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公开(公告)号：CN101276625B
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN200810082802.6
申请日：2005-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/04 , G11B19/02 , G11B19/12 , G11B20/00086 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1278 , G11B2020/1826 , G11B2220/20
Abstract: 一种信息记录介质、一种记录/再现方法和设备、以及一种主机设备，被提供以确保具有新标准和现有标准驱动器系统的功能的信息记录介质之间的兼容性。该信息记录介质包括：数据区域；缺陷管理区域，用于管理在数据区域中发生的缺陷；和访问控制区域，其中记录关于由该介质被载入其中的记录/再现设备可识别的功能的访问控制数据和关于由该记录/再现设备不可识别的功能的访问控制数据，其中，记录在缺陷管理区域中的写保护标志和记录在访问控制区域中的访问控制数据提供用于核查该介质是否可重新初始化的重新初始化核查信息。
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公开(公告)号：CN1975873B
公开(公告)日：2012-09-26
申请号：CN200610172739.6
申请日：2002-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0079 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/24082 , G11B20/1217 , G11B27/24 , G11B2020/1239 , G11B2020/1298 , G11B2220/215 , G11B2220/216 , G11B2220/2537 , G11B2220/2562 , G11B2220/2566 , G11B2220/257 , G11B2220/2575
Abstract: 一种用于光盘的光盘记录/再现系统，其允许数据写在光盘和/或从光盘读取数据，其中光盘包括：含有第一波纹的只读区；含有与第一波纹不同的第二波纹的可读/写区；和在只读区与可读/写区之间形成的连接区。所述光盘记录/再现系统包括：用于从所述光盘中读取数据的光学拾取器；读/写信号处理器，包括接收从所述光盘反射的光束的光电检测器、处理从光电检测器输出的电信号的运算电路单元、检测运算电路单元通过第一信道输出的信号当中的射频信号作为用户数据的用户数据检测器、和检测经过第二信道的跟踪误差信号和波纹信号的波纹信号检测器；伺服控制器，用于根据从所述波纹信号检测器检测的信号来控制所述光学拾取器的运动。
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公开(公告)号：CN102483945A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201080040323.3
申请日：2010-07-09
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/00086 , G11B20/1217 , G11B20/1833 , G11B2020/1222 , G11B2020/1289 , G11B2220/235 , H03M13/2906 , H03M13/2954
Abstract: 一种对信息编码的方法和对信息解码的方法，一种用于执行以上一种方法或两种方法的设备和其上存储了所述信息的信息存储介质，对信息编码的方法包括在两次ECC编码操作之间对数据加密，对信息解码的方法包括在两次ECC解码操作之间对数据解密。
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公开(公告)号：CN102422356A
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN201080021369.0
申请日：2010-05-26
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 一种信息存储介质包括：用户数据区，用于记录用户数据；备用区，包括备用块，每个备用块用于替换在用户数据区中出现的缺陷块；缺陷管理区，在该缺陷管理区中记录关于在用户数据区中出现的缺陷块的信息，其中，所述备用区的备用块包括：可用备用块，按使用顺序在所述可用备用块的前部存在替换块；和可用备用块，按使用顺序在所述可用备用块的前部不存在替换块；其中，备用区的下一可用位置指针被记录在缺陷管理区中，所述备用区的下一可用位置指针表示按使用顺序在可用备用块的前部不存在替换块的所述可用备用块中的第一可用备用块。
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公开(公告)号：CN101064157B
公开(公告)日：2012-04-04
申请号：CN200710104856.3
申请日：2003-08-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/10
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种具有临时缺陷管理信息区域和缺陷管理区域的盘，包括：缺陷管理区域，位于引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中；临时缺陷信息区域，形成于数据区域中，并且在其中记录临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，位于引入区域和引出区域中的至少一个中。因此，可以将用户数据记录在可记录盘尤其是一次写入盘，同时对其执行缺陷管理，从而实现具有有限记录容量的缺陷管理区域的有效使用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102318005A
公开(公告)日：2012-01-11
申请号：CN201080007757.3
申请日：2010-02-12
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/126 , G11B2007/0013
Abstract: 提供了一种信息记录介质，所述信息记录介质包括多个记录层。每个记录层可包括至少一个光功率控制(OPC)区域，并且以不与给定半径中的相邻层的OPC区域重叠的方式分配每一OPC区域。
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公开(公告)号：CN102290062A
公开(公告)日：2011-12-21
申请号：CN201110220009.X
申请日：2007-11-15
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B2020/1221 , G11B2020/1222 , G11B2020/1267 , G11B2020/1823 , G11B2020/1846 , G11B2020/1893 , G11B2220/2541 , G11B2220/2579
Abstract: 一种以簇为单位记录数据的记录介质、用于再现记录介质上的数据的方法和设备以及用于在记录介质上记录数据的方法和设备，其中，每个簇包括多个地址字段，每个地址字段包括32位地址单元号(AUN)地址信息，并且AUN地址信息包括：保留区域，记录在4位上；层信息，记录在3位上，表示记录与AUN地址信息相应的数据的层；和位置信息，记录在25位上，表示与AUN地址信息相应的数据的位置。在本发明的记录介质中，扩展了记录地址的空间，从而保护数据结构中可记录数据的地址的地址区域。
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公开(公告)号：CN1757062B
公开(公告)日：2011-11-09
申请号：CN200480005578.0
申请日：2004-06-11
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/0953 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种能够控制最佳记录功率的信息存储介质，一个层中的最佳功率控制(OPC)区不影响不同层中的OPC区。所述信息存储介质包括至少一个信息存储层，所述信息存储层包括用于获得光记录条件的最佳功率控制区。相邻的信息存储层中的OPC区被布置在所述信息存储介质的不同半径之内。因此，即使当所述信息存储介质被偏心或具有制造误差时，也可以防止由一个信息存储层中的OPC区对相邻的信息存储层中的OPC区的影响所导致的所述信息存储介质的记录性质的降低。
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公开(公告)号：CN1950886B
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN200580013527.7
申请日：2005-04-26
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/004
CPC classification number: G11B7/004 , G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种信息存储介质和一种用于将数据记录在该信息存储介质上/从该信息存储介质再现数据的方法和设备。所述信息存储介质包括多个记录层，每个记录层具有用户数据区，拾取器可在用户数据区上记录数据。按从离拾取器最近的记录层到离拾取器最远的记录层的顺序记录数据，将记录数据的记录层的用户数据区中的可记录区域小于拾取器和该记录层之间的将记录数据的记录层中的可记录区域。每个记录层包含最佳功率控制(OPC)区和用户数据区中的可记录区域以在所述多个记录层之间保持相同的记录/再现特性。
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公开(公告)号：CN101083112B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200710126967.4
申请日：2003-09-23
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备，以及盘，其中，该方法包括：将用户数据记录在数据区域中；和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此，该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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