光盘缺陷管理区信息的验证方法

    公开(公告)号:CN1300793C

    公开(公告)日:2007-02-14

    申请号:CN01116272.4

    申请日:2001-04-09

    Inventor: 高祯完 郑铉权

    Abstract: 一种验证光盘的缺陷管理区(DMA)信息的方法,验证在在测试模式下,用于在/从带有DMA信息的光盘记录/重现信息的记录和重现装置执行了测试DMA信息生成和更新过程后,DMA信息被正确生成和更新。该方法包括读取并通过使用预先设定的用于测试模式的参考DMA信息,验证生成或更新的DMA信息,并提供验证的结果。因此,容易验证该记录和重现装置通过使用带有预定的与实际缺陷无关的缺陷信息的不同的测试光盘,而不使用实际具有缺陷的光盘,并通过执行各种测试模式,准确地生成或记录缺陷信息。

    光学记录介质、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备及方法

    公开(公告)号:CN1902689A

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:CN200480039941.0

    申请日:2004-12-29

    Inventor: 黄盛熙 高祯完

    Abstract: 提供了一种光学记录介质、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的设备、将数据记录在光学记录介质上/从光学记录介质再现数据的方法、以及记录有用于执行所述方法的程序的计算机可读记录介质。在所述光学记录介质上排列有导入区域、用户数据区域和导出区域。用户数据区域包括缺陷列表(DL)区域,在DL区域中记录有包括关于在用户数据区域发生的缺陷的信息的DL,导入区域或导出区域包括盘定义结构(DDS)/记录管理数据(RMD)区域,在所述DDS/RMD区域中记录有用于管理光学记录介质的DDS和用于管理光学记录介质的记录状态的RMD。因此,通过对盘有效地执行缺陷管理来高效地管理盘的存储容量。

    光学记录介质、用于在光学记录介质中记录数据/从光学记录介质再现数据的设备及方法

    公开(公告)号:CN1902688A

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:CN200480039940.6

    申请日:2004-12-29

    Inventor: 黄盛熙 高祯完

    Abstract: 本发明涉及一种其上布置有导入区、数据区和导出区的信息记录介质、用于将数据记录在该信息记录介质上/从该信息记录介质再现数据的设备和方法、以及存储用于执行将数据记录在信息记录介质上的方法的程序的计算机可读记录介质。其中,导入区或导出区包括用于记录关于缺陷管理和记录管理的信息的盘定义结构(DDS)/记录管理数据(RMD)区,用于缺陷管理的DDS和RMD被写入DDS/RMD区中。数据区包括备用区(SA)/缺陷列表(DL)区,所述SA/DL区用于记录替换信息记录介质上的缺陷数据的替换数据以及与信息记录介质上出现的缺陷有关的缺陷信息,DDS/RMD块被记录在DDS/RMD区的第一可记录部分中,所述DDS/RMD块包括用于管理信息记录介质的数据区分配信息和初始化信息,所述数据区分配信息包括布置在数据区中的DDS/RMD区的位置信息以及SA/DL区的位置信息。从而可通过有效管理盘上的缺陷来有效管理盘的存储容量。

    光学记录介质、记录/再现设备和记录/再现方法

    公开(公告)号:CN1902687A

    公开(公告)日:2007-01-24

    申请号:CN200480039939.3

    申请日:2004-12-27

    Inventor: 黄盛熙 高祯完

    Abstract: 一种光学记录介质,包括用户数据区和SA/DL区,其中,用于替换用户数据区中的缺陷块的替换块以及与对应于所述缺陷块的缺陷有关的信息被记录在所述SA/DL区中,其中,所述与缺陷有关的信息包括连续缺陷列表条目,所述连续缺陷列表条目包括与位于用户数据区的连续位置中的缺陷有关的信息。

    光学数据存储介质的缺陷管理方法

    公开(公告)号:CN1291389C

    公开(公告)日:2006-12-20

    申请号:CN02150594.2

    申请日:1999-10-11

    Inventor: 高祯完 朴仁植

    Abstract: 一种光学数据存储介质,以及一种用于光学数据存储介质的缺陷管理方法。多个区段形成一个组,无需规定一个区段和一个组之间的关系。备用区包括一个用于滑移替换的备用区和一个用于线性替换的备用区。用于滑移替换的备用区被首先分配,用于线性替换的备用区是根据滑移替换后剩余的主备用区的尺寸和光盘使用的目的而分配的。当光盘使用期间,用于线性替换的备用区变得不足时,从一个逻辑文件区的最后部,按顺序分配一个用于线性替换的附加备用区,从而可以更加灵活地和有效地分配备用区。

    一种写入式盘、管理一次写入式盘数据区的方法和再现其数据的设备和方法

    公开(公告)号:CN1870148A

    公开(公告)日:2006-11-29

    申请号:CN200610093133.3

    申请日:2004-03-11

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B2020/1873 G11B2220/20

    Abstract: 一种允许数据区的管理的一次写入式盘、一种管理一次写入式盘的数据区的方法、一种将数据记录在一次写入式盘上的设备、一种从一次写入式盘中再现数据的设备和方法。一次写入式盘包括:导入带、数据区、和导出带。一次写入式盘包括存储指示数据区的至少一个扇区是否被分配用于盘缺陷管理的区分配信息的预定区。在盘和方法中,指定数据区的结构的区分配信息被记录在盘上,因此允许记录/再现设备识别数据区结构。因此,可将除用于存储用户数据的区之外的用于盘缺陷管理的诸如备用区的区分配至数据区。将用于盘缺陷管理的区分配至数据区保证一次写入式盘的有效使用。

    用于管理盘缺陷的方法和设备及其盘

    公开(公告)号:CN1855244A

    公开(公告)日:2006-11-01

    申请号:CN200610080191.2

    申请日:2004-02-27

    Abstract: 一种一次写入盘包括存在于导入区和导出区的至少一个中的缺陷管理区;存在于导入区和导出区的至少一个中的临时缺陷管理区;以及存在于导入区和导出区的至少一个中的驱动器和盘信息区。关于临时缺陷信息和临时缺陷管理信息的位置的信息记录在驱动器和盘信息区中,临时缺陷信息和包括驱动器和盘信息的临时缺陷管理信息被记录在临时缺陷管理区中,并且为了盘完成,最后记录在临时缺陷管理区中的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息被记录在缺陷管理区中。

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