-
公开(公告)号：CN106841393A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611212839.7
申请日：2016-12-25
Applicant: 大连理工大学
CPC classification number: G01N29/11 , G01N29/0672 , G01N2291/015 , G01N2291/0234 , G01N2291/0289
Abstract: 建立铸造奥氏体不锈钢中铁素体晶粒特征与超声信号特征之间关系的方法，属于超声检测技术领域。该方法包括以下步骤：利用宏观金相法选取铸造奥氏体不锈钢的柱状奥氏体晶粒区，沿垂直于柱状奥氏体晶粒生长方向切取薄板试样；基于电子背散射衍射法测定试样表面的奥氏体晶粒晶体取向分布，并采用超声脉冲回波法测定对应区域的A扫描信号；对上述区域沿厚度方向解剖，基于电子背散射衍射法测定奥氏体和铁素体晶粒的晶体取向分布；选取沿板厚方向为单个奥氏体晶粒的位置，提取铁素体晶粒特征并建立其与声衰减系数之间的关系。该方法避免了奥氏体晶粒弹性各向异性的影响，为微小缺陷和损伤的检测提供支持。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103148815B
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：CN201310036748.2
申请日：2013-01-30
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B17/02
Abstract: 一种基于声压反射系数自相关函数的薄层厚度超声检测方法，属于无损检测技术领域。该方法使用超声脉冲回波技术和声压反射系数自相关信号处理方法进行薄层厚度测量。首先使用超声脉冲回波系统采集一个包含薄层上表面和下表面的反射回波信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号。然后分别对采集到的信号进行快速傅里叶变换，求出薄层声压反射系数自相关函数。最后在自相关函数中读取各极大值对应的频率，并结合材料声速计算得到薄层厚度。本方法克服了传统的超声干涉测厚法必须能够读取信号频谱中两个谐振频率才能准确获得薄层厚度的局限性，具有测量精度高、可操作性强、设备成本低、适应范围广等优点。
-
公开(公告)号：CN104034287A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410245535.5
申请日：2014-06-05
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B17/02
Abstract: 一种弹性各向异性金属基体热障涂层厚度超声测量方法，属于超声无损检测技术领域。它采用一套包括超声波C扫描装置、水浸点聚焦探头、数字示波器以及计算机共同构成的超声脉冲回波法C扫描测厚系统，分别对被检测试样与参考试样进行测量。针对弹性各向异性金属基体热障涂层试样超声回波信号，借助定义的修正系数Δγ，提取出其中所有Δγ>0的超声数据，并计算其归一化功率谱Gm(f)，读取Gm(f)有效频带内的谐振频率fn，结合已知的热障涂层纵波声速c，带入声压反射系数功率谱谐振频率表达式即可实现弹性各向异性金属基体热障涂层厚度测量。该方法有效克服了由于基体弹性各向异性引起的超声波形畸变以及主频偏移等现象导致热障涂层超声测厚结果偏差较大的问题。
-
公开(公告)号：CN102608212B
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201210049984.3
申请日：2012-02-29
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 一种基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗的方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。该方法使用脉冲超声水浸回波系统，采集来自水与薄层上表面以及水与薄层下表面的界面反射回波组成的混叠信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号，对两个信号分别进行FFT，通过进一步处理得到声压反射系数功率谱。然后对功率谱进行低通滤波和带通滤波，求出功率谱表达式中的相关系数，并将这些系数代入方程求得薄层的声阻抗。本方法可以在不知道薄层任何参数的情况下同时求得其声阻抗，克服了现有技术需要已知薄层的部分参量才能得到其他参量的不足。
-
公开(公告)号：CN103245311A
公开(公告)日：2013-08-14
申请号：CN201310174143.X
申请日：2013-05-11
Applicant: 大连理工大学
IPC: G01B17/02
Abstract: 一种用超声检测多层吸波涂层的测厚装置及其测厚方法，属于超声无损检测与评价技术领域。该装置采用包括一种带宽0～35MHz的便携式数字超声探伤仪、延迟块探头或局部水浸的超声延迟线探头、涂层声速标定试样和集成了测厚算法的计算机构成的测厚装置。该装置根据超声回波特点选择△t或fn计算涂层厚度。通过将自相关方法与声压反射系数功率谱方法相结合迭代加窗分析，选择一个准确的fn实现涂层测厚。该测厚装置及其测厚方法克服了现有超声测厚技术对探伤仪和探头频带要求高、数据截取需要人工干预以及只适用于单层涂层等局限性。所用设备体积小、重量轻，适于多种基体、多层涂层外涂层的现场测厚，具有较大的经济效益和社会效益。
-
公开(公告)号：CN102608212A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210049984.3
申请日：2012-02-29
Applicant: 大连理工大学
Abstract: 一种基于声压反射系数功率谱测量薄层声阻抗和声衰减的方法，属于材料超声无损检测与评价技术领域。该方法使用脉冲超声水浸回波系统，采集来自水与薄层上表面以及水与薄层下表面的界面反射回波组成的混叠信号，再采集一个标准试块的上表面回波信号，对两个信号分别进行FFT，通过进一步处理得到声压反射系数功率谱。然后对功率谱进行低通滤波和带通滤波，求出功率谱表达式中的相关系数，并将这些系数代入方程求得薄层的声阻抗和声衰减。本方法可以在不知道薄层任何参数的情况下同时求得其声阻抗和声衰减，克服了现有技术需要已知薄层的部分参量才能得到其他参量的不足。
-
-
-
-
-
Search Results
96
records
(took 0.068 seconds)
