公开(公告)号：CN114061904A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202011133463.7

申请日：2020-10-21

Applicant: 瞻博网络公司

Inventor： S·W·凯克

IPC: G01M11/00 ,  G01M11/04 ,  G01R31/28

Abstract: 混合自动化测试设备(ATE)系统可以同时测试被测器件(例如光收发器)的电气和光学部件。被测器件可以是在不同通道上传输不同数据通道的多通道光收发器。混合ATE系统可以包括在一个光学测试通道选择器中的一个或多个光开关和光源，以选择性地测试和校准被测器件的每个通道的每个光学和电气部件。

公开(公告)号：CN114056884A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202110726340.2

申请日：2021-06-29

Applicant: 瞻博网络公司

Inventor： S·W·凯克 ,  R·马科克西亚 ,  S·麦克戈万

IPC: B65G43/08 ,  B65G47/91 ,  G01J1/42

Abstract: 本公开的实施例涉及使用取放机器对光学组件进行基于光学的放置。描述了一种光学取放机器，其包括自校准光学控制器，用于使用主动对准来对光学组件进行基于误差反馈的光学放置。光学控制器可以包括环回模式，用以生成由光源生成并由光学控制器内的光电检测器测量的光的基线值。光学控制器还可以包括主动对准模式，在该模式中，光从取放机器被耦合到在其上放置组件的光学器件。所放置的组件的光学耦合可以对照基线值而被评估，以确保光学耦合在规格内(例如，在预先指定的范围内)。

公开(公告)号：CN114070395A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202011134972.1

申请日：2020-10-21

Applicant: 瞻博网络公司

Inventor： S·W·凯克 ,  C·C·马帕盖伊 ,  M·斯滕霍尔姆

IPC: H04B10/079 ,  H04B10/40 ,  H04Q11/00

Abstract: 本申请的各实施例涉及用于使用自动化测试设备的混合测试的光互连。混合光电自动化测试设备(ATE)系统可以实现可以与被测设备(DUT)接口连接的工件压力机组装件和在测试、分析和校准期间保持DUT的负载板。测试手可以致动以将DUT定位在插槽上，并且将一个或多个对准特征对准。工件压力机组装件可以包括两个光接口，这两个光接口光被耦合，从而使得光可以被提供给DUT的背对负载板的一侧，由此使得ATE系统能够执行DUT的同时的光测试和电测试。

公开(公告)号：CN114062798A

公开(公告)日：2022-02-18

申请号：CN202011133483.4

申请日：2020-10-21

Applicant: 瞻博网络公司

Inventor： P·米斯林斯基 ,  C·巴纳德 ,  S·W·凯克 ,  R·马科克西亚 ,  T·J·施密特

IPC: G01R31/00 ,  G01M11/00

Abstract: 一种混合光电自动测试设备(ATE)系统可以实现光测试组件，该光测试组件包括与光电被测器件的电接口和光接口。光组件可以包括插槽，ATE系统将该器件放置在该插槽上以连接电和光连接。光连接可以将光通过插槽和光组件而耦合到一个或多个测试设备，以对诸如高速光收发器等光学器件执行高效测试。

公开(公告)号：CN113740977A

公开(公告)日：2021-12-03

申请号：CN202010608986.6

申请日：2020-06-29

Applicant: 瞻博网络公司

Inventor： C·巴纳德 ,  S·W·凯克 ,  C·C·马帕盖伊 ,  G·R·索斯诺夫斯基 ,  M·斯滕霍尔姆

IPC: G02B6/42 ,  G01K13/00

Abstract: 本公开的实施例涉及使用混合自动化测试装备的光电设备。一种光电设备可以在部件校准期间针对设备的温度实现基于反馈的控制环路。光电设备可以实现压缩空气，以在校准期间改变设备温度。另外，设备的非有源部件可以被提供有电流，以与所提供的压缩空气协同地改变设备的温度。附加校准温度可以通过激活和去激活设备中的诸如光源、光学放大器和调制器的附加非有源部件而被实现。