基于热稳频和声光移频的纵向塞曼激光锁频方法和装置

    公开(公告)号:CN104051946A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201410308229.1

    申请日:2014-07-01

    Abstract: 基于热稳频和声光移频的纵向塞曼激光锁频方法和装置属于激光应用技术领域,本发明采用声光移频技术将多台基于热稳频的纵向塞曼激光器的输出激光频率锁定于同一台参考纵向塞曼稳频激光器的输出激光频率上,从而使所有激光器输出激光具有统一的频率值,目的是解决传统稳频激光器相互之间的频率一致性较低的不足,为超精密激光干涉测量提供一种新型的激光光源。

    超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法

    公开(公告)号:CN104049248A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201410263631.2

    申请日:2014-06-14

    CPC classification number: G01S11/12

    Abstract: 超外差与外差结合式抗光学混叠激光测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、扩束准直镜组、测量光路及电路单元;其测距方法包括步骤如下:步骤一、开启频率基准激光器、半导体激光器和稳频He-Ne激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了超长波长和超短波长的不能同步产生,激光测尺不可直接溯源和非线性周期误差和频率混叠的问题,具有测量效率高、精度高、稳定性和实时性强的特点。

    混合外差式多频抗混叠激光测距装置与方法

    公开(公告)号:CN104048642A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201410263632.7

    申请日:2014-06-14

    CPC classification number: G01S11/12

    Abstract: 混合外差式多频抗混叠激光测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、抗混叠测量光路和相位测量单元组成;其测距方法包括步骤如下:步骤一、开启频率基准激光器和偏频锁定半导体激光器和He-Ne激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了超长波长和超短波长的不能同步产生,激光测尺不可直接溯源和非线性周期误差和频率混叠的问题,具有测量效率高、精度高、稳定性和实时性强的特点。

    抗光学混叠的可溯源精测尺半导体激光测距装置与方法

    公开(公告)号:CN104035089A

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201410263659.6

    申请日:2014-06-14

    CPC classification number: G01S11/12

    Abstract: 抗光学混叠的可溯源精测尺半导体激光测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、抗混叠测量光路和相位测量单元组成;其测距方法包括步骤如下:步骤一、开启频率基准激光器和半导体激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了超长波长和超短波长的不能同步产生,激光测尺不可直接溯源和非线性周期误差和频率混叠的问题,具有测量范围大、测量精度高、稳定性和实时性强的特点。

    混合外差式可溯源精测尺He-Ne激光测距装置与方法

    公开(公告)号:CN104035086A

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201410263608.3

    申请日:2014-06-14

    CPC classification number: G01S11/12

    Abstract: 混合外差式可溯源精测尺He-Ne激光测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、扩束准直镜组、测量光路及电路单元;其测距方法包括步骤如下:步骤一、开启频率基准激光器和双纵模稳频He-Ne激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差和,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了相位激光测距技术中缺少一种能兼顾多测尺的同步性和可溯源性的装置与方法的问题,具有测量效率高、测量精度高、稳定性和实时性强的特点。

    抗光学混叠的可溯源精测尺相位激光测距装置与方法

    公开(公告)号:CN104034265A

    公开(公告)日:2014-09-10

    申请号:CN201410263658.1

    申请日:2014-06-14

    Abstract: 抗光学混叠的可溯源精测尺相位激光测距装置与方法属于相位激光测距技术,所述测距装置包括测尺生成单元、激光移频单元、抗混叠测量光路和相位测量单元组成;其测距方法包括步骤如下:步骤一、开启频率基准激光器和He-Ne激光器;步骤二、一束作为参考激光束,另一束作为测量激光;步骤三、以作为精测尺;步骤四、以作为粗测尺;步骤五、移动测量角椎棱镜至目标端,分别得到精测尺与粗测尺的相位差Φ1和Φ2,最后通过公式得到被测距离值;本发明解决了超长波长和超短波长的不能同步产生,激光测尺不可直接溯源和非线性周期误差和频率混叠的问题,具有测量效率高、精度高、稳定性和实时性强的特点。

    基于角锥棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置

    公开(公告)号:CN103743346A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201310745318.8

    申请日:2013-12-23

    Abstract: 基于角锥棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置属于激光应用技术领域;发明方法采用了两束具有不同频率的空间分离平行光,两平行光束在非偏振分光棱镜上的入射点位于入射面的对角线上,并关于入射面的中心点对称,并采用角锥棱镜作为参考棱镜和测量棱镜;该方法最终产生了两个具有相反多普勒频移的干涉测量信号来进行干涉测量;本发明方法及装置对被测目标的倾斜不敏感,消除了干涉仪中的频率混叠现象,提高了外差干涉测量的测量精度,同时将外差干涉测量的分辨率提高了一倍。

    基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置

    公开(公告)号:CN103743336A

    公开(公告)日:2014-04-23

    申请号:CN201310745960.6

    申请日:2013-12-23

    Inventor: 胡鹏程 谭久彬

    Abstract: 基于直角棱镜的对角入射光激光外差干涉测量方法与装置属于激光应用技术领域;发明方法采用了两束具有不同频率的空间分离平行光,两平行光束在非偏振分光棱镜上的入射点位于入射面的对角线上,并关于入射面的中心点对称,并采用直角棱镜作为参考棱镜和测量棱镜;该方法最终产生了两个具有相反多普勒频移的干涉测量信号来进行干涉测量;本发明方法及装置消除了干涉仪中的频率混叠现象,提高了外差干涉测量的测量精度,同时将外差干涉测量的分辨率提高了一倍。

    基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置

    公开(公告)号:CN103499292A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201310475939.9

    申请日:2013-10-11

    Inventor: 胡鹏程 谭久彬

    Abstract: 基于双标准光轴的角位移激光干涉仪校准方法与装置属于激光测量技术领域,本发明将被校准激光干涉仪两条测量光束穿过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔,两条被校准激光干涉仪测量光束平行置于两条平行标准测量光束中间位置;由两条标准测量光束在该平面投影点构成的线段区域内,两条标准测量光束和两条被校准激光干涉仪测量光束受环境干扰的程度差异很小,标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束空气折射率值非常接近。

    双光轴回位及气浴式线位移激光干涉仪校准方法与装置

    公开(公告)号:CN103499284A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201310475537.9

    申请日:2013-10-11

    Abstract: 双光轴回位及气浴式线位移激光干涉仪校准方法与装置属于激光测量技术,本发明将被校准激光干涉仪测量光束穿过双轴中空激光干涉镜组的中间通孔,被校准激光干涉仪测量光束平行置于两条平行标准测量光束中间位置处;标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束垂直距离很小,两条标准测量光束的空气折射率平均值接近被校准激光干涉仪测量光束的空气折射率值;气浴装置形成的稳定气浴环境使空气温度、湿度和气压近似均匀分布,使标准测量光束与被校准激光干涉仪测量光束的空气折射率值更接近;微动装置根据两个光束位置探测器测量出衍生位移的平均值,对目标反射镜衍生位移进行实时回位补偿,保证目标反射镜反射面上测量光束的入射位置不发生变化。

Patent Agency Ranking