公开(公告)号：CN1734242A

公开(公告)日：2006-02-15

申请号：CN200510083554.3

申请日：2005-07-11

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 竹井洋次 ,  月泽正雄

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/02

CPC classification number: G01J5/16 ,  G01J2005/123 ,  G01K15/00

Abstract: 热电堆及热敏电阻在制造阶段，在每个产品中产生标准离差。预想内置于完成品中的热电堆及热敏电阻的特性因每个产品而异。而且，在组装阶段的组装也存在标准离差等的影响，如果保障完成品的测量精度，则存在不能廉价提供的问题。本发明提供的温度校正处理装置，具有：测量相对温度差的受光部；测量上述受光部温度的温度测量电路；和在上述受光部中加上与上述每个监视区域之间的相对温度差、计算出该每个监视区域的温度、并输出计算结果的计算电路；其中在每次测量时，根据上述受光部的温度校正上述计算结果。

公开(公告)号：CN1755336A

公开(公告)日：2006-04-05

申请号：CN200510099253.X

申请日：2005-09-07

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 竹井洋次 ,  月泽正雄

IPC: G01J1/42

CPC classification number: G01J5/16 ,  G01J2005/0077

Abstract: 由构成受光单元的热电堆输出的输出信号值非常小，通过放大器等放大后显示到显示装置，成为易受噪声和测量误差影响的构成。如果混入噪声和测量误差，则有在温度分布自身中产生畸变、不能识别所显示的物体这一问题。本发明的温度测量处理装置具有：通过非接触测量与每个监视领域之间的相对温度差的受光部；测量受光部自身温度的温度测量电路；和计算电路，其由温度测量电路计算温度和相对温度差、计算出该每个监视领域的温度，并输出计算结果。计算电路具有滤波处理部和平均化处理部，在进行滤波处理后进行平均化处理。