-
公开(公告)号:CN104076324A
公开(公告)日:2014-10-01
申请号:CN201410325063.4
申请日:2014-07-09
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G01S3/00
CPC classification number: G01S3/74
Abstract: 本发明公开一种未知信源数高精度波达方向估计方法,先通过设定K个不同的时间平滑间隔去对天线阵列所接收数据进行时间平滑处理,以构建K个空时自相关矩阵;再计算最终的组合空时自相关矩阵和波达方向估计的空间谱函数;后通过逐步改变搜索方向对空间谱函数进行谱峰搜索,由此估计出信源个数及波达方向。本发明不需要预先估计信源数便能估计出信号波达方向,而且不需要对接收信号的自相关矩阵进行特征分解,因此该方法可靠性强,计算量小,易于硬件实现,使得波达方向估计应用在实际系统中成为可能。
-
公开(公告)号:CN103645660B
公开(公告)日:2016-02-24
申请号:CN201310636452.4
申请日:2013-11-27
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明公开一种激光打标卡数据采集及标刻图像验证装置及方法,主要由激光数据采集模块、振镜数据采集模块、可编程逻辑门阵列主控模块、通信模块和上位机组成;激光数据采集模块的输入端连接激光打标卡的激光器,振镜数据采集模块的输入端连接激光打标卡的振镜,激光数据采集模块和振镜数据采集模块的输出端连接可编程逻辑门阵列主控模块的输入端,可编程逻辑门阵列主控模块的输出端经通信模块和上位机。本发明能够迅速捕获激光打标卡传输至激光打标台的振镜、激光等装置的数据,并能捕获数据在上位机中模拟实际标刻图案,精准验证激光打标图案。
-
公开(公告)号:CN103731189A
公开(公告)日:2014-04-16
申请号:CN201410008145.6
申请日:2014-01-08
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种共形天线阵动态子阵划分方法及波达方向估计方法,先确定k个初始聚类中心;根据各阵元与这些聚类中心的相似度(距离),分别将他们分配给与其最相似的子阵聚类(聚类中心所代表的)中。然后再计算每个新聚类的聚类中心(该聚类中心所有对象的均值)。不断重复这个过程直到标准测度函数开始收敛为止。本方法解决了天线载体在DOA估计中会发生转动的问题。
-
公开(公告)号:CN103731189B
公开(公告)日:2016-10-12
申请号:CN201410008145.6
申请日:2014-01-08
Applicant: 桂林电子科技大学
Abstract: 本发明公开一种共形天线阵动态子阵划分方法及波达方向估计方法,先确定k个初始聚类中心;根据各阵元与这些聚类中心的相似度(距离),分别将他们分配给与其最相似的子阵聚类(聚类中心所代表的)中。然后再计算每个新聚类的聚类中心(该聚类中心所有对象的均值)。不断重复这个过程直到标准测度函数开始收敛为止。本方法解决了天线载体在DOA估计中会发生转动的问题。
-
公开(公告)号:CN103645660A
公开(公告)日:2014-03-19
申请号:CN201310636452.4
申请日:2013-11-27
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明公开一种激光打标卡数据采集及标刻图像验证装置及方法,主要由激光数据采集模块、振镜数据采集模块、可编程逻辑门阵列主控模块、通信模块和上位机组成;激光数据采集模块的输入端连接激光打标卡的激光器,振镜数据采集模块的输入端连接激光打标卡的振镜,激光数据采集模块和振镜数据采集模块的输出端连接可编程逻辑门阵列主控模块的输入端,可编程逻辑门阵列主控模块的输出端经通信模块和上位机。本发明能够迅速捕获激光打标卡传输至激光打标台的振镜、激光等装置的数据,并能捕获数据在上位机中模拟实际标刻图案,精准验证激光打标图案。
-
公开(公告)号:CN203658772U
公开(公告)日:2014-06-18
申请号:CN201320759572.9
申请日:2013-11-27
Applicant: 桂林电子科技大学
IPC: G05B19/042
Abstract: 本实用新型公开一种激光打标卡数据采集及标刻图像验证装置,主要由激光数据采集模块、振镜数据采集模块、可编程逻辑门阵列主控模块、通信模块和上位机组成;激光数据采集模块的输入端连接激光打标卡的激光器,振镜数据采集模块的输入端连接激光打标卡的振镜,激光数据采集模块和振镜数据采集模块的输出端连接可编程逻辑门阵列主控模块的输入端,可编程逻辑门阵列主控模块的输出端经通信模块和上位机。本实用新型能够迅速捕获激光打标卡传输至激光打标台的振镜、激光等装置的数据,并能捕获数据在上位机中模拟实际标刻图案,精准验证激光打标图案。
-
-
-
-
-