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公开(公告)号：CN115032128B
公开(公告)日：2022-12-20
申请号：CN202210955994.7
申请日：2022-08-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种同步测量多角度动态光散射的粒径分布测量装置，属于光学测量领域。本发明利用球面反射镜、多角度选择器和面阵光电倍增管的组合，同时测量颗粒群更多散射角度的动态光散射信号，其中，样品池中心颗粒群发生散射，散射光经球面反射镜反射后，变为向内腔开口方向传播的平行光束；多角度选择器通过与不同微面元对应的多个小孔，实现多个角度的出射光选择；面阵光电倍增管一次性获取多个角度的动态光散射信息，避免了使用多个探测器探测不同角度动态光散射信息时存在的探测偏差问题，测量稳定性好，结合粒径分布反演算法，测量速度快、精度高，可同步测量粒径从纳米到微米分布较宽的颗粒群。
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公开(公告)号：CN115127965A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202211038130.5
申请日：2022-08-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开了一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统，属于光散射微小颗粒检测领域。包括：根据若干散射角度测量到的未知粒径分布的待测样品的光强自相关函数，通过累积量法计算在若干散射角度下待测样品的平均粒径，接着将该平均粒径输入至采用最优平滑因子训练好的混杂颗粒系粒径分布反演回归网络，最终得到待测样品的粒径分布曲线，所述最优平滑因子根据标定的动态光散射系统的噪声水平，评价并比较混杂颗粒系粒径分布反演回归网络反演效果得到。该方法适用于球形颗粒系、非球形颗粒系及存在多种不同性质与形态颗粒物的混杂颗粒系，且粒径分布反演速度快、效果好、非接触，可满足实际检测环境下的多种需求。
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公开(公告)号：CN115032128A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210955994.7
申请日：2022-08-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G01N15/02
Abstract: 本发明公开了一种同步测量多角度动态光散射的粒径分布测量装置，属于光学测量领域。本发明利用球面反射镜、多角度选择器和面阵光电倍增管的组合，同时测量颗粒群更多散射角度的动态光散射信号，其中，样品池中心颗粒群发生散射，散射光经球面反射镜反射后，变为向内腔开口方向传播的平行光束；多角度选择器通过与不同微面元对应的多个小孔，实现多个角度的出射光选择；面阵光电倍增管一次性获取多个角度的动态光散射信息，避免了使用多个探测器探测不同角度动态光散射信息时存在的探测偏差问题，测量稳定性好，结合粒径分布反演算法，测量速度快、精度高，可同步测量粒径从纳米到微米分布较宽的颗粒群。
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公开(公告)号：CN114910019A
公开(公告)日：2022-08-16
申请号：CN202210544597.0
申请日：2022-05-19
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种实现动态调节扫描光束直径的样品检测装置及方法，属于样品检测领域，方法为：将低相干光分为第一路子光束和第二路子光束；将第一路子光束经反射形成参考光；将第二路子光束转变为线偏振光；评估样品当前扫描检测位置所需的扫描精细程度，在反射式空间光调制器上加载相位图，在扫描过程中动态改变光束的波前相位并反射扫描光束；对样品面扫描，并利用扫描透镜压缩扫描光束，经样品表面反射形成反射光；反射光与参考光发生干涉，由光谱仪获取的频域干涉信息经计算机提取出样品各点高度信息；对样品待检测区域中各个扫描位置的高度信息进行整合，获取整个样品的表面形貌。本发明大大提高了对不同区域扫描精度不同的样品的检测效率。
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公开(公告)号：CN110751624B
公开(公告)日：2022-08-09
申请号：CN201910850100.6
申请日：2019-09-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/60 , G06T9/00 , G06T9/20 , G06F30/398
Abstract: 本发明公开一种提高PCB检查精度的方法及系统，所述方法包括：读取Gerber文件，检查Gerber文件是否是RS‑274X格式；根据Gerber文件语法规则，查找各种Gerber文件代码，获得Gerber文件图像的参数信息；根据Gerber文件图像的参数信息，采用插值补点的算法计算绘制XLD图像所需参数；根据所计算得到的参数使用Halcon软件绘制XLD图像。同时本发明还实现了一种转换RS‑274X格式的Gerber文件为XLD文件的系统。本发明技术方案在应用于AOI上时，不会产生由于位图像素本身的大小带来的精度上的误差，具有精度高，简单高效的特点，提高了PCB检查的精准率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114758236A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210384412.4
