公开(公告)号：CN1055778C

公开(公告)日：2000-08-23

申请号：CN96112275.7

申请日：1996-07-14

Applicant: 美格电子工业株式会社

Inventor： 高桥康三

IPC: H01H3/20

Abstract: 推压开关组合的检测开关有大为减小的厚度，其包括一检测杆，具有转轴、检测件和弹性托；一U形弹性接触件，容放在弹性托凹口内；有相对上和下壁的盒，上壁有开孔而下壁至少设有第一和第二固定触点；其中转轴可转动地支承在盒内检测件和弹性托受弹性接触件弹性力驱使朝上壁转动直至由接靠的上壁所阻止，且检测件通过上壁开孔往上伸出，并且弹性接触件的第二触点端相对于第二固定触点往上保持间隔。

公开(公告)号：CN1152179A

公开(公告)日：1997-06-18

申请号：CN96112275.7

申请日：1996-07-14

Applicant: 美格电子工业株式会社

Inventor： 高桥康三

IPC: H01H3/20

Abstract: 推压开关组合的检测开关有大为减小的厚度，其包括一检测杆，具有转轴、检测件和弹性托；一U形弹性接触件，容放在弹性托凹口内；有相对上和下壁的盒，上壁有开孔而下壁至少设有第一和第二固定触点；其中转轴可转动地支承在盒内检测件和弹性托受弹性接触件弹性力驱使朝上臂转动直至由接靠的上壁所阻止，且检测件通过上壁开孔往上伸出，并且弹性接触件的第二触点端相对于第二固定触点往上保持间隔。