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公开(公告)号:CN211809172U
公开(公告)日:2020-10-30
申请号:CN202020239871.X
申请日:2020-03-02
Applicant: 国网冀北电力有限公司电力科学研究院 , 国网冀北电力有限公司计量中心 , 国家电网有限公司 , 华北电力科学研究院有限责任公司
Inventor: 王亚超 , 袁瑞铭 , 姜振宇 , 赵思翔 , 刘科学 , 易忠林 , 谭志强 , 巨汉基 , 徐占河 , 刘影 , 韩迪 , 庞富宽 , 郭皎 , 钟侃 , 王晨 , 崔文武 , 汪洋 , 王国兴 , 彭鑫霞 , 李文文 , 邓晓洋
IPC: B60L58/10
Abstract: 本申请实施例提供一种车辆电池管理系统及车辆,所述车辆电池管理系统包括:动力电池管理系统,与设置在车辆内的车辆电池电连接,用于对所述车辆电池充电;电池电压检测模块,与所述车辆电池电连接,用于检测所述车辆电池的当前电压;充电信号控制模块,与所述电池电压检测模块和所述动力电池管理系统电连接,用于根据所述电池电压检测模块检测得到的所述当前电压生成一充电启动信号或一充电终止信号,并通过总线向所述动力电池管理系统发送所述充电启动信号或充电终止信号;本申请能够对电池进行智能充电,提升电池使用寿命和车辆驾乘体验。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN212275958U
公开(公告)日:2021-01-01
申请号:CN202022088413.3
申请日:2020-09-22
Applicant: 国网冀北电力有限公司计量中心 , 国家电网有限公司 , 洛阳高新三L电子产品有限公司
IPC: G01R35/04
Abstract: 本实用新型公开了一种流水线计量检定装置的表位隔离变压器带载误差检测系统,包括:第一单相标准表连接流水线计量检定装置的脉冲输出接口及电压电流接口,第二单相标准表安装在流水线计量检定装置的表位,无线数据传输模块与第一单相标准表及第二单相标准表通信连接,数据分析模块与无线数据传输模块通信连接;在进行表位隔离变压器带载后的误差检测时,由流水线计量检定装置升起电压及电流并发出脉冲信号,第一单相标准表及第二单相标准表分别检测流水线计量检定装置及表位隔离变压器带载后的脉冲数据,无线数据传输模块接收检测到的脉冲数据并发送至数据分析模块,由数据分析模块根据所述脉冲数据得到表位隔离变压器带载后的误差检测结果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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公开(公告)号:CN214507537U
公开(公告)日:2021-10-26
申请号:CN202022769177.1
申请日:2020-11-26
Applicant: 国网冀北电力有限公司计量中心 , 东南大学 , 国家电网有限公司 , 国网冀北电力有限公司张家口供电公司
Abstract: 本实用新型公开了一种电力需求响应智能终端设备,包括:壳体,端子排,背板;其中,端子排设置在壳体上,用于连接外部设备;背板设置在壳体内部,背板上采用接插件连接方式安装板件,板件包括:电源板,控制板,交采板,用采板,通讯板,遥信板;控制板用于向板件发出控制指令;交采板用于根据控制板发出的控制指令采集外部设备的多路电压信号和电流信号;通讯板用于根据控制板发出的控制指令采集用户用能数据,将用户用能数据发送至上级主站,接收上级主站发送的负荷控制指令,将负荷控制指令发送至用户负荷控制器;遥信板用于根据控制板发出的控制指令采集无源开入信号。本实用新型可以实现电力需求响应,简化接线过程,满足不同情况下的使用。
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公开(公告)号:CN213337905U
公开(公告)日:2021-06-01
申请号:CN202022152722.2
申请日:2020-09-27
Applicant: 国网冀北电力有限公司计量中心 , 国家电网有限公司 , 中国电力科学研究院有限公司 , 威胜集团有限公司
Inventor: 李文文 , 袁瑞铭 , 周丽霞 , 刘科学 , 易忠林 , 谭志强 , 郭皎 , 刘岩 , 姜振宇 , 徐占河 , 刘影 , 鲁观娜 , 张保亮 , 郑思达 , 高帅 , 王亚超 , 张晓丽 , 刘丽 , 卢炽华
IPC: G01R31/28
Abstract: 本实用新型提供了一种芯片试验装置及系统,涉及半导体技术领域,该装置包括:电源插装电路板、器件测试电路板、器件插装电路板和连接件;电源插装电路板与器件测试电路板通信连接;器件测试电路板通过多个连接件分别和多个器件插装电路板通信连接;器件插装电路板用于与待测芯片通信连接,获取待测芯片的测试参数,并将测试参数通过连接件发送至器件测试电路板;器件测试电路板用于接收测试参数,并将测试参数发送至测试模块,以使测试模块生成芯片测试结果。本实用新型可以通过多个器件插装电路板同时连接多个待测试芯片,获取芯片试验过程的测试参数,操作简单,测试效率高,适用于多种产品的芯片测试。
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