申请日：2022-04-13
Applicant: 华中科技大学
IPC: G06V20/10 , G06V10/26 , G06V10/20 , G06V10/44 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06K9/62 , G06N3/04 , G06N3/08
Abstract: 本发明提供了一种非特定形状物体识别、定位与机械手抓取系统及方法，属于机械手抓取领域，系统包括多自由度机械手、机器视觉成像模块和中央处理模块，多自由度机械手与中央处理模块相连接，机器视觉成像模块与中央处理模块相连接，以将采集的图像数据传输给中央处理模块，中央处理模块对图像数据进行处理，提取目标轮廓，并根据目标轮廓结合标定后的物空间尺寸与像空间像素数量映射关系实现对每个目标的外形尺寸的测量，还用于采用深度神经网络模型依据目标外形尺寸对目标进行分类，以控制多自由度机械手对目标进行识别、定位和拾取。本发明还提供了对目标进行识别、定位和拾取的方法。本发明方法和系统适应性强，能对目标进行灵活拾取。
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公开(公告)号：CN114757903A
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202210362277.3
申请日：2022-04-07
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种光器件芯片封装金线缺陷检测方法，属于机器视觉缺陷检测领域，本发明方法包括如下步骤：S1采集光器件芯片上具有封装金线的区域块图像，通过模板匹配检测获得金线的焊点，S2对封装金线的区域块图像依据灰度均值和灰度方差进行基于焊点寻迹的金线线区域提取，获得金线线区域，S3对提取的金线线区域进行灰度分析以及特征计算，完成金线缺陷检测。本发明检测方法的检测速度快，鲁棒性强。
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公开(公告)号：CN112729135B
公开(公告)日：2022-04-26
申请号：CN202011517746.1
申请日：2020-12-21
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种具有主动光学防抖功能的面阵扫频测距/厚的装置，属于测距/厚领域，包括第一、二二向色镜、分束器、远心镜头、相机、光谱仪、采集控制单元和可运动反射器件，第一二向色镜的透射光方向上设置分束器，分束器反射光方向上设置有载物台，分束器透射光方向上设置可运动反射器件，分束器具有四个端口，第一端口和第三端口位于相对的两个边上，第一端口正对第一二向色镜，第二端口正对载物台，第三端口正对可运动反射器件，第四端口的方向上设置有第二二向色镜，第二二向色镜透射光方向上设置远心镜头，远心镜头连接有相机，第二二向色镜反射光方向上设置光谱仪，光谱仪连通采集控制单元。本发明装置结构简单、测量快速、测量精度高。
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公开(公告)号：CN114354649A
公开(公告)日：2022-04-15
申请号：CN202111634362.2
申请日：2021-12-29
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明提供了一种CMP垫的金属微粒缺陷的检测装置及方法，属于CMP垫内部缺陷的检测领域，方法包括：对CMP垫进行背向照明，使用机器视觉成像系统对CMP垫进行扫描成像；对扫描图像进行灰度值的底帽变换；对传统OSTU法获取预设前景灰度百分比进行改造，计算灰度阈值；对预处理后的扫描图像进行自动阈值分割；将分割完成之后的区域进行连通；将连通域中存在缺陷的特征区域进行图像坐标提取；采用张正友角点标定法，对机器视觉系统图像坐标系与X射线成像系统的图像坐标系进行坐标转换获取X射线成像的图像坐标；采用X射线成像方法，对金属微粒缺陷成像核实。本发明检测范围、检测精度和检测效率均得到了极大的提升。
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公开(公告)号：CN112731346A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011518546.8
申请日：2020-12-21
Applicant: 华中科技大学
Abstract: 本发明公开一种具有主动光学防抖功能的显微型面阵扫频测距/厚的装置，涉及激光扫频测距领域，包括第一、二二向色镜、分束器、显微镜、相机、光谱仪、采集控制单元和可运动反射器件，第一二向色镜的透射光方向上设分束器，分束器反射光方向上设载物台，载物台和分束器之间设显微镜，分束器有四个端口，第一端口正对第一二向色镜，第二端口正对显微镜，第三端口正对可运动反射器件，第四端口正对第二二向色镜，第二二向色镜透射光方向上设置相机，相机与采集控制单元相连，第二二向色镜反射光方向上设光谱仪，光谱仪连通采集控制单元，采集控制单元具有采集相机和光谱仪的信号以及显示数据的功能。本发明装置结构简单、测量快速、测量精度高。
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