一种适用于P类相量测量单元PMU的同步相量测量方法

    公开(公告)号:CN105723229A

    公开(公告)日:2016-06-29

    申请号:CN201480002741.1

    申请日:2014-04-18

    Inventor: 毕天姝 刘灏

    Abstract: 本发明实施例公开了一种适用于P类相量测量单元PMU的同步相量测量方法,所述测量方法基于动态相量的数学模型,将低通数字滤波器与离散傅里叶算法DFT相结合,消除动态相量输入带来的频谱泄露,并得到消除频谱泄漏后的初始相量;利用二阶泰勒级数对动态相量输入进行拟合,并根据量测误差与二阶泰勒级数系数的线性关系对所述初始相量进行校准,得到精确的动态量测相量。该测量方法无论是输入静态信号还是动态信号,都可以准确快速地进行相量量测,其相量量测精度不仅满足标准要求,并普遍高出标准一个数量级。

    一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统

    公开(公告)号:CN105572616A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201510946018.5

    申请日:2015-12-16

    CPC classification number: G01R35/00

    Abstract: 本发明公开了一种基于高精度校准器的相量测量单元PMU静动态测试系统,包括信号源,用于根据不同的测试用例,生成相应的测试信号;高精度校准器,用于对信号源生成的测试信号进行采样,并采用非线性回归同步相量算法对采样的测试信号进行计算,得到参考相量;量测相量提取模块,用于采用计算机设备作为相量测量单元PMU主站,向待测PMU发出离线召唤命令,提取并分析得到量测相量信息;分析比较模块,用于将量测相量信息与所述高精度校准器生成的参考相量进行比较,实现对所述待测PMU的静动态测试。从而解决基于高精度信号源的PMU测试系统对信号源要求高、无法对PMU进行现场测试的问题,实现了全面系统的PMU静态及动态测试。

    一种基于非线性回归的同步相量量测方法

    公开(公告)号:CN105548808A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510959032.9

    申请日:2015-12-18

    CPC classification number: Y02E60/728 Y04S10/265 G01R31/088

    Abstract: 本发明公开了一种基于非线性回归的同步相量量测方法,该方法针对不同的PMU测试信号建立相应的信号模型,所建立的信号模型的每个建模参数均具有明确的物理意义;利用非线性回归法对所输入的PMU测试信号进行同步相量量测。该方法采用Levenberg-Marquardt法对拟合参数增量进行更新:迭代初期,当初始值远离解时,迭代步长较大,以便尽快接近真解;迭代后期,当参数迭代值接近解时,迭代步长较小,以便精确高效求解。利用该方法无论是输入静态信号还是动态信号,都可以准确地进行相量量测,其相量量测精度能够满足高精度校准器对同步相量量测算法的要求。

    芯片化同步测量装置
    104.
    外观设计

    公开(公告)号:CN308545360S

    公开(公告)日:2024-03-29

    申请号:CN202330577981.6

    申请日:2023-09-06

    Designer: 刘灏 毕天姝

    Abstract: 1.本外观设计产品的名称:芯片化同步测量装置。
    2.本外观设计产品的用途:用于对电力系统电气量的基频相量与宽频分量进行实时同步测量。
    3.本外观设计产品的设计要点:在于形状、图案与色彩的结合。
    4.最能表明设计要点的图片或照片:立体图。
    5.请求保护的外观设计包含色彩。

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