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公开(公告)号：CN105577035A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201610090217.5
申请日：2016-02-18
Applicant: 三峡大学
IPC: H02N15/00
CPC classification number: H02N15/00
Abstract: 本发明公开了一种空间小磁体悬浮控制方法，涉及空间磁场的控制方法技术领域。所述方法包括如下步骤：1)构建小磁体悬浮控制系统，所述悬浮控制系统包括若干组位置控制线圈、若干组姿态控制线圈和小磁体；2)通过改变位置控制线圈中通电电流的大小及方向，来改变小磁体在所述悬浮控制系统中的位置，通过改变姿态控制线圈中通电电流的大小及方向，来改变小磁体的姿态。所述方法通过控制线圈电流大小来实现对空间悬浮小磁体的姿态和位置进行精确控制。
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公开(公告)号：CN105203629A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510615820.6
申请日：2015-09-24
Applicant: 三峡大学
IPC: G01N27/85
Abstract: 一种磁性金属构件表面应力集中区及微裂纹的磁探测方法，在金属表面的方向施加一个一定强度的交变磁场，用磁传感器探测金属近表面各处的弱磁信号；通过锁相技术对探测到的弱磁信号进行处理，依据应力集中区表面弱磁信号的特点来提取与应力集中区相关的特征信号，获得对应于应力集中区或微裂纹处的磁信号大小；最后利用计算机绘图获得金属表层应力集中区分布图，并给出应力集中区大小、强度、形状的定量关系，从而对金属构件可能发生的断裂地点进行早期预警。本发明一种磁性金属构件表面应力集中区及微裂纹的磁探测方法，依据应力集中区表面弱磁信号的特点来绘制应力集中区的分布图，并给出应力集中区大小、强度、形状的定量关系，从而对金属构件可能发生的断裂地点进行早期预警。
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公开(公告)号：CN110311591A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910482220.5
申请日：2019-06-04
Applicant: 三峡大学
Abstract: 本发明发明公开了一种不引入转矩的空间小磁体悬浮控制方法，涉及磁悬浮控制方法技术领域。所述方法包括如下步骤：1）构建小磁体悬浮控制系统，所述悬浮控制系统包括多重位置控制四极线圈和小磁体；2）通过成对改变位置控制四极线圈中通电电流的大小及方向，来改变小磁体在所述悬浮控制系统中的位置。所述方法的优势是，控制空间小磁体位置过程中不会导致空间小磁体转动，从而提高了控制的稳定性。
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公开(公告)号：CN110221099A
公开(公告)日：2019-09-10
申请号：CN201910482227.7
申请日：2019-06-04
Applicant: 三峡大学
IPC: G01P15/105 , G01P15/08 , H02N15/00
Abstract: 本发明公开了一种采用多重四极线圈独立回归控制技术的高精度光学定位磁悬浮加速度计，用于测量飞行器的线性加速度。包括真空磁屏蔽腔系统、光学相干位移检测系统、磁悬浮控制系统和小磁体检验质量块。所述加速度计采用光学相干位移检测技术来实现对小磁体检验质量块位置和姿态的实时精确测量，采用多重四极线圈独立回归控制的磁悬浮控制技术实现对小磁体检验质量块位置和姿态的精确独立回归控制，从而将小磁体检验质量块始终控制在腔室中心；当空间飞行器受到外界非保守力作用时，由于飞行器的加速度将正比于位置控制线圈的电流大小，最终通过位置控制线圈电流的测量即可精确测量加速度的大小和方向。所述加速度计可以避开高精度机械加工的技术瓶颈，制作工艺简单，可以实现更高精度的加速度矢量测量。
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公开(公告)号：CN106443069B
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201611032189.8
申请日：2016-11-22
Applicant: 三峡大学
IPC: G01P15/105
Abstract: 本发明公开一种基于各向异性磁电阻效应的差分式单轴MEMS加速度计，所述差分式单轴MEMS加速度计包括：晶圆框体，所述晶圆框体包括中心竖框，所述中心竖框将所述晶圆框体的内部空间分为两个封闭的框室；磁源，所述磁源设置在所述晶圆框体的中心竖框中；支撑梁、检验质量块、AMR芯片，各所述框室内均容置有一个支撑梁、检验质量块、AMR芯片，且各所述AMR芯片的中心与磁源的中心在同一水平线上，所述磁源到各所述AMR芯片的距离相同，使得各所述AMR芯片的磁敏感方向与磁源的磁矩方向相同，且各所述检验质量块的位移方向与磁矩方向在同一条直线上，以保证各所述AMR芯片只感受到单一方向的磁场。本发明差分式单轴MEMS加速度计，可提高加速度的测量精度和测量范围。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105738653B
