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公开(公告)号：CN109816638B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201910005050.1
申请日：2019-01-03
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于动态环境特征和加权贝叶斯分类器的缺陷提取方法，通过选取热图像序列中的步长将图像分块并去除冗余信息，提取代表性瞬态热响应。之后，再利用特征提取公式进行特征提取，在贝叶斯分类器中引入环境变量，用来描述在同一区域中不同环境下的瞬态热响应，进一步细化在同一区域下的瞬态热响应，使得在多个环境情况下，即使有部分瞬态热响应发生混叠，也能够通过剩下有差异的瞬态热响应进行分类将瞬态热响应分类，然后，对三维矩阵进行变换，最后采用模糊C均值算法进行图像分割，二值化分割后的图像，从而提取出热图像的缺陷特征。本发明考虑了检测环境，避免瞬态热响应的混叠，从而避免检测环境差异带来的瞬态热响应类别分类误差。
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公开(公告)号：CN109598711B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201811451815.6
申请日：2018-11-30
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于特征挖掘和神经网络的热图像缺陷提取方法，通过选取热图像序列中的步长将图像分块，并根据分块去除冗余信息，提取代表性瞬态热响应。本发明利用特征提取公式对瞬态热响应的总热量、吸热阶段的温度变化率、放热阶段的温度变化率、温度均值、温度峰值这些特征进行提取，并根据所提取出的特征，构建神经网络，并将瞬态热响应分类，然后，对三维矩阵进行变换，得到含有缺陷区域的二维图像，最后采用模糊C均值算法对含有缺陷区域的二维图像进行聚类和二值化，得到最终的缺陷图像，从而提取出热图像的缺陷特征。本发明通过深层次挖掘瞬态热响应曲线所包含的物理信息，提高了聚类的合理性，从而提高了缺陷提取的精准度。
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公开(公告)号：CN108873786B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201810835061.8
申请日：2018-07-26
Applicant: 电子科技大学
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明公开了一种基于数字量调理的数据采集系统，对模拟输入信号采用交直流耦合模块进行交直流耦合，再通过衰减模块进行衰减，对得到的模拟信号通过ADC模块进行采集，将采集信号发送至采用FPGA实现的数字量调理模块，以二进制数字量处理方式对采集信号进行调理，将得到的调理信号由数据处理模块进行处理后送入上位机进行显示。本发明通过对采集信号进行数字量调理，提高信号调理的精度，避免硬件调理电路所带来的不可改善的参数指标对设计系统的性能影响。
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公开(公告)号：CN112560328A
公开(公告)日：2021-03-26
申请号：CN202011294967.7
申请日：2020-11-18
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于表面微应变信号的IGBT键合引线故障诊断方法，首先利用仿真软件对IGBT的电‑热‑力场进行仿真，得到不同故障状态的IGBT表面键合线各引脚处的微应变信号；利用时频域分析的方法对故障的特征进行分析，并选取能明显表征差异的参数指标作为特征向量；利用支持向量机的原理，将特征向量和分类标签组成样本集，利用OVA方法每次将样本看作两大类，对其进行二次规划和最优化问题求解，再利用对偶问题求出满足KKT条件的最优解，并引入核函数使其在高维线性空间中进行分类，找到支持向量即距离超平面最近的样本点代入最优解，找到分类模型的决策函数，最后将样本集输入模型，进行训练和预测，从而完成IGBT键合引线故障诊断。
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公开(公告)号：CN112432588A
公开(公告)日：2021-03-02
申请号：CN202011422827.3
申请日：2020-12-08
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明公开了一种通过磁饱和特性测量吸波涂层厚度的方法，先根据激励线圈、铁芯、磁传感器和被测试件等搭建吸波涂层厚度测量模型，测量模型搭建完成后，依次增大激励线圈中的电流，当测量磁性图层达到磁饱和状态时，通过磁传感器测量出设置点处的磁感应强度，并记录下此时的电流，以及移除被测试件后设置点的磁感应强度，然后根据测量模型，构建设置点处的磁感应强度数学模型，最后反解磁感应强度数学模型得到涂层厚度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109164377B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201811242553.2
