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公开(公告)号：CN103354899B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201280008662.2
申请日：2012-02-13
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: G01N21/3563 , G01N21/3559 , G01N21/359 , G01N21/86 , G01N21/8901 , G01N33/346 , G01N33/442 , G01N2021/8663 , G01N2021/869 , G01N2021/8917 , G01N2201/0697 , G01N2201/128 , G01N2201/13
Abstract: 辐射散射是对近红外（NIR）测量的不确定性的一个主要贡献者。通过使用NIR光谱法和渡越时间技术的组合以选择作为移动样品目标内的给定的平均自由程的结果的光子，从而实现对于NIR传感器的增强的吸收测量的精确度。通过测量作为路径长度的函数的吸收或者通过对可归因于样品内的NIR辐射的过度散射的信号开窗口，该技术提供更精确且更通用的校正的计算。NIR传感器采用短的或超短的激光脉冲以产生被指引至移动样品的NIR，并且随着时间的过去检测出现的辐射。开窗口有效地截断了没有贡献的测量。
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公开(公告)号：CN104254759A
公开(公告)日：2014-12-31
申请号：CN201380022580.8
申请日：2013-04-10
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: G01B21/042 , G01B7/107 , G01B11/0691 , G01N33/346
Abstract: 一种方法包括使用具有第一和第二传感器模块（202-204，302-304）的卡尺厚度传感器（200，300）来测量（508）材料片材（108）的卡尺厚度。所述方法还包括基于第一传感器模块中的第一传感器组件和第二传感器模块中的第二传感器组件之间的横向位移来调整（514）卡尺厚度测量值以生成所校正的卡尺厚度测量值。调整卡尺厚度测量值可以包括应用基于所测量的横向位移来调整卡尺厚度测量值的校正函数。所述校正函数可以通过在第一和第二传感器组件之间重复地创造不对准，使用卡尺厚度传感器测量已知距离，并识别已知距离的测量值和已知距离之间的误差来识别。
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公开(公告)号：CN104254759B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201380022580.8
申请日：2013-04-10
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
Abstract: 一种方法包括使用具有第一和第二传感器模块（202‑204，302‑304）的卡尺厚度传感器（200，300）来测量（508）材料片材（108）的卡尺厚度。所述方法还包括基于第一传感器模块中的第一传感器组件和第二传感器模块中的第二传感器组件之间的横向位移来调整（514）卡尺厚度测量值以生成所校正的卡尺厚度测量值。调整卡尺厚度测量值可以包括应用基于所测量的横向位移来调整卡尺厚度测量值的校正函数。所述校正函数可以通过在第一和第二传感器组件之间重复地创造不对准，使用卡尺厚度传感器测量已知距离，并识别已知距离的测量值和已知距离之间的误差来识别。
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公开(公告)号：CN103354899A
公开(公告)日：2013-10-16
申请号：CN201280008662.2
申请日：2012-02-13
Applicant: 霍尼韦尔阿斯卡公司
CPC classification number: G01N21/3563 , G01N21/3559 , G01N21/359 , G01N21/86 , G01N21/8901 , G01N33/346 , G01N33/442 , G01N2021/8663 , G01N2021/869 , G01N2021/8917 , G01N2201/0697 , G01N2201/128 , G01N2201/13
Abstract: 辐射散射是对近红外（NIR）测量的不确定性的一个主要贡献者。通过使用NIR光谱法和渡越时间技术的组合以选择作为移动样品目标内的给定的平均自由程的结果的光子，从而实现对于NIR传感器的增强的吸收测量的精确度。通过测量作为路径长度的函数的吸收或者通过对可归因于样品内的NIR辐射的过度散射的信号开窗口，该技术提供更精确且更通用的校正的计算。NIR传感器采用短的或超短的激光脉冲以产生被指引至移动样品的NIR，并且随着时间的过去检测出现的辐射。开窗口有效地截断了没有贡献的测量。
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