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公开(公告)号：CN112557713A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011444343.9
申请日：2020-12-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种脉冲电流注入装置，包括内部形成真空腔室的真空舱；以可拆卸方式安装于真空舱的金属片；设置在真空舱内的脉冲激光器，用于提供脉冲激光束辐照金属片，以产生脉冲电流；注入电流导线一端与金属片连接，另一端经气密型射频转换接头延伸至真空舱外；以及用于在测试过程中连接待测单元，并接地的接地导线。本发明能够通过激光辐射金属片，诱导产生瞬态强脉冲电流，注入待测单元中，实现对待测单元仪器设备抗辐射能力的检测，具有峰值功率高、易于实现，电磁兼容性好等优点。
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公开(公告)号：CN108089217A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201711126956.6
申请日：2017-11-15
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01T1/00
Abstract: 本发明公开了一种基于迈克尔逊干涉仪的X射线探测器，包括探测器外壳和设置在该探测器外壳一侧外壁上的锥形筒，所述探测器外壳在与锥形筒连接位置嵌设有半导体材料片；所述探测器外壳正对半导体材料片的一侧外壁上设有探针光通光孔，在该探针光通光孔一侧安装有光电探测器；所述探测器外壳内部设有分光器件，在该分光器件两侧分别设有第一平面镜和第二平面镜，分光器件能够对由探针光通光孔引入的探针光进行分束，其中一束经第一平面镜反射，另一束由半导体材料片反射，两束光干涉并经第二平面镜反射后，能够被光电探测器接收。本发明可以有效避免电磁干扰，并能够对X射线进行高速探测，具有抗干扰能力强，响应速度快，可靠性好等优点。
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公开(公告)号：CN108037077A
公开(公告)日：2018-05-15
申请号：CN201711276551.0
申请日：2017-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01N21/17
Abstract: 本发明公开了一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置，属于无损检测技术领域，包括：探测头、光纤束及探测器；所述探测头一侧端面的中心设有一个泵浦激光发射口，沿泵浦激光发射口周向均匀分布有探测激光口；探测头的泵浦激光发射口通过光纤束中与之对应的光纤与激光光源连接，探测头的每个探测激光口通过光纤束中与之对应的光纤分别与对应的激光光源及对应的探测器连接；所述泵浦激光发射口用于发射泵浦激光；所述探测激光口用于发射探测激光，并接收反射回来的探测激光传输给对应的探测器；该装置能够利用激光产生声表面波并采用激光探测的方式对被检测物体进行表面缺陷检测,缺陷检测效率高且操作方便。
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公开(公告)号：CN107894608A
公开(公告)日：2018-04-10
申请号：CN201711275981.0
申请日：2017-12-06
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种基于光学折射率变化的超宽带中子探测器，属于核辐射探测技术领域，包括：由顺序固定的碳氢材料层、碘化铯层、半导体和衬底组成的探测单元、高压电源及中子束；在碳氢材料层和衬底的外表面上分别电镀第一金属膜和第二金属膜；第一金属膜与高压电源的负极电性连接；中子束入射到所述探测单元后，中子与碳氢材料层中的质子发生碰撞，产生反冲质子，反冲质子进入碘化铯层后产生自由电子；通过第一金属膜和第二金属膜之间负高压的电场作用将碘化铯层中产生的自由电子注入到半导体中，引起半导体的光学折射率变化；该探测器能够将中子束转化为半导体材料的折射率变化，利用光学干涉测量半导体材料的折射率变化获得中子束的强度信息。
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公开(公告)号：CN105699297A
公开(公告)日：2016-06-22
申请号：CN201610245981.5
申请日：2016-04-20
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明提供了一种单发次材料光克尔系数测量装置。所述装置中的飞秒激光器出射的飞秒脉冲通过分光片后将光脉冲分为透射光和反射光，反射光经过光学延时线、半波片、第一离轴抛物面反射镜、反射镜，聚焦到非线性样品中；透射光经过第一凸透镜、超连续谱展宽片，进行超连续谱展宽，超连续谱脉冲经过第二离轴抛物面反射镜、脉冲展宽器、反射镜、第三离轴抛物面反射镜，聚焦进入非线性样品，作为探测脉冲；泵浦脉冲与探测脉冲在非线性样品内部重合，泵浦光激发非线性样品，通过第二凸透镜聚焦进入光谱仪。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105067117A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510596413.5
