公开(公告)号：CN100423116C

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200410074422.X

申请日：2004-09-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴贤洙 ,  沈载晟 ,  李载旭 ,  李政炫 ,  柳恩真 ,  赵莺燮

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/18

CPC classification number: G11B20/10101 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10296 ,  G11B20/10481

Abstract: 一种数据再现的装置和方法，其能够实现使通道的特性最优化的参考电平，并且能够被应用到光盘上的数据再现。根据该装置和方法，即使当输入信号在不正常状态时，输入电平值可被初始化，从而维特比解码器能够正常地操作。

公开(公告)号：CN100399453C

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：CN200410048295.6

申请日：2004-06-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴贤洙 ,  沈载晟 ,  李载旭 ,  赵莺燮 ,  柳恩真

IPC: G11B20/00

CPC classification number: G11B20/10148 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10055 ,  G11B20/10101 ,  G11B20/10111 ,  G11B20/10296

Abstract: 一种检测二进制数据的方法和装置，该装置包括：模-数(AD)转换器，用于将输入的模拟信号转换为数字信号；至少一个二进制化单元，用于将数字信号转换为二进制数据；维特比解码器，用于将数字信号解码并输出第三类型的二进制数据；和电平检测器，用于接收数字信号，从维特比解码器和至少一个二进制化单元之一中接收至少两种类型的二进制数据，并且当至少两种类型二进制数据的数目等于或大于预定的数目时从数字信号中检测和输出用于维特比解码的电平值，该两种类型的二进制数据在时间轴上彼此相应并具有相同值。因此，可以从模拟信号中更精确的检测二进制数据。