公开(公告)号：CN111161264B

公开(公告)日：2022-10-28

申请号：CN201911039883.6

申请日：2019-10-29

Applicant: 福州大学

Inventor： 林志贤 ,  郭太良 ,  王永城

IPC: G06T7/10 ,  G06T7/13 ,  G06T7/136 ,  G06T7/70

Abstract: 本发明涉及一种对含有缺陷的TFT电路图像的分割方法，包括以下步骤：S1、采集受到缺陷影响的TFT‑LCD电路图像；S2、对采集到的电路图像进行区域提取以及图像校正预处理操作；S3、计算预处理后图像的边缘图像的垂直响应，通过垂直响应的自相关估计函数确定电路重复周期；S4、通过周期灰度均值确定一组电路纵贯线的位置，再通过电路重复周期求出其他电路纵贯线的位置；S5、设计六边形角模版，在纵贯线左右边界处计算图像块与各个角模版的相关度，以此确定TFT电路硅岛位置；S6、根据电路纵贯线位置及周期，以及电路硅岛位置，共同确定电路的其他部件位置。该方法有利于提高TFT电路位置分割的准确性。

公开(公告)号：CN111161264A

公开(公告)日：2020-05-15

申请号：CN201911039883.6

申请日：2019-10-29

Applicant: 福州大学

Inventor： 林志贤 ,  郭太良 ,  王永城

IPC: G06T7/10 ,  G06T7/13 ,  G06T7/136 ,  G06T7/70

Abstract: 本发明涉及一种对含有缺陷的TFT电路图像的分割方法，包括以下步骤：S1、采集受到缺陷影响的TFT-LCD电路图像；S2、对采集到的电路图像进行区域提取以及图像校正预处理操作；S3、计算预处理后图像的边缘图像的垂直响应，通过垂直响应的自相关估计函数确定电路重复周期；S4、通过周期灰度均值确定一组电路纵贯线的位置，再通过电路重复周期求出其他电路纵贯线的位置；S5、设计六边形角模版，在纵贯线左右边界处计算图像块与各个角模版的相关度，以此确定TFT电路硅岛位置；S6、根据电路纵贯线位置及周期，以及电路硅岛位置，共同确定电路的其他部件位置。该方法有利于提高TFT电路位置分割的准确性。