公开(公告)号：CN100511455C

公开(公告)日：2009-07-08

申请号：CN200480026343.X

申请日：2004-09-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴贤洙 ,  沈载晟 ,  李载旭 ,  李政炫 ,  柳恩真 ,  赵莺燮

IPC: G11B20/10

CPC classification number: G11B20/10009 ,  G11B20/10203 ,  G11B20/10296 ,  G11B20/10333

Abstract: 提供了一种基于维特比解码器的电平信息测量光盘上的信号质量的设备和方法。所述信号质量测量设备包括：二进制单元，从输入RF信号产生二进制信号；通道识别器，接收输入RF信号和从二进制单元输出的二进制信号，并输出与该二进制信号相应的参考电平值；和信息计算器，接收参考电平值并检测信号质量值。

公开(公告)号：CN100466089C

公开(公告)日：2009-03-04

申请号：CN200410074301.5

申请日：2004-09-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴贤洙 ,  李载旭 ,  柳恩真 ,  沈载晟 ,  赵莺燮 ,  李政炫

IPC: G11B20/10

CPC classification number: G11B20/10101 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10296 ,  G11B2020/1288 ,  G11B2220/2541

Abstract: 一种用于光盘数据再现的能产生优化信道特性的优化参考电平的装置和方法，该装置包括：信道识别器，用于接收均衡器的输入信号并检测最佳电平；和自适应处理器，用于通过使用检测出的最佳电平来更新均衡器的系数。因此，该数据再现装置和方法可检测能将维特比解码器的性能最大化的参考电平值并限制由倾斜引起的噪声以及因盘或拾取设备的形状而可能产生的其他影响。

公开(公告)号：CN100423116C

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200410074422.X

申请日：2004-09-15

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴贤洙 ,  沈载晟 ,  李载旭 ,  李政炫 ,  柳恩真 ,  赵莺燮

IPC: G11B20/10 ,  G11B20/18

CPC classification number: G11B20/10101 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10296 ,  G11B20/10481

Abstract: 一种数据再现的装置和方法，其能够实现使通道的特性最优化的参考电平，并且能够被应用到光盘上的数据再现。根据该装置和方法，即使当输入信号在不正常状态时，输入电平值可被初始化，从而维特比解码器能够正常地操作。

公开(公告)号：CN100399453C

公开(公告)日：2008-07-02

申请号：CN200410048295.6

申请日：2004-06-18

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 朴贤洙 ,  沈载晟 ,  李载旭 ,  赵莺燮 ,  柳恩真

IPC: G11B20/00

CPC classification number: G11B20/10148 ,  G11B20/10009 ,  G11B20/10055 ,  G11B20/10101 ,  G11B20/10111 ,  G11B20/10296

Abstract: 一种检测二进制数据的方法和装置，该装置包括：模-数(AD)转换器，用于将输入的模拟信号转换为数字信号；至少一个二进制化单元，用于将数字信号转换为二进制数据；维特比解码器，用于将数字信号解码并输出第三类型的二进制数据；和电平检测器，用于接收数字信号，从维特比解码器和至少一个二进制化单元之一中接收至少两种类型的二进制数据，并且当至少两种类型二进制数据的数目等于或大于预定的数目时从数字信号中检测和输出用于维特比解码的电平值，该两种类型的二进制数据在时间轴上彼此相应并具有相同值。因此，可以从模拟信号中更精确的检测二进制数据。