申请日：2015-09-18
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种高谱分辨与宽谱测量范围的透射光栅谱仪，所述的透射光栅谱仪包括入射狭缝、透射光栅、条纹相机以及与条纹相机相匹配的光阴极狭缝和光阴极；物体发出的X射线通过入射狭缝，经透射光栅色散，形成两个分辨率不同的光谱，两光谱在空间上错位，经过条纹相机前的光阴极狭缝，挡除多余光谱，即可在条纹相机上获得高时空分辨、宽范围的X射线光谱。本发明的透射光栅谱仪在保证所测谱范围的基础上，可获得更高的谱分辨率，并且适用于时间分辨光谱的测量，对X射线谱精密测量具有广阔应用前景。
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公开(公告)号：CN118311007A
公开(公告)日：2024-07-09
申请号：CN202410742820.1
申请日：2024-06-11
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开一种基于分时与重频方法的X射线图像离线读取系统和方法，其中系统包括：脉冲重频激光器的输出端与分叉光纤的输入端连接，脉冲重频激光器发出的激光通过分叉光纤传播；分叉光纤的第一输出端设置于样品周围，使得脉冲重频激光器发出的激光通过所述第一输出端出射并照射激发样品；分叉光纤的第二输出端与光电转换器的输入端连接；光电转换器的输出端与延时器的输入端电信号连接；延时器的输出端与门控增强型CCD电信号连接；门控增强型CCD接收被激发的样品发出的发射光。本发明采用分时和重频的方法，并采用离线读取方式，克服了现有银激活磷酸玻璃（Ag‑PG）读取技术信噪比差，测量信号强度下限较高，空间分辨不足的问题。
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公开(公告)号：CN108345027B
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN201810218554.7
申请日：2018-03-16
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01T1/36
Abstract: 本发明提供了一种能谱仪，涉及粒子能谱诊断技术领域。能谱仪应用于高能离子、电子和重离子的能谱测量，能谱仪包括准直组件、磁场产生组件、电场产生组件和照相组件；准直组件包括承托面板以及安装在承托面板上的准直板，准直板上开设有准直孔；磁场产生组件包括磁轭和安装在磁轭上的磁体；电场产生组件可相对准直组件滑动，电场产生组件包括相对设置的平行电极板和异形电极板，异形电极板包括相连的平行部和楔形部，平行部与平行电极板平行，楔形部相对平行部向远离平行电极板的方向倾斜预设角度；照相组件对应磁场产生组件和电场产生组件安装。该能谱仪能够同时进行电子与离子的能谱测量，也能够对重离子实现分离并进行能谱测量。
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公开(公告)号：CN107748170B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201711059696.5
申请日：2017-11-01
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种中子和X射线双谱段成像相机，包括飞行管，所述飞行管包括主体部以及均与主体部连通的第一分支部和第二分支部，其中，所述主体部和第二分支部同轴设置，所述第一分支部的轴线与第二分支部的轴线之间具有夹角；在所述主体部、第一分支部和第二分支部的外端分别设有复合成像组件、第一光学图像传感器和第二光学图像传感器，在所述飞行管内设有光学元件、X射线闪烁体和中子闪烁体，其中，所述X射线闪烁体位于光学元件的前部，所述中子闪烁体位于光学元件的后部。采用以上结构，能够同时记录辐射源某方向发射的中子辐射和X射线辐射两个谱段图像，对X射线信号和中子辐射信号进行合理的分离，成像图像信噪比高。
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公开(公告)号：CN116162271A
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202310191732.2
申请日：2023-03-02
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
Abstract: 本发明公开了一种原位复合飞片材料及其制备方法，包括：以四羧酸二酐与芳香二胺为原料，在高沸点极性溶剂中进行缩合反应，生成聚酰胺酸溶液；以光刻图案化的铜爆炸箔/陶瓷片为基底，将合成的聚酰胺酸溶液以旋涂的方式在基底上原位形成均匀的聚酰胺酸薄膜；将旋涂成型的聚酰胺酸薄膜置于真空烘箱中，在程序控温条件下将聚酰胺酸脱水环化生成聚酰亚胺，最终获得聚酰亚胺原位复合飞片材料。本发明制备得到的聚酰亚胺原位复合飞片综合性能优异，具有飞片速度高、飞行姿态非常稳定的优点。
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