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公开(公告)号：CN105619178A
公开(公告)日：2016-06-01
申请号：CN201610130447.X
申请日：2016-03-09
Applicant: 华中科技大学
IPC: B23Q17/09
CPC classification number: B23Q17/0957 , B23Q17/0961
Abstract: 本发明公开了一种数控机床断刀实时检测方法，包括下列步骤：1)数控系统读取刀具工艺数据库中保存的和值；2)设置计时器j＝1；3)基于主轴电机平均电流判断是否存在断刀，如果是，则中止加工程序，如果否，则判断加工程序是否结束，如果是，则停止加工，如果否则继续加工。本发明通过加工过程中数控内部的主轴时域电流进行判断，降低应用成本，可靠性更高。
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公开(公告)号：CN105204442A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510559403.4
申请日：2015-09-02
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/4155
CPC classification number: G05B19/4155 , G05B2219/32013
Abstract: 本发明公开了一种数控系统内部指令标记、实时调制及发送方法，包括以下步骤：数控系统接收来自用户的指令，并根据该指令确定用户希望调制、发送的内部指令以及发送方式；数控系统的蓝牙模块通过寻呼扫描，与外部数据采集系统对应的蓝牙设备建立连接；数控系统对内部指令进行同步实时标记和实时编码,并将生成的二进制码传送给数控系统的蓝牙模块；数控系统的蓝牙模块对二进制码进行实时调制并发送。本发明能够建立数据所反映的系统状态的变化特征与加工指令之间的对应关系，能够充分反映加工任务的特征，能够为分析数控加工过程、判断数控加工质量提供更直接准确的依据。
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公开(公告)号：CN104317247B
公开(公告)日：2015-08-19
申请号：CN201410536110.X
申请日：2014-10-13
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/404
Abstract: 本发明公开了一种双加工点共轨运动控制方法、加工方法及其装置，用于在数控机床加工轮廓轨迹时实现主加工点和副加工点同时位于该轮廓轨迹上，包括S1根据主加工点的坐标、行进方向以及与副加工点的距离，计算副加工点在轮廓轨迹上的位置以及弦线的方向；S2计算弦线在下一时刻的方向；S3计算该弦线旋转的角度；S4计算弦线旋转需要加工点在工件坐标系下分别在X轴和Y轴方向的补偿量；S5结合工件坐标系和机床坐标系的换算关系，获得主加工点和副加工点的绝对坐标，实现双加工点共轨控制。本发明方法填补了实际加工过程中需要两个加工点均要求在轮廓轨迹上的技术空白。
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公开(公告)号：CN104570932A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201410676707.4
申请日：2014-11-21
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/19
CPC classification number: G05B19/19
Abstract: 本发明公开了一种数控系统加工过程数据的采集、转储方法及其系统，该方法包括以下步骤：在加工开始前设置需要采集的数据类型，该数据类型包括数控系统内部的指令数据；在加工过程中，以一个数控系统的控制周期为周期将需要采集的数据类型对应的数据记录到数据缓存区中；然后再将数据缓存区中的数据通过通讯接口转储到其他存储设备。本发明与现有技术相比，由于通过对数控系统内部指令数据进行采集，采集的数据类型全面，能够有效弥补现有数控系统无法全面反映加工过程的缺陷；数据为按周期连续采集，且传感器反馈的采样信号与内部的指令数据同步采集，能够充分反映加工任务的特征，能够为数控加工过程的分析提供更直接准确的依据。
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公开(公告)号：CN104317247A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201410536110.X
申请日：2014-10-13
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/404
CPC classification number: G05B19/404
Abstract: 本发明公开了一种双加工点共轨运动控制方法、加工方法及其装置，用于在数控机床加工轮廓轨迹时实现主加工点和副加工点同时位于该轮廓轨迹上，包括S1根据主加工点的坐标、行进方向以及与副加工点的距离，计算副加工点在轮廓轨迹上的位置以及弦线的方向；S2计算弦线在下一时刻的方向；S3计算该弦线旋转的角度；S4计算弦线旋转需要加工点在工件坐标系下分别在X轴和Y轴方向的补偿量；S5结合工件坐标系和机床坐标系的换算关系，获得主加工点和副加工点的绝对坐标，实现双加工点共轨控制。本发明方法填补了实际加工过程中需要两个加工点均要求在轮廓轨迹上的技术空白。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103095537A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201210584687.9
