一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法

    公开(公告)号:CN106017344B

    公开(公告)日:2018-08-24

    申请号:CN201610556037.1

    申请日:2016-07-14

    Abstract: 本发明提供一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法,包括:采集多张被测物体受载过程中被测物体测量平面的图像,选定测量图像,获得每张测量图像的拍摄时刻;计算测量平面内各测点的位移场和速度场;以每个测点为顶点将首张测量图像上测点所在图像区域离散成无重叠且无间隙的四边形像素块,进而剖分成两个无重叠且无间隙的三角形像素块;计算每个四边形像素块中的两个三角形像素块的几何参数和每个顶点的速度;计算每个四边形像素块中两个三角形像素块的线应变率;获得匀称化线应变率。本发明可以探测受载物体变形破坏过程中应变率值较高区域的时空分布规律,测量得到的呈带状的线应变率场较为光滑、连续,提高了应变率场的测量精度。

    一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法

    公开(公告)号:CN106017344A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610556037.1

    申请日:2016-07-14

    CPC classification number: G01B11/16

    Abstract: 本发明提供一种物体平面内匀称化线应变率场的光学测量方法,包括:采集多张被测物体受载过程中被测物体测量平面的图像,选定测量图像,获得每张测量图像的拍摄时刻;计算测量平面内各测点的位移场和速度场;以每个测点为顶点将首张测量图像上测点所在图像区域离散成无重叠且无间隙的四边形像素块,进而剖分成两个无重叠且无间隙的三角形像素块;计算每个四边形像素块中的两个三角形像素块的几何参数和每个顶点的速度;计算每个四边形像素块中两个三角形像素块的线应变率;获得匀称化线应变率。本发明可以探测受载物体变形破坏过程中应变率值较高区域的时空分布规律,测量得到的呈带状的线应变率场较为光滑、连续,提高了应变率场的测量精度。

    一种变形数字图案的复原方法

    公开(公告)号:CN105654444B

    公开(公告)日:2018-07-13

    申请号:CN201610057417.0

    申请日:2016-01-27

    Abstract: 一种变形数字图案的复原方法,首先确定最终状态图案的最终标志线和最终标志点、原始状态图案的原始标志线和原始标志点;其次在最终状态图案中设置规则分布点,根据最终标志点和原始标志点,获得最终状态图案规则分布点的位移场和应变场;再次确定最终状态图案中最终子区内像素中心点在原始状态图案中对应坐标或者原始状态图案中原始子区内像素中心点在最终状态图案中的对应坐标,复原原始状态图案;最后确定最终状态图案中最终子区内像素中心点在k阶段状态图案中的对应坐标或者原始状态图案中原始子区内像素中心点在k阶段状态图案中的对应坐标,复原k阶段状态图案。该方法复原变形数字图案的精度高,效率高,不受载荷类型的限制。

    一种变形数字图案的复原方法

    公开(公告)号:CN105654444A

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201610057417.0

    申请日:2016-01-27

    CPC classification number: G06T5/006

    Abstract: 一种变形数字图案的复原方法,首先确定最终状态图案的最终标志线和最终标志点、原始状态图案的原始标志线和原始标志点;其次在最终状态图案中设置规则分布点,根据最终标志点和原始标志点,获得最终状态图案规则分布点的位移场和应变场;再次确定最终状态图案中最终子区内像素中心点在原始状态图案中对应坐标或者原始状态图案中原始子区内像素中心点在最终状态图案中的对应坐标,复原原始状态图案;最后确定最终状态图案中最终子区内像素中心点在k阶段状态图案中的对应坐标或者原始状态图案中原始子区内像素中心点在k阶段状态图案中的对应坐标,复原k阶段状态图案。该方法复原变形数字图案的精度高,效率高,不受载荷类型的限制。

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