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公开(公告)号：CN1311437C
公开(公告)日：2007-04-18
申请号：CN200510008631.9
申请日：2005-02-28
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0901 , G11B7/0053 , G11B7/00718 , G11B7/24082 , G11B19/125 , G11B19/128
Abstract: 一种用于将数据记录在具有至少一个具有多个凹槽和槽脊的记录层的信息存储介质上或从该信息存储介质再现数据的方法和系统。从信息存储介质读取凹槽信号并且根据读取的凹槽信号来识别凹槽记录或槽脊记录。基于识别的信息来记录和/或再现数据。该方法和系统从凹槽抖动信号来确定凹槽记录或槽脊记录，由此去除为了获得跟踪信息而单独地记录跟踪信息或执行跟踪的需要。
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公开(公告)号：CN1310218C
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200410030073.1
申请日：2002-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/00454 , G11B7/00456 , G11B7/0062
Abstract: 一种用于在光记录介质上记录数据的方法和装置。该方法包括通过利用具有一包含多脉冲的擦除模式的记录波形来形成标记或间隙。通过这样操作，该方法能防止标记形状的畸变并改进标记形状，从而改进了记录/再现特性。一种在光记录装置中用于响应于具有第一电平和第二电平的输入数据分别在光记录介质上交替顺序形成第一状态和第二状态的方法，包括：产生记录波形，其包含：具有多个与输入数据中的第一电平相对应的第一脉冲的第一多脉冲；和具有多个与输入数据中的第二电平相对应的第二脉冲的第二多脉冲。
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公开(公告)号：CN1937046A
公开(公告)日：2007-03-28
申请号：CN200610137527.4
申请日：2004-02-13
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 李坰根
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00456 , G11B7/00736 , G11B7/0079
Abstract: 一种包括引入区域、用户数据区域、和引出区域的信息存储介质。关于该信息存储介质与遵循较老版本的标准的驱动器是否兼容的信息被记录在引入和引出区域中的至少一个中。因此，其记录性能被提高，并且遵循较老版本的标准的驱动器可以将数据记录在较新版本的信息存储介质中或从该信息存储介质再现数据。
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公开(公告)号：CN1300781C
公开(公告)日：2007-02-14
申请号：CN02147528.8
申请日：2002-10-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B20/12
CPC classification number: G11B7/24085 , G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B20/10009
Abstract: 提供了一种在光盘上记录数据的方法。将一个字节的数据调制为p个通道比特。当最小标记长度大于0.5微米且小于1.0微米、最小标记长度与q个通道比特相对应时p/q大于4.5且小于8、以及格式效率大于0.6且小于1.0的时候，记录数据。于是，可以以更高密度在现有的光盘上记录数据。
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公开(公告)号：CN1897124A
公开(公告)日：2007-01-17
申请号：CN200610101805.0
申请日：2003-07-30
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/00456 , G11B7/005 , G11B7/0053 , G11B7/0062 , G11B7/00736 , G11B20/10481 , G11B20/12 , G11B20/1217 , G11B27/24 , G11B27/322 , G11B2020/1265 , G11B2020/1278 , G11B2220/216 , G11B2220/2562
Abstract: 一种信息存储介质包括：区域，在其中随着盘版本号和记录速度中的至少一个的改变而更新的盘相关信息和记录相关信息被同现有的盘相关信息和记录相关信息一起记录。现有的盘相关信息和记录相关信息被记录，并且更新的盘相关信息和记录相关信息被记录在现有的盘相关信息和记录相关信息被记录在其中的区域。因此，即使使用现有驱动器，数据也能被在/从信息存储介质的新版本记录/再现。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1287363C
公开(公告)日：2006-11-29
申请号：CN200410034646.8
申请日：2004-04-19
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/0045 , G11B7/007 , G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/24038 , G11B20/18 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种考虑了与可重写的盘的兼容性来管理缺陷的方法、一种用于实现所述方法的再现和/或记录装置、一种由此而来的一次写入式记录介质、以及一种包括用于控制缺陷管理的实现的计算机可读代码的介质。所述方法包括：在一次写入式记录介质上提供多个临时缺陷管理区域；通过使用所述多个临时缺陷管理区域来进行缺陷管理；以及当所述多个临时缺陷管理区域之中的一个用完时，将指示该一个临时缺陷管理区域用完的满标志信息写入到剩余的临时缺陷管理区域之中的至少一个上。因此，能够有效地进行缺陷管理。
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公开(公告)号：CN1745419A
公开(公告)日：2006-03-08
申请号：CN200480003268.5
申请日：2004-06-26
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 李坰根
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 一种信息存储介质，具有多个信息存储层，其中的每个包括用于获得最优记录条件的最优功率控制(OPC)区域，其中，在奇数和偶数信息存储层中的OPC区域被彼此设置不相对并且彼此不接触，或者彼此部分重叠并且不使用重叠部分。因此，当一个信息存储层的OPC区域执行OPC时，该OPC不影响另一个信息存储层。
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公开(公告)号：CN1723492A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200480001756.2
申请日：2004-02-03
Applicant: 三星电子株式会社
Inventor： 李坰根
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/00736 , G11B7/261 , G11B7/263
Abstract: 一种包括数据在其中以凹坑的形式被记录的多个区的只读光学信息存储介质，其中，该多个区中的至少一个中的凹坑具有与形成在该多个区的其它区中的凹坑不同的凹坑图样。
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公开(公告)号：CN1705987A
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN200480001431.4
申请日：2004-03-16
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B19/12 , G11B19/28 , G11B20/10 , G11B20/1252 , G11B2020/1229 , G11B2020/1231 , G11B2020/1259 , G11B2020/1278 , G11B2220/2537
Abstract: 一种其中速度信息已被记录的信息存储介质，以及记录和/或再现信息存储介质上的数据的方法。信息存储介质包括只再现区域，其中记录着指示驱动器能否记录和/或再现信息存储介质上的数据的记录速度信息和/或再现速度信息。记录和/或再现信息存储介质中的数据的方法，该方法包括：将速度信息和/或再现速度信息记录为只再现区域中的只再现数据的记录，其被用来向驱动器指示器速度性能；并且当驱动器的记录速度或再现速度的性能匹配记录速度信息或再现速度信息时，记录或再现信息存储介质上的数据。
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公开(公告)号：CN1682308A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN03821542.X
申请日：2003-09-09
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1217 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 一种用于对记录介质分配备用区的方法和装置，及其一种记录介质。该方法包括：根据第一记录操作将数据记录在记录介质的数据区中；根据包含在所记录的数据中的缺陷来创建关于所调整的备用区尺寸的信息；将关于备用区的信息和关于根据第一记录操作所记录的数据中的缺陷的信息作为第一临时缺陷信息记录在数据区中；和将用于管理第一临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第一临时缺陷管理信息记录在其存在于记录介质的导入区、导出区和外部区中的至少一个中的临时缺陷管理信息区中。
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