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公开(公告)号:CN101727982A
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200910205790.6
申请日:2009-10-16
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11C11/5678 , G11C13/0004 , G11C13/0064 , G11C13/0069 , G11C2013/0088 , G11C2013/0092
Abstract: 一种执行编程和验证操作的可变电阻存储器装置,包括:存储器单元阵列,包括多个存储器单元;脉冲移位器,对多个编程脉冲进行移位以生成多个移位的编程脉冲;写及验证驱动器,接收所述多个移位的编程脉冲以将随所述多个移位的编程脉冲变化的编程电流提供给所述多个存储器单元;和控制逻辑,在编程/验证操作期间将所述多个编程脉冲提供给所述脉冲移位器和所述写及验证驱动器,使得在所述编程/验证操作期间至少两个写数据比特被并行地编程到所述存储器单元阵列。