公开(公告)号：CN100495145C

公开(公告)日：2009-06-03

申请号：CN200510087791.7

申请日：2005-08-08

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 许承熙 ,  严台钦 ,  金镇活 ,  元敏荣 ,  李建宗

IPC: G02F1/1333

CPC classification number: G02F1/1309 ,  Y10S117/90 ,  Y10T117/10 ,  Y10T117/1024 ,  Y10T117/1032

Abstract: 本发明公开了一种用于去除液晶显示装置中的显示缺陷的方法，包括将附着有偏光板的液晶面板置于第一缓冲器腔室；升高第一缓冲器腔室的压力；将第一缓冲器腔室与具有预定压力的反应器腔室相连通；将液晶面板从第一缓冲器腔室传送到反应器腔室；升高第二缓冲器腔室的压力；将第二缓冲器腔室与反应器腔室相连通；以及将液晶面板从反应器腔室传送到第二缓冲器腔室。

公开(公告)号：CN100492104C

公开(公告)日：2009-05-27

申请号：CN200510098768.8

申请日：2005-09-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李建宗 ,  任灿享 ,  元敏荣 ,  李元熙 ,  宋寅喆

IPC: G02F1/13

CPC classification number: G02F1/1362 ,  G02F2001/136254 ,  G09G3/006 ,  G09G3/3648 ,  G09G2300/0426

Abstract: 一种包括提高像素测试特性的测试线的显示基片及其制造方法，其中，显示基片包括基片、信号线、测试线，基片又包括布置像素的像素区域、置于围绕像素区域周边的缓冲器区域、及形成于缓冲器周围的磨光区域。信号线从磨光区域经过缓冲器区域向像素提供驱动信号。测试线与信号线晶格状交叉并分别置于磨光区域及缓冲器区域，各测试线与由测试线个数除信号线个数所得个数的信号线连接。从而，能够较精密地测试显示图像的像素特性。

公开(公告)号：CN1837900A

公开(公告)日：2006-09-27

申请号：CN200610067396.7

申请日：2006-03-20

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 宋寅喆 ,  李日浩 ,  元敏荣 ,  任灿享

IPC: G02F1/13 ,  G01N21/00 ,  G01R31/00

CPC classification number: G06T7/0004 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/956 ,  G01N2021/9513

Abstract: 目测装置包括多个用于拍照显示面板的相机和用于对拍照的图像进行处理的处理器。具体地说，该目测装置包括：具有上面安装了显示面板的面板安装单元的工作台；垂直于面板安装单元设置并具有以矩阵形式安排的多个相机的相机模块；和用于对由相机拍照的显示面板的图像进行处理的处理器。所述多个相机以具有相机之间可变距离的矩阵形式排列。由于该目测装置包括以矩阵形式排列的多个相机，所以能够有效地用于检测各种缺陷。

公开(公告)号：CN1746729A

公开(公告)日：2006-03-15

申请号：CN200510098768.8

申请日：2005-09-07

Applicant: 三星电子株式会社

Inventor： 李建宗 ,  任灿享 ,  元敏荣 ,  李元熙 ,  宋寅喆

IPC: G02F1/13

CPC classification number: G02F1/1362 ,  G02F2001/136254 ,  G09G3/006 ,  G09G3/3648 ,  G09G2300/0426

Abstract: 一种包括提高像素测试特性的测试线的显示基片及其制造方法，其中，显示基片包括基片、信号线、测试线，基片又包括布置像素的像素区域、置于围绕像素区域周边的缓冲器区域、及形成于缓冲器周围的磨光区域。信号线从磨光区域经过缓冲器区域向像素提供驱动信号。测试线与信号线晶格状交叉并分别置于磨光区域及缓冲器区域，各测试线与由测试线个数除信号线个数所得个数的信号线连接。从而，能够较精密地测试显示图像的像素特性。