公开(公告)号：CN110440699A

公开(公告)日：2019-11-12

申请号：CN201910845019.9

申请日：2019-09-07

Applicant: 济南大学

Inventor： 张莉 ,  荣振宇 ,  代丛岭

IPC: G01B11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于F-P标准具的微小伸长量的测量方法，其特征是包括以下步骤：在测量金属棒的线膨胀系数中，被测金属棒一端固定，另一端与所述工作台的升降台连接，在加热过程中随着金属棒长度发生微小的伸长会带动所述升降台同步上升，在拉伸法测金属丝的杨氏模量中，被测金属丝一端固定，另一端与所述升降台连接。该方法利用光杠杆将微小伸长量转化为F-P标准具干涉光场中干涉条纹半径的变化，通过测量干涉条纹的间距进而实现对微小伸长量的测量。本发明涉及测量设备领域，具体地讲，涉及一种基于F-P标准具的微小伸长量的测量方法。本发明测量过程更加简便，测量结果的精确度更高。

公开(公告)号：CN110440699B

公开(公告)日：2020-12-18

申请号：CN201910845019.9

申请日：2019-09-07

Applicant: 济南大学

Inventor： 张莉 ,  荣振宇 ,  代丛岭

IPC: G01B11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于F‑P标准具的微小伸长量的测量方法，其特征是包括以下步骤：在测量金属棒的线膨胀系数中，被测金属棒一端固定，另一端与所述工作台的升降台连接，在加热过程中随着金属棒长度发生微小的伸长会带动所述升降台同步上升，在拉伸法测金属丝的杨氏模量中，被测金属丝一端固定，另一端与所述升降台连接。该方法利用光杠杆将微小伸长量转化为F‑P标准具干涉光场中干涉条纹半径的变化，通过测量干涉条纹的间距进而实现对微小伸长量的测量。本发明涉及测量设备领域，具体地讲，涉及一种基于F‑P标准具的微小伸长量的测量方法。本发明测量过程更加简便，测量结果的精确度更高。