制备纯硅涂层的方法以及基底涂层复合结构、晶圆片

    公开(公告)号:CN117832063A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410014454.8

    申请日:2024-01-03

    Abstract: 本发明涉及半导体加工技术领域,提供了一种制备纯硅涂层的方法以及基底涂层复合结构、晶圆片,通过在基底表面形成二维半导体材料层;将二维半导体材料层表面浸入具有硅源的液体环境,利用所述二维半导体材料层吸附硅源,使得在富硅的环境下在所述二维半导体材料层表面形成纯硅涂层。二维半导体材料的引入一方面可以填补基底表面的凹坑,另一方面可以显著降低纯硅涂层表面的孪晶数量,提升涂层质量。

    一种碳化硅生长进料装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117210934A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311297702.6

    申请日:2023-10-08

    Abstract: 本发明涉及碳化硅生长技术领域,公开了一种碳化硅生长进料装置,通过手套箱的方式将初始原料混合进料,然后将其在碳化硅单晶生长装置的内部通过高温反应生成所需要的碳化硅原粉,再进行后续的长晶过程。由于生长碳化硅原粉和生长碳化硅单晶的整个过程是在手套箱和碳化硅单晶生长装置的内部完成,碳化硅原粉不会接触外部空气,因此所得到的碳化硅原粉内部不含有空气中的杂质成分,具备较高的纯度,从而可以得到高纯度的碳化硅单晶,且缺陷较少。

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