公开(公告)日：2019-01-29
申请号：CN201610090220.7
申请日：2016-02-18
Applicant: 三峡大学
IPC: G01P15/03
Abstract: 本发明公开了一种高精度光学位移磁悬浮加速度计，用于测量飞行器的线性加速度。包括真空磁屏蔽腔系统、光学相干位移检测系统、磁悬浮控制系统和小磁体检验质量块。所述加速度计采用光学相干位移检测技术来实现对小磁体检验质量块位置和姿态的实时精确测量，采用磁悬浮控制技术来实现对小磁体检验质量块位置和姿态的精确回归控制，从而将小磁体检验质量块始终控制在腔室中心；当空间飞行器受到外界非保守力作用时，由于飞行器的加速度将正比于位置控制线圈的电流大小，最终通过位置控制线圈电流的测量即可精确测量加速度的大小和方向。所述加速度计可以避开高精度机械加工的技术瓶颈，制作工艺简单，可以实现更高精度的加速度矢量测量。
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公开(公告)号：CN105577035B
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201610090217.5
申请日：2016-02-18
Applicant: 三峡大学
IPC: H02N15/00
Abstract: 本发明公开了一种空间小磁体悬浮控制方法，涉及空间磁场的控制方法技术领域。所述方法包括如下步骤：1)构建小磁体悬浮控制系统，所述悬浮控制系统包括若干组位置控制线圈、若干组姿态控制线圈和小磁体；2)通过改变位置控制线圈中通电电流的大小及方向，来改变小磁体在所述悬浮控制系统中的位置，通过改变姿态控制线圈中通电电流的大小及方向，来改变小磁体的姿态。所述方法通过控制线圈电流大小来实现对空间悬浮小磁体的姿态和位置进行精确控制。
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公开(公告)号：CN106443069A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201611032189.8
申请日：2016-11-22
Applicant: 三峡大学
IPC: G01P15/105
CPC classification number: G01P15/105
Abstract: 本发明公开一种基于各向异性磁电阻效应的差分式单轴MEMS加速度计，所述差分式单轴MEMS加速度计包括：晶圆框体，所述晶圆框体包括中心竖框，所述中心竖框将所述晶圆框体的内部空间分为两个封闭的框室；磁源，所述磁源设置在所述晶圆框体的中心竖框中；支撑梁、检验质量块、AMR芯片，各所述框室内均容置有一个支撑梁、检验质量块、AMR芯片，且各所述AMR芯片的中心与磁源的中心在同一水平线上，所述磁源到各所述AMR芯片的距离相同，使得各所述AMR芯片的磁敏感方向与磁源的磁矩方向相同，且各所述检验质量块的位移方向与磁矩方向在同一条直线上，以保证各所述AMR芯片只感受到单一方向的磁场。本发明差分式单轴MEMS加速度计，可提高加速度的测量精度和测量范围。
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公开(公告)号：CN105675920A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610090218.X
申请日：2016-02-18
Applicant: 三峡大学
IPC: G01P15/105
CPC classification number: G01P15/105
Abstract: 本发明公开了一种高精度静磁悬浮加速度计，用于测量飞行器的线性加速度。包括真空磁屏蔽腔系统、磁场位移传感系统、静磁悬浮控制系统和检验磁体。所述加速度计采用磁场位移传感技术来实现对检验磁体位置和姿态的实时精确测量，采用静磁悬浮控制技术来实现对检验磁体位置和姿态的精确回归控制，从而将检验磁体始终控制在腔室中心，同时也是空间飞行器的质心位置；当空间飞行器受到外界非保守力作用时，由于飞行器的加速度将正比于位置控制线圈的电流大小，最终通过位置控制线圈电流的测量即可精确测量加速度的大小和方向。所述加速度计可以避开高精度机械加工的技术瓶颈，制作工艺简单，可以实现更高精度的加速度矢量测量。
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公开(公告)号：CN106872730B
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201710306500.1
申请日：2017-05-04
Applicant: 三峡大学
IPC: G01P15/125 , G01P15/13
Abstract: 本发明公开了一种加速度测量装置及方法。该装置包括：电极笼、位移测量系统、悬浮控制系统、检验质量块和计算装置；电极笼为长方体；检验质量块初始时位于电极笼内部的平衡位置；位移测量系统用于测量检验质量块的位移数据，悬浮控制系统的输入端连接位移测量系统的输出端，悬浮控制系统的输出端连接电极笼，用于根据位移测量系统测量的位移数据产生反馈控制电压，控制所述检验质量块的平动和转动，使所述检验质量块悬浮于所述电极笼的平衡位置；计算装置的输入端连接悬浮控制系统的另一输出端，根据反馈控制电压计算检验质量块的线加速度和角加速度。采用本发明，实现了测控分离，降低了测量系统与控制系统之间的相互干扰，提高检测精度。
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