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公开(公告)号：CN107167240A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710384588.9
申请日：2017-05-26
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01J3/04
CPC classification number: G01J3/04 , G01J2003/045
Abstract: 本发明公开了一种机械双狭缝，安装于相机上，包括狭缝组合件(1)和狭缝座(2)，狭缝组合件(1)通过紧固螺钉(3)固定于狭缝座(2)上；狭缝组合件包括：上缝板(11)、中缝板(12)与下缝板(13)；上缝板(11)、中缝板(12)与下缝板(13)固定装配构成狭缝组合件(1)形成双狭缝；狭缝座(2)还包括一体的工艺尾座(21)，在狭缝组合件(1)与狭缝座(2)固定后以狭缝组合件(1)的装调基准为基准，测量狭缝座(2)与相机配合处的实际加工去除尺寸，按照配合间隙小于0.006mm的要求对狭缝座(2)进行定心加工，完成后切除定心工艺尾座(21)。针对相机设计中双狭缝的应用而设计，有效的解决了该狭缝在实际中的应用，提高了整体光机系统的装调的精度并且降低了装调的难度，并且模块化，易于拆卸更换。
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公开(公告)号：CN104101430B
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201410323960.1
申请日：2014-07-08
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种推扫色散型成像光谱仪的快速绝对辐射定标方法，通过采用钨灯与氙灯的组合作为光源，调整两种光源的亮度比例可以得到不同光谱特征的光源，弥补了仅由钨灯做光源时短波波段辐亮度低的不足；并在采集过程中，多次调节钨灯与氙灯的亮度比例，这种调节不需要精确的控制，只保证亮度比有所改变即可，因此可在短时间内完成，分别测试成像光谱仪的响应，并用标准光谱辐射度计进行监测，这种数据采集方式可提供多组光谱特征不同的数据，计算绝对辐射定标系数时便可以从中择优使用；最后，在计算绝对辐射定标系数时，从实验数据中选择成像光谱仪响应最高的一组，定标精度得到保证，计算过程全部由计算机完成，保证了计算效率。
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公开(公告)号：CN104316188A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410648156.0
申请日：2014-11-15
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置，其中，干涉光谱成像仪相位误差修正方法包括对干涉光谱成像仪获取的干涉图的小双边部分进行IFFT快速傅立叶逆变换得到相位因子，以及对所述相位因子进行FFT快速傅立叶变换得到对称化函数；将所述干涉图与所述对称化函数进行卷积处理得到卷积干涉图；对所述卷积干涉图进行IFFT得到复原光谱函数，以及对所述卷积干涉图的小双边部分进行IFFT得到相位误差因子；根据所述相位误差因子对所述复原光谱函数进行修正，得到目标光谱函数。先在时域对干涉图进行修正，再在频域对光谱函数进行修正，提高复原光谱的精度，同时兼顾计算速度。
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公开(公告)号：CN104236707A
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201410490421.7
申请日：2014-09-23
Applicant: 中国科学院光电研究院
Abstract: 本发明涉及一种棱镜色散型成像光谱仪条带噪声的消除方法，将探测器对不同景物探测输出的每一帧原始数据做预处理得到多帧图像，将大量图像数据求平均，然后进行相对辐射定标系数的计算；对大量景物的响应数据进行叠加后，近似认为沿狭缝方向的每一行像元的响应数据相同，针对每一行进行分别的相对辐射定标，并将所有像元的相对辐射定标系数拼接后，得到整机的相对辐射定标系数，完成整机即棱镜色散型成像光谱仪的相对辐射定标；经相对辐射定标修正后的图像再进行后期的图像处理，即得到棱镜色散型成像光谱仪条带噪声消除后的图像。本发明消除成像光谱仪的探测器不均匀性及狭缝尘埃引入的条带噪声，对上述两种不同机制产生的条带噪声均有较好的消除效果。
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公开(公告)号：CN108444600B
公开(公告)日：2021-08-20
申请号：CN201810194766.6
申请日：2018-03-09
