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公开(公告)号：CN103279642B
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：CN201310147999.8
申请日：2013-04-25
Applicant: 上海卫星工程研究所
IPC: G06F19/00
Abstract: 本发明公开了一种无地面控制点的目标定位精度分析方法,包括:步骤1，针对卫星在轨实际情况，分析影响目标定位精度的误差源;步骤2，分别对各误差源建立误差传递模型;步骤3，综合各个误差源的影响值，计算出卫星对目标的定位精度;本发明提供的无地面控制点的目标定位精度分析方法，结合卫星在轨实际分析各个因素对目标定位精度的影响，通过分析影响在轨卫星实际对地面目标成像定位精度的各主要因素，计算出各因素对目标定位精度影响的大小，并通过建立误差传递模型，再根据各因素影响值综合计算图像目标的定位精度，可作为理论分析的参考依据。
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公开(公告)号：CN105891156A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610189036.8
申请日：2016-03-29
Applicant: 上海卫星工程研究所
IPC: G01N21/47
CPC classification number: G01N21/4738 , G01N2021/4711
Abstract: 本发明提供一种星表材料双向散射分布函数测试方法，解决整星状态下星表材料对杂散光测试的影响问题。包括：步骤A：采用单色仪将氙灯光谱按要求分出多个波长；步骤B：选取特定波长光谱和特定出入射角度进行整星状态下标准板和星表材料的输出电压测试，以及标准板随波长变化的半球反射率测试；步骤C：通过单色仪改变光谱波长，利用二维转动测量系统精确改变卫星空间角度，从而改变光线出入射角度，并重复步骤B；步骤D：建立改进的各向异性高斯模型；步骤E：采用基于各向异性的改进型高斯模型进行BRDF计算。本发明取得了方法合理、操作可行、快速高效、适应性强、数据准确可靠等有益效果，适用于光学卫星整星状态下的杂散光测试。
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公开(公告)号：CN105841022A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610188366.5
申请日：2016-03-29
Applicant: 上海卫星工程研究所
Abstract: 本发明提供一种太阳光源氙灯模拟系统，主要由光源阵列、匀光器组件、可变焦准直投影镜组件、指向镜、扫描镜组成；所述光源阵列发出的光经匀光器组件匀光后，经可变焦准直投影镜组件实现照明光斑大小和光束准直度的调节，经过指向镜和扫描镜的配合，实现光束从不同角度入射卫星。本发明系统构成合理、操作可行、简单方便、适应性强，适用于光学卫星整星状态下杂散光测试时太阳光源的模拟。
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公开(公告)号：CN108982062B
公开(公告)日：2020-04-21
申请号：CN201810615375.7
申请日：2018-06-14
Applicant: 上海卫星工程研究所
Abstract: 本发明提供了卫星杂散光测试中线阵成像光学载荷的视场对准方法，包括：确定卫星在测试场地的摆放位置和方向；转台摆放到位并调平；卫星安装于转台；预估载荷视场范围，设置成像工装G1、G2；在成像工装G1、G2上，通过激光水平仪和激光器照射激光垂线和激光点，确定载荷视场水平面；调整转台法兰面高度，使载荷视场面与消光设备槽口中心平面重合，完成载荷视场的对准工作。本发明提供了卫星杂散光测试时，线阵成像光学载荷视场与消光设备槽口的一种对准方法，解决了整星级杂散光测试时，因消光设备槽口窄，载荷视场对准困难的问题，降低了测试中整星操作的风险，对卫星杂散光测试前准备工作具有实际的指导意义。
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公开(公告)号：CN108982062A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810615375.7
申请日：2018-06-14
Applicant: 上海卫星工程研究所
