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公开(公告)号：CN110389342A
公开(公告)日：2019-10-29
申请号：CN201910823009.5
申请日：2019-09-02
Applicant: 上海无线电设备研究所
IPC: G01S13/90
Abstract: 本发明公开了一种基于近场竖直向SAR成像的目标与环境耦合分析方法，该方法包括以下步骤：S1、目标与环境竖直向SAR成像参数设置；S2、目标与环境竖直向SAR成像测量；S3、回波数据近场竖直向SAR成像处理；S4、基于竖直向SAR成像的目标与环境耦合散射分析。本发明将成像平面由传统的方位向变为俯仰向，实现目标、环境、以及耦合等不同部分的图像分离，能够准确识别与环境存在强耦合的目标主要部件，并分析耦合形成机理，为复杂环境中目标探测、识别、跟踪等提供理论依据和技术支撑。
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