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公开(公告)号：CN109670346A
公开(公告)日：2019-04-23
申请号：CN201811184280.0
申请日：2018-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F21/73
Abstract: 本申请提供了一种半导体装置、半导体装置的安全密钥登记方法、以及一种电子系统。该半导体装置包括：物理防克隆功能单元阵列，其包括输出第一位的物理防克隆功能单元；非易失性存储器，其存储标志位、第一屏蔽位和第二屏蔽位，标志位指示第一位是否有效，通过根据第二位的奇偶性屏蔽第二位而产生第一屏蔽位，通过屏蔽第二位的辅助位而产生第二屏蔽位，第二位是第一位中的有效位；提取单元，其使用标志位来从第一位提取第二位；解屏蔽单元，其在接收到第二位时使用第一屏蔽位来解屏蔽第二位，从而提供第三位；位解码单元，其在接收到第三位时将第三位压缩为第四位；以及，块解码单元，其通过解码第四位和第二屏蔽位而产生安全密钥。
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公开(公告)号：CN108880818A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810175242.2
申请日：2018-03-02
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L9/32
CPC classification number: H04L9/3278 , H03K19/003 , H04L9/0866
Abstract: 本发明提供具有低误比特率的物理不可克隆功能电路、包括所述物理不可克隆功能电路的物理不可克隆功能系统以及具有物理不可克隆功能的集成电路。所述物理不可克隆功能电路包括：多个物理不可克隆功能单元，分别被配置成通过对电源电压进行分压来产生输出电压；参考电压产生器，被配置成通过对所述电源电压进行分压来产生第一参考电压；以及比较单元，被配置成将所述多个物理不可克隆功能单元的所述输出电压与所述第一参考电压依序进行比较，以输出所述多个物理不可克隆功能单元的数据值。
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公开(公告)号：CN111198671B
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN201910965515.8
申请日：2019-10-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 提供了一种随机数发生器。所述随机数发生器包括：第一环形振荡器，所述第一环形振荡器包括第一反相器链，所述第一反相器链包括串联连接的多个第一反相器，所述第一环形振荡器被配置为输出在所述多个第一反相器中的两个相邻的第一反相器之间的第一子节点处产生的第一随机信号；第二环形振荡器，所述第二环形振荡器包括第二反相器链，所述第二反相器链包括串联连接的多个第二反相器，所述第二环形振荡器被配置为输出在所述多个第二反相器中的两个相邻的第二反相器之间的第二子节点处产生的第二随机信号；以及信号处理电路，所述信号处理电路用于通过对所述第一随机信号和所述第二随机信号进行组合来产生随机数。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116136755A
公开(公告)日：2023-05-19
申请号：CN202211428758.6
申请日：2022-11-15
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 提供了随机数生成器以及操作随机数生成器的方法。根据示例实施例的随机数生成器包括：初始随机数生成器，所述初始随机数生成器被配置为生成初始随机数；自定时环(STR)振荡器，所述自定时环(STR)振荡器被配置为接收所述初始随机数，所述STR振荡器具有多个环级，所述多个环级中的每一个环级响应于时钟要么生成不改变先前时钟的输出状态的气泡要么生成改变先前时钟的输出状态的令牌；占空比校正器，所述占空比校正器被配置为对所述环级中的每一个环级的输出值的占空比进行校正；以及，采样电路，所述采样电路被配置为使用逻辑运算对占空比校正后的输出值进行采样以生成随机数。
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公开(公告)号：CN113259114A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110189979.1
申请日：2021-02-18
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种安全装置基于物理不可克隆函数(PUF)生成密钥。安全装置包括物理不可克隆函数(PUF)块、完整性检测器和后处理器。PUF块输出多个第一随机信号和多个对应的第一取反后的随机信号，多个对应的第一取反后的随机信号中的每一个具有与多个第一随机信号中的每一个的逻辑电平相反的逻辑电平。完整性检测器通过使用多个第一随机信号和多个对应的第一取反后的随机信号来确定多个第一随机信号的数据完整性。后处理器生成包括满足数据完整性的有效性信号的第一行密钥。
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公开(公告)号：CN111385091A
公开(公告)日：2020-07-07
申请号：CN201910743005.6
申请日：2019-08-13
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: H04L9/08
Abstract: 本公开涉及用于物理上不可克隆的功能的安全性的集成电路及设备。该集成电路包括：多个物理上不可克隆的功能(PUF)单元，每个PUF单元被配置为生成具有独特值的单元信号；选择器，所述选择器被配置为输出通过不反转由从所述多个PUF单元中选择的PUF单元输出的单元信号而获得的第一信号，以及通过反转该单元信号而获得的第二信号；以及密钥生成器，所述密钥生成器被配置为响应于所述第一信号和所述第二信号中的至少一个而生成安全密钥，其中，所述选择器包括第一转换电路和第二转换电路，所述第一转换电路被配置为生成所述第一信号，所述第二转换电路具有与所述第一转换电路的结构相同的结构并被配置为生成所述第二信号。
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公开(公告)号：CN108108153A
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201711163746.4
申请日：2017-11-21
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 公开了随机数发生器和使用可调整的亚稳定电压生成随机数的方法。随机数发生器可以包括：第一亚稳定逆变器，具有彼此连接的输入端子和输出端子并被配置为生成亚稳定电压；放大器，被配置为放大亚稳定电压；控制电路，被配置为调整亚稳定电压的阈值电压；以及采样器，被配置为基于对亚稳定电压进行采样来生成随机数。随机数发生器可以被配置为根据多种操作模式中的不同操作模式来进行操作。放大器可以是第二亚稳定逆变器，被配置为基于随机数发生器分别根据多种操作模式中的第一操作模式或第二操作模式进行操作来放大亚稳定电压或包括彼此连接的输入端子和输出端子。
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公开(公告)号：CN108089840A
公开(公告)日：2018-05-29
申请号：CN201710055989.X
申请日：2017-01-25
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G06F7/58
Abstract: 本发明提供了一种用于随机数产生器的随机性测试设备及方法。一种用于测试随机数产生器的设备包括相关性测试电路和随机性确定电路。相关性测试电路提取由随机数产生器产生的比特流中的均包括彼此隔开第一距离的两个比特的第一多个比特对，获得所述第一多个比特对的各自两个比特之间的差的第一总和，并获得第二多个比特对的各自两个比特之间的差的第二总和，所述第二多个比特对的每个比特对包括彼此隔开与第一距离不同的第二距离的两个比特。随机性确定电路基于第一总和和第二总和来确定比特流的随机性。
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