Abstract: 本发明提供了卫星杂散光测试中线阵成像光学载荷的视场对准方法，包括：确定卫星在测试场地的摆放位置和方向；转台摆放到位并调平；卫星安装于转台；预估载荷视场范围，设置成像工装G1、G2；在成像工装G1、G2上，通过激光水平仪和激光器照射激光垂线和激光点，确定载荷视场水平面；调整转台法兰面高度，使载荷视场面与消光设备槽口中心平面重合，完成载荷视场的对准工作。本发明提供了卫星杂散光测试时，线阵成像光学载荷视场与消光设备槽口的一种对准方法，解决了整星级杂散光测试时，因消光设备槽口窄，载荷视场对准困难的问题，降低了测试中整星操作的风险，对卫星杂散光测试前准备工作具有实际的指导意义。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108827473A
公开(公告)日：2018-11-16
申请号：CN201810661557.8
申请日：2018-06-25
Applicant: 上海卫星工程研究所
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明提供了一种傅里叶变换红外光谱仪复数辐射定标处理方法，其包括以下步骤：步骤一，输入不同黑体温度点的干涉图数据以及黑体发射率数据。步骤二，将反向干涉图逆序并通过相关运算与正向干涉图对齐。步骤三，将每个温度点的多组干涉图数据均进行快速傅里叶变换得到复数光谱，并对同一温度下的结果求均值。步骤四，按照黑体发射率及Planck公式计算理论目标辐亮度。步骤五，对傅里叶变换红外光谱仪光谱范围内的每一波数位置，进行复数线性拟合，得到对应每一波数的定标系数，包含响应增益及背景辐亮度。步骤六，按照复数标定方程，将复数光谱数字量标定到输入辐亮度。本发明简单易行，能够有效解决仪器自发射对高精度探测的影响。
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公开(公告)号：CN105046667A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510465971.8
申请日：2015-07-31
Applicant: 上海卫星工程研究所
IPC: G06T5/00
Abstract: 本发明提供了一种45°旋转扫描方式空间相机的图像几何校正方法，其通过对45°旋转扫描方式的空间相机原理及成像过程进行分析，在遥感图像中的位置与其对应的地面位置之间，建立了合理的位置对应模型，并构建了原始图像与校正图像的坐标转换关系。依据坐标转换关系对原始遥感图像进行空间坐标投影。对投影后的离散点，利用Delaunay三角剖分算法进行重采样。对于共用主光学系统的对地遥感设备，多个波段之间可以共用坐标投影关系以及Delaunay三角网格，从而可以简便地对所有波段的数据进行校正。本发明方法合理、实施简易，对图像畸变的改善效果明显。
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公开(公告)号：CN107990982A
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201710876151.7
申请日：2017-09-25
Applicant: 上海卫星工程研究所
Abstract: 本发明提供了一种傅里叶变换光谱仪光谱计算中的相位校正方法，包括以下步骤：步骤一，获取干涉图序列x[n]，n＝0，1，…，N-1的绝对值最大位置，记为M，M为整数；步骤二，对原始干涉图序列中M-T～M+T范围内的点进行K倍样条插值，T为≥2的整数，K为≥5的整数，并获取插值后绝对值最大位置m作为干涉图零光程差位置，m为实数；步骤三，计算x[n]的FFT序列y[n]，n＝0，1，…，N-1；步骤四，按照傅里叶变换的平移性质进行相位校正，计算相位校正后的光谱序列z[n]，n＝0，1，…，N/2-1。本发明能够普遍适用且光谱计算精度高。
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公开(公告)号：CN107271040A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710353389.1
申请日：2017-05-18
Applicant: 上海卫星工程研究所
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种时间调制型傅里叶变换光谱仪的双向干涉图协同使用方法，其包括：步骤一，将反向干涉图序列进行逆序；步骤二，对正向干涉图序列和反向干涉图逆序后的干涉图序列进行三次样条插值；步骤三，分别搜索插值后两组序列的绝对值最大值对应位置，并按照两组序列绝对值最大值对应位置的差异，将经过逆序、插值后的反向干涉图进行移位；步骤四，将经过前三步骤处理后的反向干涉图进行抽样和截取，并对原始正向干涉图进行截取处理。本发明方法合理、实施简易，可以有效应用于时间调制型傅里叶变换光谱仪的双向干涉图的协同使用。
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