CN114659648A
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202210307397.3
申请日：2022-03-25
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明为解决现有激光的脉冲特性在时间域的特性测量，不同的脉冲特性需要使用不同的仪器进行测量，采用的脉冲采样方法存在复杂的电流采集与分析系统的问题，而提出了一种基于三倍频调制采样的激光脉冲特性测量装置及测量方法。该装置包括激光器和在出射光路上设置的第一分束片；在参考光的光路上依次设有第二分束片、第一反射镜、凹面银镜、用于三倍频的介质片和CCD相机；所述参考光入射至CCD相机；在待测光的光路上设有第三分束片，将待测光分为基频光与信号光；基频光的光路上依次设有第二反射镜和用于合束的尖劈对；信号光的光路上设有延迟线；所述基频光与信号光经尖劈对合束后入射至凹面银镜，反射后经介质片入射至CCD相机。
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