公开(公告)号：CN109521028B

公开(公告)日：2021-06-25

申请号：CN201811474246.7

申请日：2018-12-04

Applicant: 燕山大学

Inventor： 张玉燕 ,  李永保 ,  温银堂 ,  张芝威 ,  潘钊 ,  孙娜 ,  郭晓帅 ,  李晨 ,  徐占悦

IPC: G01N21/90

Abstract: 本发明公开了一种金属三维多层点阵结构内部宏观缺陷检测方法，通过工业CT对多层金属点阵结构材料样件进行扫描得到样件内部的二维层析图像，从得到的二维层析图像中截取平行于点阵单元横向排布方向的横向断层截面二维灰度图，再通过三个横向相邻固定尺寸像素点集合灰度值总和之间的差值分布来判别缺陷的存在，且理论分析给出了相应的判别标准和依据。实验验证结果表明，与人工标记的缺陷进行对比，本发明对金属三维多层点阵结构样件的内部典型断层缺陷的识别率达到98.5％。

公开(公告)号：CN109521028A

公开(公告)日：2019-03-26

申请号：CN201811474246.7

申请日：2018-12-04

Applicant: 燕山大学

Inventor： 张玉燕 ,  李永保 ,  温银堂 ,  张芝威 ,  潘钊 ,  孙娜 ,  郭晓帅 ,  李晨 ,  徐占悦

IPC: G01N21/90

Abstract: 本发明公开了一种金属三维多层点阵结构内部宏观缺陷检测方法，通过工业CT对多层金属点阵结构材料样件进行扫描得到样件内部的二维层析图像，从得到的二维层析图像中截取平行于点阵单元横向排布方向的横向断层截面二维灰度图，再通过三个横向相邻固定尺寸像素点集合灰度值总和之间的差值分布来判别缺陷的存在，且理论分析给出了相应的判别标准和依据。实验验证结果表明，与人工标记的缺陷进行对比，本发明对金属三维多层点阵结构样件的内部典型断层缺陷的识别率达到98.5％。