申请日：2012-12-28
Applicant: 武汉华中数控股份有限公司 , 华中科技大学
IPC: H04L12/40
Abstract: 本发明公开了一种并行控制两类工业以太网总线从站设备的数控装置；该数控装置包括人机交互单元和主控单元；人机交互单元由通信及数据交换接口、LCD显示屏、操作面板等组成；主控单元采用CPU＋FPGA的结构，二者通过系统总线接口模块进行数据交换，第一工业以太网总线主站功能模块、第一双端口数据存储器、第一网络芯片和第一网络接口等用于第一类工业以太网总线协议的处理及数据传输，第二工业以太网总线主站功能模块、第二双端口数据存储器、第二网络芯片和第二网络接口等用于第二类工业以太网总线协议的处理及数据传输，中断信号处理模块对两类总线主站功能模块发送给CPU的中断申请信号进行逻辑控制，实现两类总线控制过程的同步。
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公开(公告)号：CN101984376B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN201010550163.9
申请日：2010-11-19
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G05B17/00
Abstract: 本发明涉及一种数控机床故障模拟装置，该装置采用现场总线与数控装置相连，内部采用上下位机结构。下位机为采用Linux实时操作系统的工控机，主要负责运行数控机床的PLC逻辑模型，并通过现场总线与数控装置进行数据交换；上位机则采用运行WINDOWS操作系统的PC机，通过通用以太网与下位机相连，主要解决数控机床参数设置、故障设置、故障报警等人机交互工作。本装置主要解决高档数控装置的故障检测功能和能力的试验条件，可以模拟数控机床故障、可编程控制器故障、伺服驱动器和伺服电机故障、主轴驱动器和主轴电机故障。利用该装置模拟数控机床的故障可以用来检测数控装置对数控机床故障的响应、保护、自动修复等能力。
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公开(公告)号：CN101630997B
公开(公告)日：2012-08-15
申请号：CN200910061656.3
申请日：2009-04-14
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
Abstract: 本发明提出一种环形总线数据报文CRC校验字的动态修正方法，该方法采用FPGA实现。当网络报文经过各从站点时，网络报文与从站完成数据交换并被发送给下一站，与此同时，从站根据交换数据后的新网络报文的数据计算新的CRC校验字，新的CRC校验字的计算采用按位计算法，并采用4至16倍网络芯片工作时钟作为CRC的高频计算频率，减少了CRC校验字的计算时间，在网络报文几乎无延时等待的情况下，实现新的CRC校验字紧随网络报文发送给下一站，从而实现CRC校验字的动态修正。网络报文延时和CRC高频计算频率和CRC类型有关，8倍网络芯片工作时钟下，CRC-32校验的网络延时是2个网络芯片工作时钟。本发明数据报文的延时很短，几乎可以忽略不计，非常适合于“飞读”通信模式。
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公开(公告)号：CN101984375A
公开(公告)日：2011-03-09
申请号：CN201010545489.2
申请日：2010-11-16
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: G05B17/00
Abstract: 本发明公开了一种数控机床故障模拟方法，主要通过构建机床设置信息表、构建故障设置信息表、构建机床逻辑模型、构建机床伺服模型、嵌入机床故障点、运行机床仿真模型、触发机床故障产生来实现数控机床故障的模拟。该数控机床故障模拟方法主要解决高档数控装置的故障检测功能和能力的试验条件，可以模拟数控机床故障、可编程控制器故障、伺服驱动器和伺服电机故障、主轴驱动器和主轴电机故障。利用该方法模拟的数控机床的故障可以用来检测数控装置对数控机床故障的响应、保护、自动修复等能力。
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公开(公告)号：CN101758422A
公开(公告)日：2010-06-30
申请号：CN200910273170.6
申请日：2009-12-10
Applicant: 华中科技大学 , 武汉华中数控股份有限公司
IPC: B23Q17/00
Abstract: 一种数控装置技术指标的检测分析装置，属于数控装置的测试装置，解决现有数控装置技术指标检测装置对于各类数控装置不通用，以及检测分析的技术指标不全面的问题。本发明包括数据接口、参数设置模块、数据处理模块、模拟反馈模块、分析评价模块、显示模块和测试代码库；数据处理模块对数据接口接收的指令数据进行运算，检测结果输出到分析评价模块和显示模块；参数设置模块设置模拟反馈模块的参数，测试代码库提供各项待测项目标准测试用G代码。本发明利用模拟反馈模块模拟实际伺服驱动、电机和机床特性，计算出相应的反馈数据，排除了实际机电系统不确定性和机床加工性能不一致的影响，能够准确、客观的分析评价数控装置的各项重要技术指标。
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