申请日：2018-10-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明公开了一种高速AD/DA混合芯片的故障测试装置及方法，用于诊断电路板上的高速ADC和DAC器件；对于ADC的诊断，将给定电压值输入PC上位机，PC上位机通过AD/DA一体模块产生模拟电压，并加载至被测ADC，产生测试指令和测试向量，在通过IEEE1149.1控制器作用于AD测试模块，AD测试模块快将采集到的电压量化值串行移出至IEEE1149.1控制器，继而IEEE1149.1控制器将数据发送给PC上位机，并与预期响应作比较，可以判断ADC故障情况；对于DAC的诊断，将给定电压值输入PC上位机，PC上位机将电压值转化为测试向量并产生测试指令，经IEEE1149.1控制器译码后，测试向量通过TDI移入DA测试模块，进而加载至被测DAC，再接收由AD/DA一体模块采集到的被测DAC输出的模拟电压，与预期响应作比较，可以判断DAC故障情况。
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公开(公告)号：CN109872319B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201910137931.9
申请日：2019-02-25
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于特征挖掘和神经网络的热图像缺陷提取方法，通过选取热图像序列中的步长将图像分块，并根据分块去除冗余信息，提取代表性瞬态热响应。本发明利用特征提取公式对瞬态热响应的总热量、吸热阶段的温度变化率、放热阶段的温度变化率、温度均值、温度峰值这些特征进行提取，并根据所提取出的特征，构建神经网络，并将瞬态热响应分类，然后，对三维矩阵进行变换，得到含有缺陷区域的二维图像，最后采用模糊C均值算法对含有缺陷区域的二维图像进行聚类和二值化，得到最终的缺陷图像，从而提取出热图像的缺陷特征。本发明通过深层次挖掘瞬态热响应曲线所包含的物理信息，提高了聚类的合理性，从而提高了缺陷提取的精准度。
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公开(公告)号：CN110940841B
公开(公告)日：2020-12-01
申请号：CN201910953804.6
申请日：2019-10-09
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的数字三维示波器快速采集系统，待测信号经ADC模块采集后经过抽点模块存入数据采集模块中，数据采集模块其内部是一个DTO_FIFO，该DTO_FIFO读写均由控制模块通过计数器来进行控制，使其可以在存储当前帧波形数据的同时读出上一帧波形数据进行映射；当数字三维映射模块中波形映射的帧数达到上位机设定值后，上位机将存储在RAM中的映射结果读取走，并转换成RGB值在显示模块中进行显示。本发明在提升DTO波形捕获率的同时，还可以节省FIFO存储资源。
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公开(公告)号：CN110836992B
公开(公告)日：2020-12-01
申请号：CN201911053176.2
申请日：2019-10-31
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R13/02 , G01R21/133 , G01R23/02
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的示波功率仪采集系统，在进行定频采样时，待测信号经ADC模块采集后经过抽点模块存入定频采样模块中；在进行同步采样时，采样数据首先通过基波频率测量模块准确测量得到基波频率，其方法为先使用FFT分析法粗略计算出输入信号的基波频率，经过滤除毛刺后通过测频法或测周法精确测量出信号的频率，最后通过对输入信号倍频后完成同步采样。本发明可以在精准测量输入信号基波频率并显示的同时，快速实现定频采样和同步采样。
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公开(公告)号：CN111985156A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN202010834612.6
申请日：2020-08-19
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/27 , G01R31/392 , G01R31/367 , G01R31/396 , G06F111/08 , G06N3/04 , G06N3/08 , G06N7/00 , G06N20/10
Abstract: 本发明公开了一种预测电池健康状态的方法，通过提取电池在每一次完整充放电过程中历史的恒流充电时间、恒压充电时间、容量增量曲线最大值、放电等压差时间间隔、欧姆内阻五个特征，以及健康状态SOH等特征，然后对提取的特征进行处理，建立起迁移高斯过程回归模型，从而预测出新电池在后续使用过程中的SOH值，具有操作简单、快速，且预测精度高等优点。
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