一种辐照装置
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112863729B

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202110055811.1

    申请日:2021-01-15

    Abstract: 本发明涉及核辐射利用技术领域,具体涉及一种辐照装置,所采用的技术方案:一种辐照装置,包括第一水箱,所述第一水箱中部设有第二水箱;所述第一水箱和第二水箱各侧壁之间、所述第一水箱和第二水箱底部之间均留有用于装填液态屏蔽材料的空腔;所述第二水箱内设有用于装填液态屏蔽材料以及放置辐照仓和辐射源的空腔。本发明的屏蔽材料为液态,成本低、施工操作简单、容易处理,不会影响生施工场地环境;能够得辐射源不因第一水箱内的屏蔽材料泄露而使辐射源直接裸露在空气中;具有安全可靠、操作简单、成本低廉的特点,并有极强的科研试验性和工程实用性。

    辐射防护门屏蔽性能检测装置及方法

    公开(公告)号:CN105092609B

    公开(公告)日:2018-09-11

    申请号:CN201410207442.3

    申请日:2014-05-16

    Abstract: 本发明公开了一种辐射防护门屏蔽性能检测装置,包括相对设置的射线源和辐射探测器,还包括驱动射线源和辐射探测器在Y轴方向上同步平行移动的Y轴驱动装置;还包括驱动辐射防护门在X轴方向上移动的X轴驱动装置。本发明还公开了一种辐射防护门屏蔽性能检测方法。本发明的优点在于,增加了X轴驱动装置和Y轴驱动装置,使射线源和辐射探测器经过辐射防护门上的每一个检测点,避免了工作人员手工更换射线源和辐射探测器的位置的问题,使工作人员能够置身于在安全的范围内完成工作,极大的提高了屏蔽性能检测过程的安全性。

    辐射防护门屏蔽性能检测装置及方法

    公开(公告)号:CN105092609A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201410207442.3

    申请日:2014-05-16

    Abstract: 本发明公开了一种辐射防护门屏蔽性能检测装置,包括相对设置的射线源和辐射探测器,还包括驱动射线源和辐射探测器在Y轴方向上同步平行移动的Y轴驱动装置;还包括驱动辐射防护门在X轴方向上移动的X轴驱动装置。本发明还公开了一种辐射防护门屏蔽性能检测方法。本发明的优点在于,增加了X轴驱动装置和Y轴驱动装置,使射线源和辐射探测器经过辐射防护门上的每一个检测点,避免了工作人员手工更换射线源和辐射探测器的位置的问题,使工作人员能够置身于在安全的范围内完成工作,极大的提高了屏蔽性能检测过程的安全性。

    堆外探测器中子灵敏度校准用线中子源组装装置及方法

    公开(公告)号:CN119335584A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202411249090.8

    申请日:2024-09-06

    Abstract: 本发明涉及堆外探测器中子灵敏度校准技术领域,提供了堆外探测器中子灵敏度校准用线中子源组装装置及方法,装置包括屏蔽主体,设有横向通孔,横向通孔一端上侧设有第一竖孔、另一端下侧设有第二竖孔、上侧对应第二竖向孔处设有第三竖孔;多孔定位件,沿长度方向间隔设有容置孔,其放入横向通孔后,中子源能从第一竖孔放入容置孔中;线中子源包壳,用于接收容置孔内的中子源,包括壳体和壳盖,壳盖与壳体通过螺纹连接,壳盖顶部设有用于传递扭矩的卡块;固定部件,用于固定或松开线中子源包壳;操作手柄,能放入第三竖孔中,底部设有能与卡块配合的卡槽。本发明能提高组装效率,降低工作人员在中子源转运过程中受到的辐射剂量。

    一种屏蔽容器的屏蔽性能扫描检测装置

    公开(公告)号:CN114038603A

    公开(公告)日:2022-02-11

    申请号:CN202111327427.9

    申请日:2021-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种屏蔽容器的屏蔽性能扫描检测装置,包括支架、第一升降组件、第二升降组件、放射源和探测器,第一升降组件的固定端与支架固定连接,放射源设置在屏蔽容器内,且第一升降组件驱动放射源上下移动,第二升降组件的固定端与支架固定连接,探测器第二升降组件的升降端固定连接,探测器设置在屏蔽容器外,第二升降组件驱动探测器上下移动,且探测器与放射源相对静止设置。本发明通过第一升降组件和第二升降组件的配合,可以实现放射源在屏蔽容器内上下运动,并通过第二升降组件控制探测器配合放射源,可以实现轴向方向上的屏蔽性能扫描检测,解决了现阶段的需要通过人工进行屏蔽性能检测的问题。

    大体积β量热计校准装置温控层的灌封工艺

    公开(公告)号:CN103552195B

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201310493752.1

    申请日:2013-10-21

    Abstract: 本发明公开了一种大体积β量热计校准装置温控层的灌封工艺,包括以下步骤:(a)聚氨酯层灌封;(b)硅橡胶层灌封,所述步骤(b)的具体过程如下:(b1)将温控Ⅲ层管体安装在底座上,温控Ⅲ层管体的内壁与温控Ⅱ层管体的外壁之间形成硅橡胶填充区;(b2)硅橡胶制备;(b3)采用引流工具将完成真空排气后的硅橡胶灌注于硅橡胶填充区内;(b4)在室温下对硅橡胶进行固化;(b5)将恒温层管体安装在底座上,恒温层管体的内壁与温控Ⅲ层管体的外壁之间同样形成硅橡胶填充区;(b6)重复步骤(b2)~(b4),完成硅橡胶的填充。本发明采用上述步骤,完全能够满足大体积β量热计校准装置温控层的灌封要求。

    核反应堆同位素靶件辐照后活度的测量装置

    公开(公告)号:CN208298559U

    公开(公告)日:2018-12-28

    申请号:CN201821077801.8

    申请日:2018-07-06

    Abstract: 本实用新型公开了核反应堆同位素靶件辐照后活度的测量装置,包括靶件定位管、升降系统和定位系统,所述靶件定位管浸设在水中,所述靶件定位管的上端凸出于水面,所述靶件定位管用于放置靶件;所述升降系统包括直线模组,所述直线模组上设置有升降滑块,所述升降滑块通过钢丝绳与靶件连接,所述升降滑块由伺服电机控制上下移动,所述定位系统包括设置在直线模组侧面的光栅尺和光栅传感器。本实用新型解决了现有测量装置测量精准度不高、需要人工近距离操作的问题,同时,具有工作效率高的优点。

    一种γ辐照场条件下的材料腐蚀试验装置

    公开(公告)号:CN218938089U

    公开(公告)日:2023-04-28

    申请号:CN202223238940.3

    申请日:2022-12-02

    Abstract: 本实用新型公开了一种γ辐照场条件下的材料腐蚀试验装置,包括:γ辐照装置、试验仓、反应釜;γ辐照装置包括试验台架、屏蔽水池,试验台架的底部固定安装在屏蔽水池的底部,试验台架的底部设有钴‑60源提供γ辐照场,钴‑60源置于屏蔽水下;试验仓,连接于试验台架;反应釜,安装于试验仓内以使反应釜与屏蔽水隔离,反应釜连接试验溶液循环回路,反应釜内设有腐蚀测试系统。本实用新型采用水下屏蔽的钴‑60源作为γ源,将连接试验溶液循环回路和放置材料挂片的反应釜,以及用于将屏蔽水和反应釜隔离并形成绝热环境的试验仓,与γ辐照装置有效结合,可有效解决核级材料研发过程中无法开展γ辐照条件下的材料腐蚀试验的问题。

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