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公开(公告)号：CN1961399A
公开(公告)日：2007-05-09
申请号：CN200580017307.1
申请日：2005-04-14
Applicant: 通用电气公司
IPC: H01J35/14
CPC classification number: H01J35/06 , H01J35/14 , H01J35/16 , H01J35/30 , H01J2235/068
Abstract: 一种用于形成x射线的系统和方法。一个典型系统包括靶体和带有多个电子源的电子发射子系统。所述多个电子源均被配置成在靶体上产生多个离散斑点，x射线从所述斑点发射。另一典型系统包括：靶体；带有多个电子源的电子发射子系统，每个电子源产生靶体上的多个斑点中的至少一个；以及瞬变射束保护子系统，用于保护所述电子发射子系统免于瞬变射束电流、来自靶体的材料发射物、以及电场瞬变。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1837795B
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN200610067378.9
申请日：2006-03-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2018 , H01L27/14658
Abstract: 一种探测器组件(10)，其包括与像素阵列(14)直接相连的射线转化层(12)，所述射线转化层用于接收穿过物体的射线。所述像素阵列用于接收由“射线转化”层直接发射的射线或来自于可选的中间光生成层(16)的相应的光信号中的一种，并且该像素阵列进一步用于生成与所述物体相应的图像。
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公开(公告)号：CN101627409A
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：CN200880007264.2
申请日：2008-02-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/5258
Abstract: 提供了一种用于处理图像的方法。该方法包括识别由一组投影数据产生的二维或三维图像中的一个或多个轮廓或表面。基于充分限定一个或多个轮廓或表面的那些数据点的识别来区别地处理该组投影数据。由该组经处理的投影数据来重构增强的图像。
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公开(公告)号：CN102539456A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110437105.X
申请日：2011-12-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N23/02 , A61B6/4028 , G01N23/044 , G01N2223/419 , H01J2235/068
Abstract: 本发明名称为用于分层照相检验的方法和设备。在一些实施例中，一种成像系统(10)包括：多焦点X射线源(14)，其配置成生成至少两个X射线束(26)并将每个生成的X射线束(26)以不同角度逐个向视场投射，而基本不旋转或平移多焦点X射线源(14)。系统(10)还可包括与多焦点X射线源(14)相对的检测器(20)，它与视场相关并配置成接收从每个不同角度投射的X射线束(26)的至少一部分，以及产生对应于每个不同角度的、视场的至少两个X射线投影图像，其中每个X射线投影图像配置成互相相对移动并相加，以重构视场的平面。
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公开(公告)号：CN1837795A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200610067378.9
申请日：2006-03-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2018 , H01L27/14658
Abstract: 一种探测器组件(10)，其包括与像素阵列(14)直接相连的射线转化层(12)，所述射线转化层用于接收穿过物体的射线。所述像素阵列用于接收由“射线转化”层直接发射的射线或来自于可选的中间光生成层(16)的相应的光信号中的一种，并且该像素阵列进一步用于生成与所述物体相应的图像。
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公开(公告)号：CN101627409B
公开(公告)日：2013-07-24
申请号：CN200880007264.2
申请日：2008-02-20
Applicant: 通用电气公司
IPC: G06T11/00
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/5258
Abstract: 本发明提供了一种用于处理图像的方法。该方法包括识别由一组投影数据产生的二维或三维图像中的一个或多个轮廓或表面。基于充分限定一个或多个轮廓或表面的那些数据点的识别来区别地处理该组投影数据。由该组经处理的投影数据来重构增强的图像。
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