光学边折测量仪
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101029819B

    公开(公告)日:2010-09-29

    申请号:CN200610064202.8

    申请日:2006-11-15

    CPC classification number: G01B11/2513

    Abstract: 一种投射装置,将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射,并数字化二维快照。这些光轴不平行,并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照,并分析它以便为表面建立数学模型,供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。

    光学边折测量仪
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101029819A

    公开(公告)日:2007-09-05

    申请号:CN200610064202.8

    申请日:2006-11-15

    CPC classification number: G01B11/2513

    Abstract: 一种投射装置,将结构化光图案沿着第一光轴投射到表面。附于该投射装置的观察器接收该结构化光图案从该表面沿着第二光轴的反射,并数字化二维快照。这些光轴不平行,并且它们在该投射装置和该观察器的公共视场中相遇。连接到该观察器的计算机接收数字化快照,并分析它以便为表面建立数学模型,供显示和探查。该投射装置和附连的观察器设计成具有手柄和触发快照的触发按钮的手持单元。位于该单元上的引导端部在两个光轴旁边延伸至公共视场以定位该手持单元。

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