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公开(公告)号：CN101256810B
公开(公告)日：2012-11-07
申请号：CN200810083617.9
申请日：2005-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F17/30817 , G06F17/30849 , G06F17/30858 , G11B27/002 , G11B2220/41 , Y10S707/99945 , Y10S707/99948
Abstract: 提供一种将元数据从存储介质存储到再现设备的方法。用于再现存储在存储介质中的视听数据的一种再现设备，包括：存储单元，存储用于在存储介质中存储的视听数据中搜索期望的视听数据的元数据，和搜索单元，使用存储在存储单元中的元数据搜索期望的视听数据，其中，所述元数据包括指示用于创建存储在存储单元中的盘库的多张盘组成的卷的卷标识符。所述元数据还可包括多张盘公有的盘信息和标题信息，并且搜索单元可使用盘信息、标题信息和卷信息创建盘库，并使用创建的盘库来搜索期望的视听数据。
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公开(公告)号：CN1975873B
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：CN200610172739.6
申请日：2002-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0079 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/24082 , G11B20/1217 , G11B27/24 , G11B2020/1239 , G11B2020/1298 , G11B2220/215 , G11B2220/216 , G11B2220/2537 , G11B2220/2562 , G11B2220/2566 , G11B2220/257 , G11B2220/2575
Abstract: 一种用于光盘的光盘记录/再现系统，其允许数据写在光盘和/或从光盘读取数据，其中光盘包括：含有第一波纹的只读区；含有与第一波纹不同的第二波纹的可读/写区；和在只读区与可读/写区之间形成的连接区。所述光盘记录/再现系统包括：用于从所述光盘中读取数据的光学拾取器；读/写信号处理器，包括接收从所述光盘反射的光束的光电检测器、处理从光电检测器输出的电信号的运算电路单元、检测运算电路单元通过第一信道输出的信号当中的射频信号作为用户数据的用户数据检测器、和检测经过第二信道的跟踪误差信号和波纹信号的波纹信号检测器；伺服控制器，用于根据从所述波纹信号检测器检测的信号来控制所述光学拾取器的运动。
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公开(公告)号：CN101777356B
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201010002092.9
申请日：2005-11-17
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/005
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1879 , G11B2020/1285 , G11B2020/1823 , G11B2020/1893 , G11B2220/20
Abstract: 本发明提供一种确定在信息存储介质上是否存在缺陷的方法，以及使用该方法的记录/再现设备。该方法包括：从管理信息存储介质并包括缺陷块的状态信息和替换块的状态信息的缺陷列表搜索其状态信息指示缺陷块或替换块已未经检查而被重新初始化的缺陷条目，其中，所述介质包括用于记录替换在介质上的用户数据区中出现的缺陷块的替换块的备用区；和检查在搜索到的缺陷条目中注册的缺陷块或替换块。结果，可有效地重新安排通过执行未经检查盘的快速重新初始化产生的缺陷信息，从而提高驱动器系统的性能。
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公开(公告)号：CN101064157B
公开(公告)日：2012-04-04
申请号：CN200710104856.3
申请日：2003-08-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/10
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种具有临时缺陷管理信息区域和缺陷管理区域的盘，包括：缺陷管理区域，位于引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中；临时缺陷信息区域，形成于数据区域中，并且在其中记录临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，位于引入区域和引出区域中的至少一个中。因此，可以将用户数据记录在可记录盘尤其是一次写入盘，同时对其执行缺陷管理，从而实现具有有限记录容量的缺陷管理区域的有效使用。
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公开(公告)号：CN102318005A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201080007757.3
申请日：2010-02-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G11B2007/0013
Abstract: 提供了一种信息记录介质，所述信息记录介质包括多个记录层。每个记录层可包括至少一个光功率控制(OPC)区域，并且以不与给定半径中的相邻层的OPC区域重叠的方式分配每一OPC区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101075466B
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN200710126965.5
申请日：2005-05-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1816 , G11B20/1879 , G11B2020/1285 , G11B2020/1823 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/2537
Abstract: 一种信息记录介质、一种将数据记录到该介质和/或从该介质再现数据的方法、以及一种使用该介质的记录/再现设备，该介质具有数据区域，该数据区域包括用于记录用户数据的用户数据区域和用于记录替换在用户数据区域中发生的缺陷块的替换块的备用区域，其中，缺陷列表条目包括缺陷块和替换块的状态信息，用户数据区域中的缺陷块的状态信息被改变，并且备用区域中的替换块的状态信息被改变，以响应于被新分配以重新初始化该介质的备用区域。
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公开(公告)号：CN101312063B
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN200810109795.4
申请日：2004-12-27
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了一种光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法。所述光学记录介质，包括用户数据区和SA/DL区，其中，用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中，其中，所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目，所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。
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公开(公告)号：CN1757062B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200480005578.0
申请日：2004-06-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/0953 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种能够控制最佳记录功率的信息存储介质，一个层中的最佳功率控制(OPC)区不影响不同层中的OPC区。所述信息存储介质包括至少一个信息存储层，所述信息存储层包括用于获得光记录条件的最佳功率控制区。相邻的信息存储层中的OPC区被布置在所述信息存储介质的不同半径之内。因此，即使当所述信息存储介质被偏心或具有制造误差时，也可以防止由一个信息存储层中的OPC区对相邻的信息存储层中的OPC区的影响所导致的所述信息存储介质的记录性质的降低。
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公开(公告)号：CN101083112B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200710126967.4
申请日：2003-09-23
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备，以及盘，其中，该方法包括：将用户数据记录在数据区域中；和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此，该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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