公开(公告)号：CN116526129A

公开(公告)日：2023-08-01

申请号：CN202310278345.2

申请日：2023-03-21

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 宋立伟 ,  赵怡敏 ,  张文静 ,  张逸群 ,  李申 ,  胡乃岗 ,  李萌 ,  蔡建国

IPC: H01Q1/38 ,  H01Q1/12 ,  H01Q15/14 ,  H01Q13/08

Abstract: 本发明公开了薄膜微带反射阵单元，依次紧贴包括金属贴片层、聚酰亚胺薄膜层、空气层和金属地板支撑层；本发明以薄膜作为介质对微带反射阵天线单元进行设计，结构简单、便于折叠且质量轻，可以满足大口径星载天线折展的需求；考虑到构成薄膜反射阵列天线后，在折叠过程中存在折痕的情况，本发明还公开了规避折痕的微带反射阵布局方法，分析了正方形、三角形、圆形栅格下的布局情况，然后根据折痕位置计算得出不同布局下反射阵单元与折痕相交的单元个数，通过旋转或者去除单元的方式进行折痕的规避，通过调节天线单元的方式，首次提出了一种规避折痕影响的薄膜微带反射阵单元布局方案。

公开(公告)号：CN118607138A

公开(公告)日：2024-09-06

申请号：CN202410655088.4

申请日：2024-05-24

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 宋立伟 ,  赵怡敏 ,  张文静 ,  朱丙翔 ,  张逸群 ,  李申 ,  胡乃岗 ,  李萌 ,  蔡建国

IPC: G06F30/18 ,  G06F30/23 ,  H01Q21/00

Abstract: 本发明公开了一种折痕对薄膜反射阵天线单元的影响分析及布局设计方法，涉及空间可展开天线技术领域，解决了现有技术中薄膜展开后留有的折痕变形对天线单元特性的影响问题；该方法包括：获取带折痕的薄膜天线的初始天线阵列，并确定初始天线阵列的天线单元；采用有限元方法对带折痕的薄膜天线进行展开特性分析，得到分析结果；利用其确定不同载荷下薄膜展开特性的建模结果；再建立带折痕的天线单元电磁分析模型，并对天线单元电磁分析模型进行折痕分析，得到相位误差量；利用相位误差量对初始天线阵列的相位进行误差修正，得到修正后的天线阵列；该方法实现了通过分析折痕影响关系，为后续电性能较优的反射阵天线设计提供理论依据和指导。

公开(公告)号：CN117240386A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202311148918.6

申请日：2023-09-06

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 宋立伟 ,  梅嘉敏 ,  张斌 ,  张文静 ,  赵怡敏

IPC: H04B17/391 ,  G06N7/01

Abstract: 本发明公开了发射阵列馈电幅相随机误差对传输效率影响的分析方法，通过分析，微波无线传能系统传输效率与系统传输参数矩阵[Srt]、无误差时的激励幅度[It]、输入功率Pt0、接收功率Pr0以及幅相随机误差的标准差δ、σ有关，具体关系为：本发明方法从概率统计的角度，结合微波网络理论，在假设误差模型为高斯分布的前提下，建立微波无线传能系统中发射阵列馈电幅相随机误差存在时的传输效率数学模型，该模型可以对这类具有随机性、难以预先严格确定及补偿的误差对传输效率的影响进行分析。

公开(公告)号：CN116663481A

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN202310768782.2

申请日：2023-06-27

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 宋立伟 ,  张斌 ,  梅嘉敏 ,  赵怡敏 ,  张文静

IPC: G06F30/392 ,  G06F30/394 ,  G06F30/398 ,  G06N3/126

Abstract: 本发明公开了低剖面整流天线的直流合成走线设计方法，具体按照以下步骤实施：步骤1、选取低剖面天线作为直流合成走线布局的基础天线；步骤2、进行网格化处理；步骤3、对步骤2网格化后直流合成走线的可行域进行数字化处理；步骤4、计算初始种群中个体的适应度值；步骤5、采用遗传算法判断是否达到终止条件；步骤6、平滑处理布局方案。本发明通过对于低剖面整流天线的直流合成走线布局设计，从而提高天线性能和整个微波无线供电系统的性能表现。