Applicant: 中国科学院光电研究院 , 青岛市光电工程技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种高通量宽谱段小型化成像光谱仪，将自由曲面的设计和双狭缝结合，有效解决了传统单台光谱系统无法实现从近红外可见到短波红外的宽谱段，大视场，高通量，小型化的设计。传统需多台系统能够达到的指标要求，现将自由曲面引入到光谱成像技术中，利用它的非旋转对称性以及灵活控制光线方向的优势，可灵活改善各种球面系统无法平衡的像差等特性，使得单台系统即可达到多台系统相同的技术指标要求或者更高的成像质量水平，最大程度的实现了系统简易化，轻量化，小型化的需求。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110081976A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910423663.7
申请日：2019-05-21
Applicant: 中国科学院光电研究院
Abstract: 本发明公开了一种大视场光栅棱镜光谱成像系统，包括狭缝、球面反射镜、平面反射镜、光栅棱镜模块、聚焦镜组、二级滤光片和探测器，经过所述狭缝的光束入射到所述球面反射镜后发生反射；经过反射后的光束入射到所述平面反射镜；经所述平面反射镜反射后的光束入射到所述光栅棱镜模块，在所述光栅棱镜模块处发生衍射，其中：不同波长的一级衍射光入射所述聚焦镜组，再经过所述二级滤光片后到达所述探测器，完成成像过程；所述光栅棱镜模块的前表面作为整个系统的孔径光阑，该孔径光阑位于所述球面反射镜的球心C处，且和所述光栅棱镜模块的入射面重合。该系统整体大小紧凑、重量轻、结构简单，像面未发生倾斜，有利于系统的装调。
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公开(公告)号：CN110031100A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910360420.3
申请日：2019-04-30
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种多维度短波红外光谱成像检测装置，其中：焦面可调平行光管的靶面位置能在一定范围内调节；滤光片设置在所述焦面可调平行光管的出光口处；在所述滤光片的后面放置所述被测光谱成像系统；成像相面模拟板放置于所述被测光谱成像系统的相面位置，在该成像相面模拟板的另一面放置所述反射式成像显微系统；在所述反射式成像显微系统的出光口处放置所述短波成像探测器，通过所述短波成像探测器来接收所述反射式成像显微系统处理后的成像图。该装置可以有效解决短波红外光学设计理论验证和结构装调验证，且装置搭接简单，极大的提高了检测精度，并降低了检测难度。
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公开(公告)号：CN108398186A
公开(公告)日：2018-08-14
申请号：CN201810122991.9
申请日：2018-02-07
Applicant: 中国科学院光电研究院
Abstract: 本发明公开了一种自由曲面Offner凸面光栅光谱成像系统，包括：狭缝、主镜、凸面反射光栅、三镜和探测器，凸面反射光栅作为系统的孔径光阑；系统为像方远心结构，经过狭缝的入射到主镜后发生反射，经过反射后入射到凸面光，光线在凸面光栅处发生衍射，不同波长的一级衍射光入射到三镜上，并被三镜反射后到达探测器。系统采用自由曲面面形，主镜、凸面反射光栅与三镜均不存在偏心和倾斜，且主镜和三镜采用相同的面形结构，主镜和三镜构成一整块大的自由曲面反射镜，且该自由曲面反射镜和凸面反射光栅是同心配置。上述系统的结构简单，避免了由于反射镜倾斜和偏心给系统装调和对准带来的困难；还能有效的矫正球面Offner凸面光栅光谱系统很难矫正的残余像差。
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公开(公告)号：CN105243645B
公开(公告)日：2018-04-13
申请号：CN201510609671.2
申请日：2015-09-22
Applicant: 中国科学院光电研究院
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明公开了一种LASIS图像配准预处理方法，包括：根据LASIS图像干涉条纹的特点，生成用消除干涉条纹的通用条纹模块；利用通用条纹模块对待配准的LASIS图像进行初步消除干涉条纹的处理；对进行初步消除干涉条纹处理后的LASIS图像做局部平滑处理，消除剩余干涉条纹，完成LASIS图像配准预处理。通过采用本发明公开的方法，可以快速消除LASIS图像的干涉条纹，从而提高配准精度。
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公开(公告)号：CN106644065A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611008180.3
申请日：2016-11-16
Applicant: 中国科学院光电研究院
CPC classification number: G01J3/0291 , G01J3/2823
Abstract: 本发明实施例公开了一种光谱相机的支撑箱体，在支撑箱体的立壁上设置光谱相机的光机组件接口，且所述光机组件接口处设置有外沿周向加强筋；所述支撑箱体的顶部设置有周向整圈加强筋，内部的立壁进一步设置有四处加强筋；在所述支撑箱体的四个安装孔处每个均设计有两处立壁加强筋，共设计8处立壁加强筋。该支撑箱体的结构能够解决现有技术箱体结构利用率低，且占用空间尺寸大、重量大的问题。
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